Publications HAL de PRAVOSSOUDOVITCH

2014

Article dans une revue

titre
Use of CCD to Detect Terrestrial Cosmic Rays at Ground Level: Altitude vs. Underground Experiments, Modeling and Numerical Monte Carlo Simulation
auteur
Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Philippe Cocquerez, Jean-Luc Autran, Antonio Litterio, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, 61 (6), pp.3380-3388. ⟨10.1109/TNS.2014.2365038⟩
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01234455/file/06940340.pdf BibTex
titre
Evaluating a Radiation Monitor for Mixed-Field Environments based on SRAM Technology
auteur
Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Julien Mekki, Markus Brugger, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
article
Journal of Instrumentation, IOP Publishing, 2014, 9 (5), pp.#C05052. ⟨10.1088/1748-0221/9/05/C05052⟩
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01234448/file/Tsiligiannis_2014_J._Inst._9_C05052.pdf BibTex
titre
Multiple Cell Upset Classification in Commercial SRAMs
auteur
Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Helmut Puchner, Christopher Frost, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, 61 (4), pp.1747-1754. ⟨10.1109/TNS.2014.2313742⟩
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titre
An SRAM Based Monitor for Mixed-Field Radiation Environments
auteur
Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Julien Mekki, Markus Brugger, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, 61 (4), pp.1663-1670. ⟨10.1109/TNS.2014.2299733⟩
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titre
A New Hybrid Fault-Tolerant Architecture for Digital CMOS Circuits and Systems
auteur
Ahn Duc Tran, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Arnaud Virazel, Serge Pravossoudovitch, Hans-Joachim Wunderlich
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2014, 30 (4), pp.401-413. ⟨10.1007/s10836-014-5459-3⟩
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BibTex
titre
Intra-Cell Defects Diagnosis
auteur
Zhenzhou Sun, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Etienne Auvray
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2014, 30 (5), pp.541-555. ⟨10.1007/s10836-014-5481-5⟩
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01272964/file/Intra.pdf BibTex

Communication dans un congrès

titre
Real-Time Testing of 90nm COTS SRAMs at Concordia Station in Antarctica
auteur
Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Philippe Cocquerez, Jean-Luc Autran, Antonio Litterio, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
article
NSREC: Nuclear and Space Radiation Effects Conference, Jul 2014, Paris, France
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titre
A Delay Probability Metric for Input Pattern Ranking Under Process Variation and Supply Noise
auteur
Anu Asokan, Aida Todri-Sanial, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
ISVLSI: International Symposium on Very Large Scale Integration, Jul 2014, Tampa, FL, United States. pp.226-231, ⟨10.1109/ISVLSI.2014.42⟩
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01248592/file/ISVLSI14.pdf BibTex
titre
Path delay test in the presence of multi-aggressor crosstalk, power supply noise and ground bounce
auteur
Anu Asokan, Aida Todri-Sanial, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
DDECS: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2014, Warsaw, Poland. pp.207-212, ⟨10.1109/DDECS.2014.6868791⟩
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BibTex
titre
Men and women drivers: a study of social representations through prototypical and correspondence analysis
auteur
Béatrice Degraeve, Marie-Axelle Granie, Karyn Pravossoudovitch
article
WIiT Paris 2014: Women's Issues in Transportation, 5th International Conference on Women's Issues in Transportation - Bridging the Gap, Apr 2014, Paris, France. 18p
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01973983/file/doc00030112.pdf BibTex
titre
Measuring the perception of men and women drivers among young adults
auteur
Karyn Pravossoudovitch, Béatrice Degraeve, François Cury, Marie-Axelle Granie, Cécile Martha
article
WIiT Paris 2014: Women's Issues in Transportation, 5th International Conference on Women's Issues in Transportation - Bridging the Gap, Apr 2014, Paris, France. 16p
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01973632/file/doc00030110.pdf BibTex

2013

Communication dans un congrès

titre
On the correlation between Static Noise Margin and Soft Error Rate evaluated for a 40nm SRAM cell
auteur
Ioana Vatajelu, Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
article
DFT: Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, Oct 2013, New York, United States. pp.143-148, ⟨10.1109/DFT.2013.6653597⟩
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BibTex
titre
SEU Monitoring in Mixed-Field Radiation Environments of Particle Accelerators
auteur
Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Julien Mekki, Markus Brugger, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
article
RADECS: Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2013, Oxford, United Kingdom. pp.1-4, ⟨10.1109/RADECS.2013.6937419⟩
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titre
Multiple-Cell-Upsets on a commercial 90nm SRAM in Dynamic Mode
auteur
Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Christopher Frost, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
article
RADECS: Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2013, Oxford, United Kingdom. pp.1-4, ⟨10.1109/RADECS.2013.6937429⟩
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00839062/file/abstract_3_Tsiligiannis_2013-04-08_21_56_59_MCU_RADECS2013_final.pdf BibTex
titre
Temperature Impact on the Neutron SER of a Commercial 90nm SRAM
auteur
Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Christopher Frost, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
article
NSREC: Nuclear and Space Radiation Effects Conference, Jul 2013, San Francisco, Ca, United States. pp.1-4
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BibTex
titre
SRAM Soft Error Rate Evaluation Under Atmospheric Neutron Radiation and PVT variations
auteur
Georgios Tsiligiannis, Ioana Vatajelu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
article
IOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2013, Chania, Crete, Greece. pp.145-150, ⟨10.1109/IOLTS.2013.6604066⟩
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BibTex
titre
Evaluating An SEU Monitor For Mixed-Field Radiation Environments
auteur
Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Julien Mekki, Markus Brugger, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
article
iWoRID: International Workshop on Radiation Imaging Detectors, SOLEIL Synchrotron, Jun 2013, Paris, France
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titre
Worst-Case Power Supply Noise and Temperature Distribution Analysis for 3D PDNs with Multiple Clock Domains
auteur
Aida Todri-Sanial, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
NEWCAS: New Circuits and Systems, Jun 2013, Paris, France. ⟨10.1109/NEWCAS.2013.6573628⟩
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BibTex
titre
Characterization of an SRAM Based Particle Detector For Mixed-Field Radiation Environments
auteur
Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Julien Mekki, Markus Brugger, Jean-Roch Vaillé, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
article
IWASI: International Workshop on Advances in Sensors and Interfaces, Jun 2013, Bari, Italy. pp.75-80, ⟨10.1109/IWASI.2013.6576070⟩
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Poster

titre
Investigating Multiple-Cell-Upsets on a 90mn SRAM
auteur
Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel
article
Colloque GDR SoC-SiP, 2013, Lyon, France. 2013
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2012

Article dans une revue

titre
Impact of Resistive-Bridging Defects in SRAM at Different Technology Nodes
auteur
Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2012, 28 (3), pp.317-329. ⟨10.1007/s10836-012-5291-6⟩
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titre
Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in ATMELtm eFlash Memories
auteur
Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Benoît Godard, Gilles Feste, Laurent Vachez
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2012, 28 (2), pp.215-228
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Communication dans un congrès

titre
Advanced Test Methods for SRAMs
auteur
Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
VTS: VLSI Test Symposium, Apr 2012, Hyatt Maui, HI, United States. pp.300-301, ⟨10.1109/VTS.2012.6231070⟩
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BibTex
titre
Radiation Induced Effects on Electronic Systems and ICs
auteur
Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel
article
SETS: South European Test Seminar, Mar 2012, Sauze d'Oulx, Italy
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BibTex
titre
Robustness Improvement of Digital Circuits A New Hybrid Fault Tolerant Architecture
auteur
Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Hans-Joachim Wunderlich
article
JNRDM'11: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Paris, France
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BibTex
titre
A Hybrid Fault Tolerant Architecture for Robustness Improvement of Digital Circuits
auteur
Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Hans-Joachim Wunderlich
article
GDR SOC-SIP'11 : Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France
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BibTex
titre
Test and Reliability of Magnetic Random Access Memories
auteur
João Azevedo, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch
article
GDR SOC-SIP'11: Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France
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BibTex
titre
Optimized March Test Flow for Detecting Memory Faults in SRAM Devices Under Bit Line Coupling
auteur
Leonardo B. Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
GDR SOC-SIP'11 : Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France
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2011

Communication dans un congrès

titre
Mapping Test Power to Functional Power through Smart X-Filling for LOS Scheme
auteur
Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Mohammad Tehranipoor, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Nisar Ahmed
article
LPonTR'11: IEEE International Workshop on the Impact of Low Power on Test and Reliability, Trondheim, Norway
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BibTex
titre
Error Resilient Infrastructure for Data Transfer in a Distributed Neutron Detector
auteur
Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Miroslav Valka, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
DFT'11: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, Vancouver, Canada. pp.N/A
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BibTex
titre
Failure Analysis and Test Solutions for Low-Power SRAMs
auteur
Leonardo B. Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
ATS: Asian Test Symposium, Nov 2011, New Delhi, India. pp.459-460, ⟨10.1109/ATS.2011.97⟩
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BibTex
titre
A Hybrid Fault Tolerant Architecture for Robustness Improvement of Digital Circuits Parity Prediction Synthesis for Nano-Electronic Gate Designs
auteur
Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Hans-Joachim Wunderlich
article
ATS: Asian Test Symposium, Nov 2011, New Delhi, India. pp.136-141
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BibTex
titre
On Using Address Scrambling for Defect Tolerance in SRAMs
auteur
Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
International test Conference, Sep 2011, Anaheim, CA, United States. pp.1-8, ⟨10.1109/TEST.2011.6139149⟩
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BibTex
titre
On Using Address Scrambling to Implement Defect Tolerance in SRAMs
auteur
Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
ITC'2011: International Test Conference, Sep 2011, Anaheim, CA, United States. pp.N/A
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BibTex
titre
Power Supply Noise and Ground Bounce Aware Pattern Generation for Delay Testing
auteur
Aida Todri-Sanial, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
NEWCAS: International New Circuits and Systems Conference, Jun 2011, Bordeaux, France. pp.73-76, ⟨10.1109/NEWCAS.2011.5981222⟩
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BibTex
titre
Robust Structure for Data Collection and Transfer in a Distributed SRAM Based Neutron Test Bench
auteur
Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
Workshop on Dependability Issues in Deep-Submicron Technologies, Trondheim, Norway
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BibTex
titre
Simultaneous Power and Thermal Integrity Analysis for 3D Integrated Systems
auteur
Aida Todri-Sanial, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
LPonTR'11: IEEE International Workshop on the Impact of Low Power on Test and Reliability, Trondheim, Norway
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BibTex
titre
Variability Analysis of an SRAM Test Chip
auteur
Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
ETS: European Test Symposium, May 2011, Trondheim, Norway
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BibTex
titre
A Functional Power Evaluation Flow for Defining Test Power Limits During At-Speed Delay Testing
auteur
Miroslav Valka, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Eduardo Sanchez, Matteo Sonza Reorda
article
ETS: European Test Symposium, May 2011, Trondheim, Norway. pp.153-158
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BibTex
titre
Optimized March Test Flow for Detecting Memory Faults in SRAM Devices Under Bit Line Coupling
auteur
Leonardo B. Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
DDECS'11: 14th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits ans Systems, Netherlands. pp.353-358
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BibTex
titre
On using a SPICE-like TSTAC™ eFlash model for design and test
auteur
Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Benoît Godard, Gilles Festes, Laurent Vachez
article
DDECS: Design and Diagnostics of Electronic Circuits ans Systems, Apr 2011, Cottbus, Germany. pp.359-370, ⟨10.1109/DDECS.2011.5783111⟩
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BibTex
titre
A Study of Path Delay Variations in the Presence of Uncorrelated Power and Ground Supply Noise
auteur
Aida Todri-Sanial, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
DDECS: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2011, Cottbus, Germany. pp.189-194, ⟨10.1109/DDECS.2011.5783078⟩
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BibTex
titre
Test Relaxation and X-filling to Reduce Peak Power During At-Speed LOS Testing
auteur
Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Mohammad Tehranipoor, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Syed Zahid Ahmed
article
GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France
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BibTex
titre
Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in Flash Memories
auteur
Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch
article
JNRDM'10 : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Montpellier, France
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BibTex
titre
Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash
auteur
Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Benoît Godard, Gilles Festes, Laurent Vachez
article
GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France
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BibTex
titre
Tolérance aux fautes et rendement de fabrication
auteur
Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Hans-Joachim Wunderlich
article
GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France
Accès au bibtex
BibTex
titre
Impact of Resistive-Bridging Defects in SRAM Core-Cell
auteur
Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
DELTA'10: International Symposium on Electronic Design, Test & Applications, Ho Chi Minh, Vietnam. pp.265-270
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BibTex
titre
Detecting NBTI Induced Failures in SRAM Core-Cells
auteur
Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
VTS'10: VLSI Test Symposium, Santa Cruz, CA, United States. pp.75-80
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BibTex
titre
A DfT Solution for Oxide Thickness Varitions in ATMEL eFlash Technology
auteur
Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Benoît Godard, Gilles Feste, Laurent Vachez
article
DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, 2011, Athènes, Greece
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BibTex
titre
Power Reduction Through X-filling of Transition Fault Test Vectors for LOS Testing
auteur
Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Mohammad Tehranipoor, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Nisar Ahmed
article
DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, 2011, Athènes, Greece. ⟨10.1109/DTIS.2011.5941434⟩
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BibTex

2010

Article dans une revue

titre
A Comprehensive Analysis of Transition Fault Coverage and Test Power Dissipation for LOS and LOC Schemes
auteur
Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Mohammad Tehranipoor, Xiaoqing Wen, Nisar Ahmed
article
Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2010, 6 (2), pp.359-374
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BibTex
titre
A Comprehensive Framework for Logic Diagnosis of Arbitrary Defects
auteur
Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
IEEE Transactions on Computers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, 59 (3), pp.289-300
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BibTex
titre
SoC Yield Improvement - Using TMR Architectures for Manufacturing Defect Tolerance in Logic Cores
auteur
Julien Vial, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch
article
International Journal On Advances in Systems and Measurements, IARIA, 2010, 3 (1/2), pp.1-10
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BibTex

Communication dans un congrès

titre
An Exact and Efficient Critical Path Tracing Algorithm
auteur
Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Paolo Bernardi, Matteo Sonza Reorda
article
DELTA'10: Electronic Design, Test and Application, Vietnam. pp.164-169, ⟨10.1109/DELTA.2010.35⟩
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BibTex
titre
A Statistical Simulation Method for Reliability Analysis of SRAM Core-Cells
auteur
Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
DAC: Design Automation Conference, Jun 2010, Anaheim, United States. pp.853-856
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BibTex
titre
Power Reduction Through X-filling of Transition Fault Test Vectors for LOS Testing
auteur
Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Xiaoqing Wen
article
LPonTR: 
Impact of Low-Power design on Test and Reliability, May 2010, Prague, Czech Republic
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BibTex
titre
A Two-Layer SPICE Model of the ATMEL TSTAC eFlash Memory Technology for Defect Injection and Faulty Behavior Prediction
auteur
Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Benoît Godard, Gilles Festes, Laurent Vachez
article
ETS: European Test Symposium, May 2010, Prague, Czech Republic. pp.81-86
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00493204/file/ets10_05_2.pdf BibTex
titre
Setting Test Conditions for Improving SRAM Reliability
auteur
Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
ETS: European Test Symposium, May 2010, Prague, Czech Republic. pp.257-262
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00492741/file/ets10_16_17.pdf BibTex
titre
Analysis of Resistive-Bridging Defects in SRAM Core-Cells: a Comparative Study from 90nm down to 40nm Technology Nodes
auteur
Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
ETS: European Test Symposium, May 2010, Prague, Czech Republic. pp.132-137
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00493236/file/ets10_09_1.pdf BibTex
titre
Analysis of Power Consumption and Transition Fault Coverage for LOS and LOC Testing Schemes
auteur
Wu Fangmei, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Junxia Ma, Wei Zhao, Mohammad Tehranipoor, Xiaoqing Wen
article
DDECS'10: 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2010, Vienna, Austria. pp.376-381
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BibTex
titre
A Memory Fault Simulator for Radiation-Induced Effects in SRAMs
auteur
Paolo Rech, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Luigi Dilillo
article
ATS: Asian Test Symposium, 2010, Shanghai, China. pp.100-105
Accès au bibtex
BibTex
titre
A Comprehensive System-on-Chip Logic Diagnosis
auteur
Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Olivia Riewer
article
ATS: Asian Test Symposium, 2010, Shanghai, China. pp.237-242
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BibTex
titre
Setting Test Conditions for Detecting Faults Induced by Random Dopant Fluctuation in SRAM Core-Cells
auteur
Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
VARI: Workshop on CMOS Variability, 2010, Montpellier, France
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BibTex

Autre publication

titre
TOETS CT302 - Programme CEE CATRENE - Summary Technical Report 2S-2009 - Rapport Technique de Fin d'année
auteur
Patrick Girard, Florence Azaïs, Serge Bernard, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Giorgio Di Natale, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
article
2010
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BibTex

Poster

titre
Parity Prediction Synthesis for Nano-Electronic Gate Designs
auteur
Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Hans-Joachim Wunderlich
article
ITC'2010: International Test Conference, Nov 2010, Austin, Texas, United States. pp.N/A, 2010
Accès au bibtex
BibTex
titre
Is Test Power Reduction Through X-Filling Good Enough?
auteur
Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Mohammad Tehranipoor, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Nisar Ahmed
article
ITC'2010: International Test Conference, Nov 2010, Austin, Texas, United States. 2010
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BibTex

2009

Article dans une revue

titre
Is TMR Suitable for Yield Improvement ?
auteur
Julien Vial, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch
article
IET Computers & Digital Techniques, Institution of Engineering and Technology, 2009, 3 (6), pp.581-592
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titre
Electrical Simulation Model of the 2T-FLOTOX Core-Cell for Defect Injection and Faulty Behaviour Prediction in eFlash
auteur
Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2009, N/A, pp.127-144
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titre
Analysis of Resistive-Open Defects in SRAM Sense Amplifiers
auteur
Alexandre Ney, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE, 2009, 17 (10), pp.1556-1559
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Communication dans un congrès

titre
Trade-off Between Power Dissipation and Delay Fault Coverage For LOS and LOC Testing Schemes
auteur
Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Xiaoqing Wen
article
Impact of Low-Power Design on Test and Reliability, Spain
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titre
Delay Fault Diagnosis in Sequential Circuits
auteur
Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Olivia Riewer, Isabelle Izaute
article
ATS: Asian Test Symposium, Nov 2009, Taichung, Taiwan. pp.355-360
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titre
A New Design-for-Test Technique for SRAM Core-Cell Stability Faults
auteur
Alexandre Ney, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan, Vincent Gouin
article
DATE: Design, Automation and Test in Europe, Apr 2009, Nice, France. pp.1344-1348, ⟨10.1109/DATE.2009.5090873⟩
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00371374/file/05090873.pdf BibTex
titre
A Fault-Simulation-Based Approach for Logic Diagnosis
auteur
Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Luigi Dilillo
article
DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, Apr 2009, Cairo, Egypt. pp.216-221
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titre
An Efficient Fault Simulation Technique for Transition Faults in Non-Scan Sequential Circuits
auteur
Alberto Bosio, Paolo Bernardi, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Matteo Sonza Reorda
article
DDECS'09: 12th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Systems, pp.50-55
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titre
Comprehensive Bridging Fault Diagnosis based on the SLAT Paradigm
auteur
Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Arnaud Virazel, Serge Pravossoudovitch, Laroussi Bouzaida, Isabelle Izaute
article
DDECS'09: 12th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Systems, pp.264-269
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titre
A Case Study on Logic Diagnosis for System-on-Chip
auteur
Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Laroussi Bouzaida, Isabelle Izaute
article
ISQED'09: IEEE 10th International Symposium on Quality Electronic Design, Mar 2009, San Jose, CA, USA, pp.253-260
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titre
Using TMR Architectures for SoC Yield Improvement
auteur
Julien Vial, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch
article
VALID'09: The First International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle, 2009, Porto, Portugal. pp.155-160
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Autre publication

titre
Rapport Technique de fin de Contrat NanoTEST 2A702, Programme CEE MEDEA+
auteur
Patrick Girard, Serge Bernard, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
article
2009
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Ouvrage (y compris édition critique et traduction)

titre
Advanced Test Methods for SRAMs - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
auteur
Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
Springer, 171 p., 2009, 978-1-4419-0937-4
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Poster

titre
Trade-off Between Power Dissipation and Delay Fault Coverage for LOS and LOC Testing Schemes
auteur
Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Xiaoqing Wen
article
GDR SOC SIP, France. 2009
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titre
SRAM Core-cell Quality Metrics
auteur
Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
GDR SOC SIP, France. 2009
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titre
Test des Mémoires FLASH NAND
auteur
Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch
article
Colloque GDR SoC-SiP, France. 2009
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titre
A Logic Diagnosis Approach for Sequential Circuits
auteur
Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Laroussi Bouzaida, Isabelle Izaute
article
IEEE European Test Symposium'09, Ph. D. Forum, Spain. 2009
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titre
SoC Yield Improvement for Future Nanoscale Technologies
auteur
Julien Vial, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch
article
European Test Symposium. PhD Forum, Spain. 2009
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titre
NAND Flash Testing: A Preliminary Study on Actual Defects
auteur
Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Benoît Godard
article
ITC: International Test Conference, Nov 2009, Austin, TX, United States. 2009, ⟨10.1109/TEST.2009.5355898⟩
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titre
Analysis of Resistive-Bridging Defects in SRAM Core-Cell: Impact within the Core-Cell and in the Memory Array
auteur
Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
article
ETS: European Test Symposium, May 2009, Sevilla, Spain. 14th IEEE European Test Symposium, 2009
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2008

Article dans une revue

titre
New March Elements for Address Decoder Open and Resistive Open Fault Detection in SRAM Memories
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan
article
Journal of Integrated Circuits and Systems, Brazilian Microelectronics Society, 2008, 3 (1), pp.7-12
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titre
A Selective Scan Slice Encoding Technique for Test Data Volume and Test Power Reduction
auteur
Nabil Badereddine, Zhanglei Wang, Patrick Girard, Krishnendu Chakrabarty, Arnaud Virazel, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2008, 24 (4), pp.353-364. ⟨10.1007/s10836-007-5053-z⟩
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Communication dans un congrès

titre
Analyse des capacités de test de générateurs intégrés produisant des vecteurs adjacents
auteur
Arnaud Virazel, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch
article
Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, France. pp.88-91
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titre
Case Study on Logic Diagnosis for Industrial Circuits
auteur
Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Laroussi Bouzaida, Isabelle Izaute
article
GDR SOC-SIP: System-On-Chip & System-In-Package, France
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titre
Améliorer le rendement grâce aux structures tolérantes aux fautes
auteur
Julien Vial, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
Journées des Doctorants de l'Ecole Doctorale I2S, France
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titre
Utilisation de structures tolérantes aux fautes pour augmenter le rendement
auteur
Julien Vial, Christian Landrault, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, France
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titre
Tolérer Plus pour Fabriquer Plus
auteur
Julien Vial, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
Colloque GDR SoC-SiP, France
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titre
A History-Based Technique for Faults Diagnosis in SRAMs
auteur
Alexandre Ney, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
Colloque GDR SoC-SiP, France
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titre
A History-Based Diagnosis Technique for Static and Dynamic Faults in SRAMs
auteur
Alexandre Ney, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
ITC'2008: International Test Conference, Oct 2008, Santa Clara, CA, United States. pp.1-10, ⟨10.1109/TEST.2008.4700555⟩
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titre
Using TMR Architectures for Yield Improvement
auteur
Julien Vial, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
DFT'08: 23rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Oct 2008, pp.007-015
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titre
Yield Improvement, Fault-Tolerance to the Rescue?
auteur
Julien Vial, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
IOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2008, Rhodes, Greece. pp.165-170, ⟨10.1109/IOLTS.2008.10⟩
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titre
An SRAM Design-for-Diagnosis Solution Based on Write Driver Voltage Sensing
auteur
Alexandre Ney, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan, Vincent Gouin
article
VTS'08: VLSI Test Symposium, May 2008, San Diego, CA, USA, pp.89-94
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titre
Impact of Technology Scaling on Defects and Parameter Deviations in Embedded SRAMs
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan, Vincent Gouin
article
VLSI Test Symposium, Apr 2008, San Diego, California, United States. pp.336
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titre
SoC Symbolic Simulation: A Case Study on Delay Fault Testing
auteur
Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Paolo Bernardi
article
DDECS'08: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2008, Bratislava, Slovakia. pp.320-325
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titre
Test Power: A Big Issue in Large SOC Design
auteur
Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch
article
IEEE International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, Christchurch, New Zeland, pp.447-449
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titre
A Signature-based Approach for Diagnosis of Dynamic Faults in SRAMs
auteur
Alexandre Ney, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, Mar 2008, Tunis, Tunisia. pp.001-006, ⟨10.1109/DTIS.2008.4540243⟩
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00324143/file/DTIS08-94.pdf BibTex
titre
A Design-for-Diagnosis Technique for SRAM Write Drivers
auteur
Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan, Vincent Gouin
article
DATE: Design, Automation and Test in Europe, Mar 2008, Munich, Germany. pp.1480-1485, ⟨10.1109/DATE.2008.4484883⟩
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00341796/file/04484883.pdf BibTex
titre
Improved Diagnosis Resolution without Physical Information
auteur
Alberto Bosio, Alexandre Rousset, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel
article
DELTA'08: International Symposium on Electronic Design, Test & Applications, Jan 2008, pp.210-215
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Poster

titre
SoC Yield Improvement: Redundant Architectures to the Rescue
auteur
Julien Vial, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
ITC'2008: International Test Conference, Oct 2008, Santa Clara, CA, United States. IEEE, pp.7, 2008
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Rapport

titre
Contrat Nano TEST 2A702, Programme CEE MEDEA (Rapport Technique de fin d'année)
auteur
Patrick Girard, Serge Bernard, Alberto Bosio, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
article
08026, 2008
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titre
Contrat Nano TEST 2A702, Programme CEE MEDEA (Rapport Intermédiaire)
auteur
Patrick Girard, Serge Bernard, Alberto Bosio, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
article
08027, 2008
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2007

Article dans une revue

titre
Analysis and Test of Resistive-Open Defects in SRAM Pre-Charge Circuits
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2007, 23 (3), pp.435-444
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Communication dans un congrès

titre
A Concurrent Approach for Testing Address Decoder Faults in eFlash Memories
auteur
Olivier Ginez, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Jean-Michel Daga
article
ITC'07: International Test Conference, paper 3.2
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titre
Test des Mémoires Flash Embarquées : Analyse de la perturbation entre cellules FloTOx voisines durant une phase de programmation
auteur
Olivier Ginez, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Jean-Michel Daga
article
Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, France
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titre
Fast Bridging Fault Diagnosis using Logic Information
auteur
Alexandre Rousset, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
ATS: Asian Test Symposium, Oct 2007, Beijing, China. pp.33-38
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titre
Influence of Threshold Voltage Deviations on 90nm SRAM Core-Cell Behavior
auteur
Magali Bastian Hage-Hassan, V. Gouin, Patrick Girard, Christian Landrault, Alexandre Ney, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
ATS: Asian Test Symposium, Oct 2007, Beijing, China. pp.501-504, ⟨10.1109/ATS.2007.121⟩
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titre
Embedded Flash Testing
auteur
Olivier Ginez, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Jean-Michel Daga
article
Colloque du GDR SoC-SiP, Jun 2007, Paris, France
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titre
Test et testabilité de structures numériques tolérantes aux fautes
auteur
Julien Vial, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
Colloque du GDR SoC-SiP, Jun 2007, Paris, France
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titre
Méthode de diagnostic unifiée pour circuits intégrés numériques
auteur
Alexandre Rousset, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
Colloque du GDR SoC-SiP, Jun 2007, Paris, France
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BibTex
titre
Resistive-Open Defect Influences in SRAM I/O Circuitry
auteur
Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
Colloque du GDR SoC-SiP, Jun 2007, Paris, France
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BibTex
titre
DERRIC: A Tool for Unified Logic Diagnosis
auteur
Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Alexandre Rousset, Arnaud Virazel
article
ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. pp.13-18, ⟨10.1109/ETS.2007.16⟩
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titre
Dynamic Two-Cell Incorrect Read Fault due to Resistive-Open Defects in the Sense Amplifiers of SRAMs
auteur
Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. pp.97-104, ⟨10.1109/ETS.2007.19⟩
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BibTex
titre
Electrical Simulation Model of the 2T-FLOTOX Core-Cell for Defect Injection and Faulty Behavior Prediction in eFlash Memories
auteur
Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. pp.77-82, ⟨10.1109/ETS.2007.20⟩
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BibTex
titre
Retention and Reliability Problems in Embedded Flash Memories: Analysis and Test of Defective 2T-FLOTOX Tunnel Window
auteur
Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
VTS'07: 25th IEEE VLSI Test Symposium, May 2007, Berkeley, CA (USA), pp.47-52
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titre
Un-Restored Destructive Write Faults due to Resistive-Open Defects in the Write Driver of SRAMs
auteur
Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
VTS'07: 25th IEEE VLSI Test Symposium, May 2007, Berkeley, CA (USA), pp.361-366
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BibTex
titre
Slow Write Driver Faults in 65nm SRAM Technology: Analysis and March Test Solution
auteur
Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
DATE: Design, Automation and Test in Europe, Apr 2007, Nice, France. pp.528-533, ⟨10.1109/DATE.2007.364647⟩
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00187037/file/virazel.pdf BibTex
titre
A Mixed Approach for Unified Logic Diagnosis
auteur
Alexandre Rousset, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
DDECS'07: IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2007, Krakow, Poland, pp.239-242
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Chapitre d'ouvrage

titre
Scan Cell Reordering for Peak Power Reduction during Scan Test Cycles
auteur
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault
article
VLSI-Soc: From Systems to Silicon, pp.267-281, 2007, 978-0-387-73661-7
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00194261/file/VLSIsocbook07_fin.pdf BibTex

Autre publication

titre
Contrat NanoTEST 2A702 - Programme CEE MEDEA - Rapport Technique intermédiaire
auteur
Patrick Girard, Serge Bernard, Alberto Bosio, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
article
2007
Accès au bibtex
BibTex
titre
Contrat NanoTEST 2A702 - Programme CEE MEDEA - Rapport Technique de fin d'année
auteur
Patrick Girard, Serge Bernard, Alberto Bosio, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
article
2007
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2006

Article dans une revue

titre
ADOFs and Resistive-ADOFs in SRAM Address Decoders: Test Conditions and March Solutions
auteur
Patrick Girard, Luigi Dilillo, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan, Simone Borri
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2006, 22 (3), pp.287-296. ⟨10.1007/s10836-006-7761-1⟩
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BibTex
titre
An Efficient BIST Architecture for Delay Faults in the Logic Cells of Symmetrical SRAM-Based FPGAs
auteur
Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Olivier Héron, Michel Renovell
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2006, 22 (2), pp.161-172
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BibTex
titre
A Gated Clock Scheme for Low Power Testing of Logic Cores
auteur
Christian Landrault, Yannick Bonhomme, Arnaud Virazel, Patrick Girard, Loïs Guiller, Serge Pravossoudovitch
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2006, 22 (1), pp.89-99. ⟨10.1007/s10836-006-6259-1⟩
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Communication dans un congrès

titre
Low Power Testing
auteur
Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
WRTLT'06: 7th Workshop on RTL and High Level Testing, Nov 2006, Fukuoka, pp.4
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BibTex
titre
Diagnostic Multi-Modèles des Circuits Logiques
auteur
Alexandre Rousset, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
MAJECSTIC'06: Manifestation des Jeunes Chercheurs STIC, Nov 2006, Lorient, France
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titre
Power-Aware Test Data Compression for Embedded IP Core
auteur
Nabil Badereddine, Z. Wang, Patrick Girard, K. Chakrabarty, Arnaud Virazel, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault
article
ATS: Asian Test Symposium, Nov 2006, Fukuoka, Japan. pp.5-10
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BibTex
titre
Unified Diagnostic Method Targeting Several Fault Models
auteur
Alexandre Rousset, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel
article
VLSI-SOC'06: 14th IFIP WG 10.5 International Conference on Very Large Scale Integration and System-on-Chip, Oct 2006, Nice, pp.53-55
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00136869/file/PhDVLSIsoc06_fin.pdf BibTex
titre
Structural-Based Power-Aware Assignment of Don't Cares for Peak Power Reduction during Scan Testing
auteur
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel, Hans-Joachim Wunderlich
article
VLSI-SOC'06: 14th IFIP WG 10.5 International Conference on Very Large Scale Integration and System-on-Chip, Oct 2006, Nice (France), pp.403-408
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108141/file/VLSIsoc06_fin.pdf BibTex
titre
Unified Framework for Logic Diagnosis
auteur
Alexandre Rousset, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
EWDTW: East-West Design & Test Workshop, Sep 2006, Sochi, Russia. pp.47-52
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00096211/file/Landrault_ewdtw06.pdf BibTex
titre
Minimizing Peak Power Consumption during Scan Testing: Test Pattern Modification with X Filling Heuristics
auteur
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel, Hans-Joachim Wunderlich
article
DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, Sep 2006, Tunis, Tunisia. pp.359-364
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00093690/file/DTIS06-53.pdf BibTex
titre
Embedded Flash Testing: Overview and Perspectives
auteur
Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, Sep 2006, Tunis, Tunisia. pp.210-215
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00093665/file/DTIS06-94.pdf BibTex
titre
Minimizing Peak Power Consumption during Scan Testing: Structural Technique for Don't Care Bits Assignment
auteur
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel, Hans-Joachim Wunderlich
article
PRIME'06: Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics, Jun 2006, Otranto, Italy, pp.65-68
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BibTex
titre
Technique Structurelle d'Affectation des Bits Non Spécifiés en Vue d'une Réduction de la Puissance de Pic Pendant le Test Série
auteur
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel, Hans-Joachim Wunderlich
article
JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2006, Rennes, France
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00136838/file/JNRDM06_LP.pdf BibTex
titre
Méthode unifiée de diagnostic ciblant l'ensemble des modèles de fautes
auteur
Alexandre Rousset, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2006, Rennes, France
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00136841/file/JNRDM06_diag.pdf BibTex
titre
An Overview of Failure Mechanisms in Embedded Flash Memories
auteur
Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Marylène Combe, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
VTS'06: VLSI Test Symposium, Apr 2006, Berkeley, CA, United States. pp.108-113
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titre
March Pre: an Efficient Test for Resistive-Open Defects in the SRAM Pre-charge Circuit
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Magali Bastian Hage-Hassan, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
DDECS'06: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2006, Prague, République Tchèque, pp.256-261
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Autre publication

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Contrat NanoTEST 2A702 - Programme CEE MEDEA+
auteur
Patrick Girard, Serge Bernard, Marie-Lise Flottes, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
article
2006
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titre
Contrat NanoTEST 2A702, Programme CEE MEDEA +
auteur
Patrick Girard, Serge Bernard, Marie-Lise Flottes, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
article
2006
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titre
Contrat NanoTEST 2A702, Programme CEE MEDEA+
auteur
Patrick Girard, Serge Bernard, Marie-Lise Flottes, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
article
2006
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Poster

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Structural Power-Aware Assignment of Xs for Peak Power Reduction during Scan Testing
auteur
Christian Landrault, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine, Hans-Joachim Wunderlich
article
ETS: European Test Symposium, May 2006, Southampton, United Kingdom. 11th IEEE European Test Symposium, 2006
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titre
Failure Mechanisms due to Process Variations in Nanoscale SRAM Core-Cells
auteur
Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
ETS: European Test Symposium, May 2006, Southampton, United Kingdom. 11th IEEE European Test Symposium, 2006
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2005

Article dans une revue

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Analysis of Dynamic Faults in Embedded-SRAMs: Implications for Memory Test
auteur
Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2005, 21 (2), pp.169-179. ⟨10.1007/s10836-005-6146-1⟩
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105313/file/D566.PDF BibTex
titre
Delay Fault Testing of Look-Up Tables in SRAM-Based FPGAs
auteur
Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2005, 21 (1), pp.43-55
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titre
Efficient March Test Procedure for Dynamic Read Destructive Fault Detection in SRAM Memories
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2005, 21 (5), pp.551-561. ⟨10.1007/s10836-005-1169-1⟩
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Communication dans un congrès

titre
Power-Aware Scan Testing for Peak Power Reduction
auteur
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault
article
VLSI-SOC'05: IFIP International Conference on Very Large Scale Integration, Oct 2005, Perth, Australia. pp.441-446
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titre
Controlling Peak Power Consumption During Scan Testing: Power-Aware DfT and Test Set Perspectives
auteur
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault
article
PATMOS: Power And Timing Modeling, Optimization and Simulation, Sep 2005, Leuven, Belgium. pp.540-549, ⟨10.1007/11556930_55⟩
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106111/file/ark__67375_HCB-S6J2L9LG-9.pdf BibTex
titre
Resistive-Open Defect Injection in SRAM Core-Cell: Analysis and Comparison Between 0.13 um and 90 nm Technologies
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
DAC: Design Automation Conference, Jun 2005, Anaheim, CA, United States. pp.857-862
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titre
Resistive-Open Defect Influence in SRAM Pre-Charge Circuits: Analysis and Characterization
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
ETS: European Test Symposium, May 2005, Tallinn, Estonia. pp.116-121, ⟨10.1109/ETS.2005.33⟩
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titre
Resistive-Open Defect Injection in SRAM Core-Cell: Analysis and Comparison between 0.13μm and 90nm Technologies
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
DAC: Design Automation Conference, May 2005, Anaheim, CA, United States. pp.857-862, ⟨10.1145/1065579.1065804⟩
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titre
Analyse et Réduction de la Puissance de Pic durant le Test Série
auteur
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault
article
JNRDM'05 : 8ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, Paris, France
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titre
Incidence des Défauts Résistifs dans les Circuits de Précharge des Mémoires SRAM
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
JNRDM'05 : 8ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, Paris, France
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titre
Data Retention Fault in SRAM Memories: Analysis and Detection Procedures
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Mehdi Hage Hassan
article
VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium, May 2005, Palm Springs, CA (USA), pp.183-188
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titre
Peak Power Consumption During Scan Testing: Issue, Analysis and Heuristic Solution
auteur
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel
article
DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2005, Sopron, Hungary. pp.151-159
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titre
Efficient Test of Dynamic Read Destructive Faults in SRAM Memories
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
article
LATW: Latin American Test Workshop, Mar 2005, Salvador, Bahia, Brazil. pp.40-45
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2004

Article dans une revue

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Power-Driven Routing-Constrained Scan Chain Design
auteur
Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Loïs Guiller, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2004, 20 (6), pp.647-660. ⟨10.1007/s10677-004-4252-2⟩
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Communication dans un congrès

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Resistive-Open Defects in Embedded-SRAM Core Cells: Analysis and March Test Solution
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan
article
ATS: Asian Test Symposium, Nov 2004, Kenting, Taiwan. pp.266-271
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titre
BIST of Delay Faults in the Logic Architecture of Symmetrical FPGAs
auteur
Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell
article
IOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2004, Madeira Island, Portugal. pp.187-192, ⟨10.1109/OLT.2004.1319686⟩
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titre
Dynamic Read Destructive Faults in Embedded-SRAMs: Analysis and March Test Solution
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan
article
ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. pp.140-145
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titre
Manufacturing-Oriented Testing of Delay Faults in the Logic Architecture of Symmetrical FPGAs
auteur
Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell
article
ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. pp.117-122
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titre
Test March pour la Détection des Fautes Dynamiques dans les Décodeurs de Mémoires SRAM
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan
article
JNRDM'04 : 7ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2004, Marseille, France. pp.495-497
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titre
March iC-: An Improved Version of March C- for ADOFs Detection
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri
article
VTS: VLSI Test Symposium, Apr 2004, Napa Valley, CA, United States. pp.129-134, ⟨10.1109/VTEST.2004.1299236⟩
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108772/file/D364.PDF BibTex
titre
March Tests Improvements for Address Decoder Open and Resistive Open Fault Detection
auteur
Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan
article
LATW: Latin American Test Workshop, Mar 2004, Cartagena, Colombia. pp.31-36
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108642/file/D363.PDF BibTex
titre
Design of Routing-Constrained Low Power Scan Chains
auteur
Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Loïs Guiller, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
DATE: Design, Automation and Test in Europe, Feb 2004, Paris, France. pp.62-67, ⟨10.1109/DATE.2004.1268828⟩
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titre
High Quality TPG for Delay Faults in Look-Up Tables of FPGAs
auteur
Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell
article
DELTA'04: 2nd International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, Jan 2004, Perth (Australia), pp.83-88
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titre
Design of Routing-Constrained Low Power Scan Chains
auteur
Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Loïs Guiller, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
article
DELTA: Electronic Design, Test and Applications, Jan 2004, Perth, Australia. pp.287-292, ⟨10.1109/DELTA.2004.10009⟩
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Autre publication

titre
Advanced Solutions for Innovative SOC Testing in Europe
auteur
Patrick Girard, Michel Renovell, Serge Bernard, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Bruno Rouzeyre
article
2004
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Ouvrage (y compris édition critique et traduction)

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Test de Circuits et de Systèmes Intégrés
auteur
Florence Azaïs, Serge Bernard, Yves Bertrand, Marie-Lise Flottes, Patrick Girard, Christian Landrault, Laurent Latorre, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre
article
Collection EGEM, Ed.Hermès, 2004, 2-7462-0864-4
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