Publications HAL de la collection SAS-ENSMSE

2019

Article dans une revue

titre
From theory to practice: horizontal attacks on protected implementations of modular exponentiations
auteur
Ibrahima Diop, Yanis Linge, Thomas Ordas, Pierre-Yvan Liardet, Philippe Maurine
article
Journal of Cryptographic Engineering, Springer, 2019, 9 (1), pp.37-52. ⟨10.1007/s13389-018-0181-1⟩
identifiant
lirmm-01713147
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Nowadays, horizontal or single-shot side-channel attacks against protected implementations of RSA an .....
DOI
DOI : 10.1007/s13389-018-0181-1
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titre
Sensitivity to Laser Fault Injection: CMOS FD-SOI vs. CMOS bulk
auteur
J.-M. Dutertre, Vincent Beroulle, Philippe Candelier, Stephan de Castro, Louis-Barthelemy Faber, Marie-Lise Flottes, Philippe Gendrier, David Hely, Regis Leveugle, Paolo Maistri, Giorgio Di Natale, Athanasios Papadimitriou, Bruno Rouzeyre
article
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019, 19 (1), pp.6-15. ⟨10.1109/TDMR.2018.2886463⟩
identifiant
hal-01971932
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Integrated circuits (ICs) laser illumination was originally used for emulation of radioactive ionizi .....
DOI
DOI : 10.1109/TDMR.2018.2886463
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2018

Communication dans un congrès

titre
MRAM: from STT to SOT, for security and memory
auteur
M. Kharbouche-Harrari, Rana Alhalabi, J. Postel-Pellerin, Romain Wacquez, Driss Aboulkassimi, Etienne Nowak, I L Prejbeanu, Guillaume Prenat, Gregory Di Pendina
article
XXXIII CONFERENCE ON DESIGN OF CIRCUITS AND INTEGRATED SYSTEMS (DCIS), Nov 2018, Lyon, France
identifiant
hal-01982788
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titre
Laser fault injection at the CMOS 28 nm technology node: an analysis of the fault model
auteur
Jean-Max Dutertre, Vincent Beroulle, Philippe Candelier, Stephan de Castro, Louis-Barthelemy Faber, Marie-Lise Flottes, Philippe Gendrier, David Hely, Régis Leveugle, Paolo Maistri, Giorgio Di Natale, Athanasios Papadimitriou, Bruno Rouzeyre
article
FDTC: Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, Sep 2018, Amsterdam, Netherlands. pp.1-6, ⟨10.1109/FDTC.2018.00009⟩
identifiant
emse-01856008
Resume_court
S. Skorobogatov and R. Anderson identified laser illumination as an effective technique to conduct f .....
DOI
DOI : 10.1109/FDTC.2018.00009
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01856008/file/HAL_2018_laser_accuracy_jmdutertre.pdf BibTex
titre
The case of using CMOS FD-SOI rather than CMOS bulk to harden ICs against laser attacks
auteur
Jean-Max Dutertre, Vincent Beroulle, Philippe Candelier, Louis-Barthelemy Faber, Marie-Lise Flottes, Philippe Gendrier, David Hely, Régis Leveugle, Paolo Maistri, Giorgio Di Natale, Athanasios Papadimitriou, Bruno Rouzeyre
article
IOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2018, Platja d’Aro, Spain. pp.214-219, ⟨10.1109/IOLTS.2018.8474230⟩
identifiant
emse-01856000
Resume_court
At first used to emulate the effects of radioactive ionizing particules passing through integrated c .....
DOI
DOI : 10.1109/IOLTS.2018.8474230
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01856000/file/HAL_Dutertre_The_case_of_using_CMOS_FD_SOI_rather_than_CMOS_bulk_to_harden%20_ICs%20against_laser_attacks.pdf BibTex
titre
Standard CAD Tool-Based Method for Simulation of Laser-Induced Faults in Large-Scale Circuits
auteur
Raphael Andreoni Camponogara-Viera, Jean-Max Dutertre, Philippe Maurine, Rodrigo Possamai Bastos
article
ISPD: International Symposium on Physical Design, Mar 2018, Monterey, CA, United States. pp.160-167, ⟨10.1145/3177540.3178243⟩
identifiant
lirmm-01743368
Resume_court
Designing secure integrated systems requires methods and tools dedicated to simulating that early de .....
DOI
DOI : 10.1145/3177540.3178243
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2017

Communication dans un congrès

titre
Role of Laser-Induced IR Drops in the Occurrence of Faults: Assessment and Simulation
auteur
Raphael Andreoni Camponogara-Viera, Jean-Max Dutertre, Rodrigo Possamai Bastos, Philippe Maurine
article
DSD: Digital System Design, Aug 2017, Vienna, Austria. pp.252-259, ⟨10.1109/DSD.2017.43⟩
identifiant
lirmm-01699776
Resume_court
Laser fault injection attacks induce transient faults into ICs by locally generating transient curre .....
DOI
DOI : 10.1109/DSD.2017.43
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01699776/file/index.pdf BibTex
titre
The Multiple Ways to Automate the Application of Software Countermeasures against Physical Attacks : Pitfalls and Guidelines
auteur
Nicolas Belleville, Thierno Barry, Abderrahmane Seriai, Damien Couroussé, Karine Heydemann, Bruno Robisson, Henri-Pierre Charles
article
Cyber-Physical Security Education Workshop, Jul 2017, Paris, France
identifiant
hal-01660155
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titre
DFA on LS-Designs with a Practical Implementation on SCREAM
auteur
Benjamin Lac, Anne Canteaut, Jacques Jean-Alain Fournier, Renaud Sirdey
article
COSADE 2017 - Constructive Side-Channel Analysis and Secure Design, Apr 2017, Paris, France. pp.223--247, ⟨10.1007/978-3-319-64647-3_14⟩
identifiant
hal-01649974
Resume_court
LS-Designs are a family of SPN-based block ciphers whose linear layer is based on the so-called inte .....
DOI
DOI : 10.1007/978-3-319-64647-3_14
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https://hal.inria.fr/hal-01649974/file/paper_4.pdf BibTex
titre
Automated Combination of Tolerance and Control Flow Integrity Countermeasures against Multiple Fault Attacks
auteur
Thierno Barry, Damien Couroussé, Bruno Robisson, Karine Heydemann
article
European LLVM Developers Meeting, Mar 2017, Saarbrücken, Germany
identifiant
hal-01660160
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BibTex
titre
Filtering-based CPA: a successful side-channel attack against desynchronization countermeasures
auteur
Karim Moussa Ali Abdellatif, Damien Couroussé, Olivier Potin, Philippe Jaillon
article
Fourth Workshop on Cryptography and Security in Computing Systems , Jan 2017, Stockholm, Sweden. pp 29-32 ⟨10.1145/3031836.3031842⟩
identifiant
emse-01490735
Resume_court
Secure implementations against side channel attacks usually combine hiding and masking protections i .....
DOI
DOI : 10.1145/3031836.3031842
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HDR

titre
Contributions à la cryptographie à base de couplage.
auteur
Nadia El Mrabet
article
Cryptographie et sécurité [cs.CR]. Université Paris 8 Vincennes – Saint-Denis, 2017
identifiant
tel-01716835
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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01716835/file/ManuscritHDR.pdf BibTex

Thèse

titre
Sécurisation à la compilation de logiciels contre les attaques en fautes
auteur
Thierno Barry
article
Cryptographie et sécurité [cs.CR]. École des Mines de Saint-Etienne, 2017. Français
identifiant
tel-01783995
Resume_court
Les systèmes embarqués sont de plus en plus présents dans notre quotidien (e.g. cartes de cre .....
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https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/tel-01783995/file/These.pdf BibTex
titre
Méthodologie et outils pour la mise en pratique des attaques par collision et attaques horizontales sur l'exponentiation modulaire
auteur
Ibrahima Diop
article
Autre. Université de Lyon, 2017. Français. ⟨NNT : 2017LYSEM010⟩
identifiant
tel-01665008
Resume_court
Dans cette thèse, nous étudions deux sous-familles d'attaques par canaux cachés sur l'exponentiat .....
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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01665008/file/DIOP-Ibrahima-diff.pdf BibTex

2016

Article dans une revue

titre
Smart security management in secure devices
auteur
Bruno Robisson, Michel Agoyan, Patrick Soquet, Sébastien Le-Henaff, Franck Wajsbürt, Pirouz Bazargan-Sabet, Guillaume Phan
article
Journal of Cryptographic Engineering, Springer, 2016, ⟨http://link.springer.com/article/10.1007%2Fs13389-016-0143-4⟩. ⟨10.1007/s13389-016-0143-4⟩
identifiant
emse-01447976
Resume_court
Among other threats, secure components are subjected to physical attacks whose aim is to recover the .....
DOI
DOI : 10.1007/s13389-016-0143-4
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Communication dans un congrès

titre
Runtime Code Polymorphism as a Protection Against Side Channel Attacks
auteur
Damien Couroussé, Thierno Barry, Bruno Robisson, Philippe Jaillon, Olivier Potin, Jean-Louis Lanet
article
10th IFIP International Conference on Information Security Theory and Practice (WISTP), Sep 2016, Heraklion, Greece. pp.136-152, ⟨10.1007/978-3-319-45931-8_9⟩
identifiant
emse-01372223
Resume_court
We present a generic framework for runtime code polymorphism, applicable to a broad range of computi .....
DOI
DOI : 10.1007/978-3-319-45931-8_9
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01372223/file/WISTP-2016-preprint.pdf BibTex
titre
Laser testing of a double-access BBICS architecture with improved SEE detection capabilities
auteur
Clément Champeix, Jean-Max Dutertre, Vincent Pouget, Bruno Robisson, Mathieu Lisart, Nicolas Borrel, Alexandre Sarafianos
article
2016 16th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Sep 2016, Bremen, Germany. ⟨10.1109/RADECS.2016.8093172⟩
identifiant
emse-01855833
Resume_court
The paper reports the experimental validation of a new Bulk Built-In Current Sensor (BBICS) designed .....
DOI
DOI : 10.1109/RADECS.2016.8093172
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01855833/file/hal_CHA16_radecs_Laser%20testing%20of%20a%20double-access%20BBICS%20architecture%20with%20improved%20SEE%20detection%20capabilities_v03%20-%20copie.pdf BibTex
titre
On the Use of Forward Body Biasing to Decrease the Repeatability of Laser-Induced Faults
auteur
Marc Lacruche, Noemie Beringuier-Boher, Jean-Max Dutertre, Jean-Baptiste Rigaud, Edith Kussener
article
2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Mar 2016, Dresde, Germany
identifiant
emse-01855866
Resume_court
This paper presents a study on the effect of Forward Body Biasing on the laser fault sensitivity of .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01855866/file/hal_LAC16_DATE16_On_the_Use_of_Forward_Body_Biasing_to_Decrease_the_Repeatability_of_Laser_Induced_Faults.pdf BibTex
titre
Compilation of a Countermeasure Against Instruction-Skip Fault Attacks
auteur
Thierno Barry, Damien Couroussé, Bruno Robisson
article
Third Workshop on Cryptography and Security in Computing Systems, Jan 2016, Prague, Czech Republic. ⟨10.1145/2858930.2858931⟩
identifiant
emse-01271252
Resume_court
Physical attacks especially fault attacks represent one the major threats against embedded systems. .....
DOI
DOI : 10.1145/2858930.2858931
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01271252/file/Barry_2015_compile_protection_duplication_CS2.pdf https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01271252/file/Barry_2015_compile_protection_duplication_CS2_slides.pdf BibTex

Thèse

titre
Système embarque de mesure de la tension pour la détection de contrefaçons et de chevaux de Troie matériels
auteur
Maxime Lecomte
article
Autre. Université de Lyon, 2016. Français. ⟨NNT : 2016LYSEM018⟩
identifiant
tel-01664991
Resume_court
Avec la mondialisation du marché des semi-conducteurs, l'intégrité des circuits intégrés (CI) e .....
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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01664991/file/Lecomte-Maxime-diff.pdf BibTex

2015

Article dans une revue

titre
When organized crime applies academic results: a forensic analysis of an in-card listening device
auteur
David Naccache, Rémi Géraud, Houda Ferradi, Assia Tria
article
Journal of Cryptographic Engineering, Springer, 2015, pp 1-11. ⟨10.1007/s13389-015-0112-3⟩
identifiant
emse-01222610
Resume_court
This paper describes the forensic analysis of what the authors believe to be the most sophisticated .....
DOI
DOI : 10.1007/s13389-015-0112-3
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BibTex
titre
Combining Image Processing and Laser Fault Injections for Characterizing a Hardware AES
auteur
Franck Courbon, Philippe Loubet-Moundi, Jacques Jean-Alain Fournier, Assia Tria
article
IEEE Transactions on Computers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2015, Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 34 (6), pp.928 - 936. ⟨10.1109/TCAD.2015.2391773⟩
identifiant
emse-01222636
Resume_court
Nowadays, the security level of secure integrated circuits makes simple attacks less efficient. The .....
DOI
DOI : 10.1109/TCAD.2015.2391773
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BibTex
titre
Combining image processing and laser fault injections for characterizing a hardware AES
auteur
Franck Courbon, Jacques Jean-Alain Fournier, Philippe Loubet-Moundi, Assia Tria
article
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE, 2015, PP, 99, pp.1-1. ⟨10.1109/TCAD.2015.2391773⟩
identifiant
emse-01119561
Resume_court
Nowadays, the security level of secure integrated circuits makes simple attacks less efficient. The .....
DOI
DOI : 10.1109/TCAD.2015.2391773
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BibTex
titre
Electrical model of an Inverter body biased structure in triple well technology under pulsed photoelectric laser stimulation
auteur
Nicolas Borrel, Clément Champeix, Edith Kussener, Wenceslas Rahajandraibe, Mathieu Lisart, Jean-Max Dutertre, Alexandre Sarafianos
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2015, 55 (9-10), pp.1592-1599. ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.144⟩
identifiant
emse-01227386
Resume_court
This study is driven by the need to optimize reliability and failure analysis methodologies based on .....
DOI
DOI : 10.1016/j.microrel.2015.06.144
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01227386/file/hal_ESREF_2015_Electrical_model_of_an_Inverter_body_biased_structure.pdf BibTex
titre
Physical functions: the common factor of side-channel and fault attacks?
auteur
Bruno Robisson, Hélène Le Bouder
article
Journal of Cryptographic Engineering, Springer, 2015, ⟨10.1007/s13389-015-0111-4⟩
identifiant
emse-01233314
Resume_court
Physical attacks on cryptographic circuits were first identified in the late 1990s. These types of a .....
DOI
DOI : 10.1007/s13389-015-0111-4
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01233314/file/Robisson_2015_Physical_functions.pdf BibTex

Communication dans un congrès

titre
SEU sensitivity and modeling using picosecond pulsed laser stimulation of a D Flip-Flop in 40 nm CMOS technology
auteur
Clément Champeix, Nicolas Borrel, Jean-Max Dutertre, Bruno Robisson, Mathieu Lisart, Alexandre Sarafianos
article
Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), 2015 IEEE International Symposium on, Oct 2015, Amherst, United States. ⟨10.1109/DFT.2015.7315158⟩
identifiant
emse-01227355
Resume_court
—This paper presents the design of a CMOS 40 nm D Flip-Flop cell and reports the laser fault sensi .....
DOI
DOI : 10.1109/DFT.2015.7315158
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01227355/file/hal_DFTS_2015_SEU_sensitivity_and_modeling_using_picosecond_pulsed_laser_stimulation_of_a_D_Flip_Flop_in_40_nm_CMOS_technology.pdf BibTex
titre
Influence of triple-well technology on laser fault injection and laser sensor efficiency
auteur
Nicolas Borrel, Clément Champeix, Edith Kussener, Wenceslas Rahajandraibe, Mathieu Lisart, Alexandre Sarafianos, Jean-Max Dutertre
article
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS 2015), Oct 2015, Amherst, MA, United States. ⟨10.1109/DFT.2015.7315141⟩
identifiant
emse-01227366
Resume_court
This study is driven by the need to understand the influence of a Deep-Nwell implant on the sensitiv .....
DOI
DOI : 10.1109/DFT.2015.7315141
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01227366/file/hal_DFTS15_Influence_of_triple_well_technology_on_laser_fault_injection.pdf BibTex
titre
SMART SECURITY MANAGEMENT IN SECURE DEVICES
auteur
Bruno Robisson, Michel Agoyan, Patrick Soquet, Sébastien Le Henaff, Franck Wajsbürt, Pirouz Bazargan-Sabet, Guillaume Phan
article
PROOFS: Security Proofs for Embedded Systems, Sep 2015, Saint-Malo, France
identifiant
emse-01232670
Resume_court
Among other threats, secure components are subjected to physical attacks whose aim is to recover the .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01232670/file/SOS.pdf https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01232670/file/2015_09_16_12-10_S0S_proofs_s.pdf BibTex
titre
SEMBA: a SEM Based Acquisition technique for fast invasive Hardware Trojan detection
auteur
Franck Courbon, Philippe Loubet-Moundi, Jacques Jean-Alain Fournier, Assia Tria
article
European Conference on Circuit Theory and Design 2015 (ECCTD 2015), Aug 2015, Trondheim, Norway
identifiant
hal-01163583
Resume_court
In this paper, we present how SEMBA, a fast invasive technique for white team Hardware Trojan detect .....
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BibTex
titre
Figure of merits of 28nm Si technologies for implementing laser attack resistant security dedicated circuits
auteur
Stephan de Castro, Jean-Max Dutertre, Giorgio Di Natale, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre
article
ISVLSI: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, Jul 2015, Montpellier, France. pp.362-367, ⟨10.1109/ISVLSI.2015.76⟩
identifiant
emse-01227138
Resume_court
Among all means to attack a security dedicated circuit, fault injection by means of laser illuminati .....
DOI
DOI : 10.1109/ISVLSI.2015.76
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01227138/file/hal_ISVLSI2015_Figure_of_merits_of_28nm_Si_technologies_for_implementing_laser_attack_resistant_security_dedicated_circuits.pdf BibTex
titre
Experimental validation of a Bulk Built-In Current Sensor for detecting laser-induced currents
auteur
Clément Champeix, Nicolas Borrel, Jean-Max Dutertre, Bruno Robisson, Mathieu Lisart, Alexandre Sarafianos
article
On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2015 IEEE 21st International, Jul 2015, Halkidiki, Greece. ⟨10.1109/IOLTS.2015.7229849⟩
identifiant
emse-01227307
Resume_court
—Bulk Built-In Current Sensors (BBICS) were developed to detect the transient bulk currents induce .....
DOI
DOI : 10.1109/IOLTS.2015.7229849
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01227307/file/hal_IOLTS2015_Experimental_validation_of_a_bulk_built_in_current_sensor_for_detecting_laser_induced_currents.pdf https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01227307/file/P_2015_3_talk_Champeix_Clement_IOLTS2015_slides.pdf BibTex
titre
Laser Fault Injection into SRAM cells: Picosecond versus Nanosecond pulses
auteur
Marc Lacruche, Nicolas Borrel, Clément Champeix, C. Roscian, A. Sarafianos, Jean-Baptiste Rigaud, Jean-Max Dutertre, Edith Kussener
article
On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2015 IEEE 21st International, Jul 2015, Halkidiki, France. ⟨10.1109/IOLTS.2015.7229820⟩
identifiant
emse-01227286
Resume_court
—Laser fault injection into SRAM cells is a widely used technique to perform fault attacks. In pre .....
DOI
DOI : 10.1109/IOLTS.2015.7229820
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01227286/file/hal_IOLTS_2015_laser_Pico_vs_Nano_SRAM.pdf BibTex
titre
Resilient hardware Trojans detection based on path delay measurements
auteur
Ingrid Exurville, Loïc Zussa, Jean-Baptiste Rigaud, Bruno Robisson
article
International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust (HOST), May 2015, Washington, United States. ⟨10.1109/HST.2015.7140254⟩
identifiant
emse-01233319
Resume_court
A Hardware Trojan is a malicious hardware modification of an integrated circuit. It could be inserte .....
DOI
DOI : 10.1109/HST.2015.7140254
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BibTex
titre
Electrical model of an NMOS body biased structure in triple-well technology under photoelectric laser stimulation
auteur
N Borrel, C Champeix, M Lisart, A Sarafianos, E Kussener, W Rahajandraibe, Jean-Max Dutertre
article
Reliability Physics Symposium (IRPS), 2015 IEEE International, Apr 2015, Monterey, United States. ⟨10.1109/IRPS.2015.7112799⟩
identifiant
emse-01230163
Resume_court
— This study is driven by the need to optimize failure analysis methodologies based on laser/silic .....
DOI
DOI : 10.1109/IRPS.2015.7112799
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01230163/file/hal_IRPS2015_Electrical_model_of_an_NMOS_body_biased_structure_in_TW_under_PLS.pdf BibTex
titre
Influence of triple-well technology on laser fault injection and laser sensor efficiency
auteur
Nicolas Borrel, Clément Champeix, Edith Kussener, Wenceslas Rahajandraibe, M. Lisart, Alexandre Sarafianos, Jean-Max Dutertre
article
Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), 2015 IEEE International Symposium on, Apr 2015, Monterey, United States. ⟨10.1109/DFT.2015.7315141⟩
identifiant
emse-01230166
Resume_court
This study is driven by the need to understand the influence of a Deep-Nwell implant on the sensitiv .....
DOI
DOI : 10.1109/DFT.2015.7315141
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01230166/file/hal_DFTS15_Influence_of_triple_well_technology_on_laser_fault_injection.pdf BibTex
titre
Hardware Trojan Detection by Delay and Electromagnetic Measurements
auteur
X-T Ngo, I Exurville, S Bhasin, J-L Danger, S Guilley, Z Najm, Jean-Baptiste Rigaud, Bruno Robisson
article
Design, Automation and Test in Europe 2015, Mar 2015, Grenoble, France. ⟨10.7873/DATE.2015.1103⟩
identifiant
hal-01240239
Resume_court
—Hardware Trojans (HT) inserted in integrated circuits have received special attention of research .....
DOI
DOI : 10.7873/DATE.2015.1103
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01240239/file/15_DATE_Trojans.pdf BibTex
titre
Interest of MIA in frequency domain?
auteur
Mathieu Carbone, Michel Agoyan, Yannick Teglia, Gilles Ducharme, Philippe Maurine
article
CS2: Cryptography and Security in Computing Systems, Jan 2015, Amtersdam, Netherlands. pp.35-35, ⟨10.1145/2694805.2694812⟩
identifiant
lirmm-01111693
Resume_court
Mutual Information Analysis (MIA) has a main advantage over Pearson's correlation Analysis (CPA): it .....
DOI
DOI : 10.1145/2694805.2694812
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titre
Evidence of an information leakage between logically independent blocks
auteur
Loïc Zussa, Ingrid Exurville, Jean-Max Dutertre, Jean-Baptiste Rigaud, Bruno Robisson, Assia Tria, Jessy Clediere
article
Second Workshop on Cryptography and Security in Computing Systems (CS2'2015), Jan 2015, Amsterdam, Netherlands. pp.25, ⟨10.1145/2694805.2694810⟩
identifiant
hal-01855795
Resume_court
In this paper we study the information leakage that may exist, due to electrical coupling, between l .....
DOI
DOI : 10.1145/2694805.2694810
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01855795/file/HAL%20CS2%202015%20Evidence%20of%20an%20information%20leakage%20between%20logically%20independent%20blocks.pdf BibTex

Autre publication

titre
Harmonic Analysis and a Bentness-Like Notion in Certain Finite Abelian Groups Over Some Finite Fields
auteur
Laurent Poinsot, Nadia El Mrabet
article
2015
identifiant
hal-01197141
Resume_court
It is well-known that degree two finite field extensions can be equipped with a Hermitian-like struc .....
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01197141/file/1.%20Laurent%20Poinsot.pdf BibTex
titre
A survey of Fault Attacks in Pairing Based Cryptography
auteur
Nadia El Mrabet, Jacques Jean-Alain Fournier, Louis Goubin, Ronan Lashermes
article
2015, ⟨10.1007/s12095-014-0114-5"⟩
identifiant
hal-01197172
Resume_court
The latest implementations of pairings allow efficient schemes for Pairing Based Cryptography. These .....
DOI
DOI : 10.1007/s12095-014-0114-5"
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01197172/file/ElMrabetDCC2015.pdf BibTex
titre
On Near Prime-Order Elliptic Curves with Small Embedding Degrees
auteur
Duc-Phong Le, Nadia El Mrabet, Tan Chik How
article
2015, ⟨10.1007/978-3-319-23021-4_13⟩
identifiant
hal-01197193
Resume_court
In this paper, we generalize the method of Scott and Barreto in order to construct a family of pairi .....
DOI
DOI : 10.1007/978-3-319-23021-4_13
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01197193/file/curves_smallorderv02.pdf BibTex
titre
Failure of the Point Blinding Countermeasure Against Fault Attack in Pairing-Based Cryptography
auteur
Nadia El Mrabet, Emmanuel Fouotsa
article
2015, ⟨10.1007/978-3-319-18681-8_21⟩
identifiant
hal-01197148
Resume_court
Pairings are mathematical tools that have been proven to be very useful in the construction of many .....
DOI
DOI : 10.1007/978-3-319-18681-8_21
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01197148/file/ARTICLE-Fault-Attack-June2014v17.pdf BibTex

Brevet

titre
Electronic chip with means of protecting its back face
auteur
Yann Lamy, Alain Merle, Parat Guy-Michel, Assia Tria
article
France, Patent n° : EP2866259A1. 2015
identifiant
emse-01222710
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Poster

titre
Compiler-based Countermeasure Against Fault Attacks
auteur
Thierno Barry, Damien Couroussé, Bruno Robisson
article
Workshop on Cryptographic Hardware and Embedded Systems, Sep 2015, Saint-Malo, France. ⟨http://www.chesworkshop.org/ches2015/⟩
identifiant
emse-01232664
Resume_court
Physical attacks especially fault attacks represent one the major threats against embedded systems. .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01232664/file/Barry2015-CHES-poster.pdf BibTex
titre
Runtime Code Polymorphism as a Protection against Physical Attacks
auteur
Damien Couroussé, Bruno Robisson, Thierno Barry, P Jaillon, Olivier Potin
article
Workshop on Cryptographic Hardware and Embedded Systems, Sep 2015, Saint-Malo, France. ⟨http://www.chesworkshop.org/ches2015/⟩
identifiant
emse-01232662
Resume_court
We present a generic framework for runtime code polymorphism, applicable to a large class of computi .....
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2014

Article dans une revue

titre
Improving the ability of Bulk Built-In Current Sensors to detect Single Event Effects by using triple-well CMOS
auteur
Jean-Max Dutertre, Rodrigo Possamai Bastos, Olivier Potin, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre, Giorgio Di Natale, Alexandre Sarafianos
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2014, 54 (9-10), pp.2289-2294. ⟨10.1016/j.microrel.2014.07.151⟩
identifiant
emse-01094805
Resume_court
Bulk Built-In Current Sensors (bbicss) were introduced to detect the anomalous transient currents in .....
DOI
DOI : 10.1016/j.microrel.2014.07.151
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titre
Formal verification of a software countermeasure against instruction skip attacks
auteur
Nicolas Moro, Karine Heydemann, Emmanuelle Encrenaz, Bruno Robisson
article
Journal of Cryptographic Engineering, Springer, 2014, 4 (3), pp.145-156. ⟨10.1007/s13389-014-0077-7⟩
identifiant
emse-00951386
Resume_court
Fault attacks against embedded circuits enabled to define many new attack paths against secure circu .....
DOI
DOI : 10.1007/s13389-014-0077-7
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titre
A model of the leakage in the frequency domain and its application to CPA and DPA
auteur
Sébastien Tiran, Sébastien Ordas, Yannick Teglia, Michel Agoyan, Philippe Maurine
article
Journal of Cryptographic Engineering, Springer, 2014, 4 (3), pp.197-212. ⟨10.1007/s13389-014-0074-x⟩
identifiant
lirmm-01096000
Resume_court
This paper introduces a leakage model in the frequency domain to enhance the efficiency of side chan .....
DOI
DOI : 10.1007/s13389-014-0074-x
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Communication dans un congrès

titre
Characterization and simulation of a body biased structure in triple-well technology under pulsed photoelectric laser stimulation
auteur
Nicolas Borrel, Clément Champeix, Mathieu Lisart, Alexandre Sarafianos, Edith Kussener, Wenceslas Rahajandraibe, Jean-Max Dutertre
article
International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA), Nov 2014, Houston, United States
identifiant
emse-01099035
Resume_court
This study is driven by the need to optimize failure analysis methodologies based on laser/silicon i .....
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titre
Evidence of a larger EM-induced fault model
auteur
Sébastien Ordas, Ludovic Guillaume-Sage, Karim Tobich, Jean-Max Dutertre, Philippe Maurine
article
CARDIS: Smart Card Research and Advanced Applications, Nov 2014, Paris, France. pp.245-259, ⟨10.1007/978-3-319-16763-3_15⟩
identifiant
emse-01099037
Resume_court
Electromagnetic waves have been recently pointed out as a medium for fault injection within circuits .....
DOI
DOI : 10.1007/978-3-319-16763-3_15
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titre
ElectroMagnetic Analysis and Fault Injection onto Secure Circuits
auteur
Paolo Maistri, Regis Leveugle, Lilian Bossuet, Alain Aubert, Viktor Fischer, Bruno Robisson, Nicolas Moro, Philippe Maurine, Jean-Max Dutertre, Mathieu Lisart
article
VLSI-SoC: Very Large Scale Integration - System-on-Chip, Oct 2014, Mexico, Mexico. ⟨10.1109/VLSI-SoC.2014.7004182⟩
identifiant
emse-01099025
Resume_court
Implementation attacks are a major threat to hardware cryptographic implementations. These attacks e .....
DOI
DOI : 10.1109/VLSI-SoC.2014.7004182
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01099025/file/hal_VLSI_SoC_2015_ElectroMagnetic_Analysis_and_Fault_Injection_onto_Secure_Circuits.pdf BibTex
titre
Comparison of bulk built-in current sensors in terms of transient-fault detection sensitivity
auteur
Rodrigo Possamai Bastos, Jean-Max Dutertre, Frank Sill Torres
article
CMOS variability (VARI), Sep 2014, Palma de Mallorca, Spain. ⟨10.1109/VARI.2014.6957089⟩
identifiant
emse-01099015
Resume_court
Several architectures of Bulk Built-In Current Sensors (BBICS) were recently proposed to monitor tra .....
DOI
DOI : 10.1109/VARI.2014.6957089
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titre
Physical functions : the common factor of side-channel and fault attacks ?
auteur
Bruno Robisson, Hélène Le Bouder
article
PROOFS: Security Proofs for Embedded Systems, Sep 2014, Busan, South Korea
identifiant
cea-01094758
Resume_court
Security is a key component for information technologies and communication. Among the security threa .....
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https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-01094758/file/UF.pdf BibTex
titre
Practical validation of several fault attacks against the Miller algorithm
auteur
Ronan Lashermes, Marie Paindavoine, Nadia El Mrabet, Jacques Jean-Alain Fournier, Louis Goubin
article
Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC), 2014 Workshop on, Sep 2014, Busan, South Korea. ⟨10.1109/FDTC.2014.21⟩
identifiant
hal-01100813
Resume_court
—Pairing based cryptography (PBC) is touted as an efficient approach to address usability and priv .....
DOI
DOI : 10.1109/FDTC.2014.21
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01100813/file/PID3318933.pdf BibTex
titre
COGITO: Code Polymorphism to Secure Devices
auteur
Damien Couroussé, Bruno Robisson, Jean-Louis Lanet, Thierno Barry, Hassan Noura, Philippe Jaillon, Philippe Lalevee
article
SECRYPT2014 : 11th International Conference on Security and Cryptography, Aug 2014, Vienne, Austria. 6p
identifiant
emse-01072039
Resume_court
In this paper, we advocate the use of code polymorphism as an efficient means to improve security at .....
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titre
Analysis of a fault injection mechanism related to voltage glitches using an on-chip voltmeter
auteur
Loïc Zussa, Jean-Max Dutertre, Jessy Clédière, Bruno Robisson
article
TRUDEVICE Workshop (colocated with ETS 2014), May 2014, Paderborn, Germany
identifiant
emse-01099039
Resume_court
Analysis of a fault injection mechanism related to voltage glitches using an on-chip voltmeter
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titre
Fault attacks on two software countermeasures
auteur
Nicolas Moro, Karine Heydemann, Amine Dehbaoui, Bruno Robisson, Emmanuelle Encrenaz
article
TRUDEVICE 2014, May 2014, Paderborn, Germany
identifiant
emse-00998988
Resume_court
Injection of transient faults can be used as a way to attack embedded systems. On embedded processor .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00998988/file/TRUDEVICE-2014-Article.pdf BibTex
titre
Experimental evaluation of two software countermeasures against fault attacks
auteur
Nicolas Moro, Karine Heydemann, Amine Dehbaoui, Bruno Robisson, Emmanuelle Encrenaz
article
2014 IEEE International Symposium on Hardware-Oriented Security and Trust (HOST), May 2014, Arlington, United States. pp.112-117, ⟨10.1109/HST.2014.6855580⟩
identifiant
emse-01032449
Resume_court
Injection of transient faults can be used as a way to attack embedded systems. On embedded processor .....
DOI
DOI : 10.1109/HST.2014.6855580
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titre
Increasing the efficiency of laser fault injections using fast gate level reverse engineering
auteur
Franck Courbon, Philippe Loubet-Moundi, Jacques Jean-Alain Fournier, Assia Tria
article
Hardware Oriented Security and Trust 2014, May 2014, Arlington, United States. ⟨10.1109/HST.2014.6855569⟩
identifiant
emse-01119577
Resume_court
Laser fault injections have been evolving rapidly with the advent of more precise, sophisticated and .....
DOI
DOI : 10.1109/HST.2014.6855569
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titre
Laser attacks on integrated circuits: from CMOS to FD-SOI
auteur
Jean-Max Dutertre, Stephan de Castro, Alexandre Sarafianos, Noémie Boher, Bruno Rouzeyre, Mathieu Lisart, Joel Damiens, Philippe Candelier, Marie-Lise Flottes, Giorgio Di Natale
article
DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, May 2014, Santorin, Greece. ⟨10.1109/DTIS.2014.6850664⟩
identifiant
emse-01099042
Resume_court
The use of a laser as a means to inject errors during the computations of a secure integrated circui .....
DOI
DOI : 10.1109/DTIS.2014.6850664
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titre
Adjusting laser injections for fully controlled faults
auteur
Franck Courbon, Philippe Loubet-Moundi, Jacques Jean-Alain Fournier, Assia Tria
article
Constructive Side-Channel Analysis and Secure Design 2014, Apr 2014, Paris, France. ⟨10.1007/978-3-319-10175-0_16⟩
identifiant
emse-01119590
Resume_court
Hardware characterizations of integrated circuits have been evolving rapidly with the advent of more .....
DOI
DOI : 10.1007/978-3-319-10175-0_16
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Direction d'ouvrage, Proceedings, Dossier

titre
2014 Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography
auteur
Assia Tria, Choi Dooho
article
France. 2014, IEEE computeur society, 978-1-4799-6292-1
identifiant
emse-01222706
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Autre publication

titre
Physical functions: the common factor of side-channel and fault attacks?
auteur
Bruno Robisson, Hélène Le Bouder
article
2014, ⟨10.1007/s13389-015-0111-4⟩
identifiant
emse-01233325
Resume_court
Security is a key component for information technologies and communication. Among the security threa .....
DOI
DOI : 10.1007/s13389-015-0111-4
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01233325/file/927.pdf BibTex
titre
A Unified Formalism for Physical Attacks
auteur
Hélène Le Bouder, Ronan Lashermes, Yanis Linge, Bruno Robisson, Assia Tria
article
2014
identifiant
emse-01233335
Resume_court
The security of cryptographic algorithms can be considered in two contexts. On the one hand, these a .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01233335/file/682.pdf BibTex

Poster

titre
Design of Bulk Built-In Current Sensors to Detect Single Event Effects and Laser-Induced Fault Injection Attempts
auteur
Jean-Max Dutertre, Rodrigo Possamai Bastos, Olivier Potin, Marie-Lise Flottes, Giorgio Di Natale, Bruno Rouzeyre
article
Joint MEDIAN–TRUDEVICE Open Forum, Sep 2014, Amsterdam, Netherlands. 2014
identifiant
emse-01099040
Resume_court
Bulk Built-In Current Sensors (BBICS) are fault detection mechanisms embedded in integrated systems. .....
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Thèse

titre
Sécurisation de programmes assembleur face aux attaques visant les processeurs embarqués
auteur
Nicolas Moro
article
Cryptographie et sécurité [cs.CR]. Université Pierre et Marie Curie - Paris VI, 2014. Français. ⟨NNT : 2014PA066616⟩
identifiant
tel-01147122
Resume_court
Cette thèse s'intéresse à la sécurité des programmes embarqués face aux attaques par injection .....
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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01147122/file/these_archivage_3076010o.pdf BibTex
titre
UN FORMALISME UNIFIANT LES ATTAQUES PHYSIQUES SUR CIRCUITS CRYTOGRAPHIQUES ET SON EXPLOITATION AFIN DE COMPARER ET RECHERCHER DE NOUVELLES ATTAQUES
auteur
Hélène Le Bouder
article
Autre. Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, 2014. Français. ⟨NNT : 2014EMSE0759⟩
identifiant
tel-01140014
Resume_court
Cette thèse se situe dans la cryptanalyse physique des algorithmes de chiffrement par blocs. Un alg .....
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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01140014/file/lebouder-helene-diff.pdf BibTex
titre
Étude des techniques d'injection de fautes par violation de contraintes temporelles permettant la cryptanalyse physique de circuits sécurisés
auteur
Loic Zussa
article
Autre. Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, 2014. Français. ⟨NNT : 2014EMSE0757⟩
identifiant
tel-01134488
Resume_court
Si un algorithme cryptographique peut être mathématiquement sûr, son implémentation matérielle .....
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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01134488/file/zussa-loic-diff.pdf BibTex

2013

Article dans une revue

titre
Sensitivity tuning of a bulk built-in current sensor for optimal transient-fault detection
auteur
Jean-Max Dutertre, Rodrigo Possamai Bastos, Olivier Potin, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre, Giorgio Di Natale
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2013, European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 53 (9), pp.1320-1324. ⟨10.1016/j.microrel.2013.07.069⟩
identifiant
emse-01100723
Resume_court
Bulk Built-In Current Sensors (BBICSs) are able to detect anomalous transient currents induced in th .....
DOI
DOI : 10.1016/j.microrel.2013.07.069
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01100723/file/HAL_MR_2013_Sensitivity_Tuning_of_a_Bulk_Built_In_Current_Sensor_for_Optimal_Transient_Fault_Detection.pdf BibTex
titre
Electrical modeling of the photoelectric effect induced by a pulsed laser applied to an SRAM cell
auteur
A. Sarafianos, C. Roscian, Jean-Max Dutertre, M. Lisart, A. Tria
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2013, 53 (9-11), pp.1300 - 1305. ⟨10.1016/j.microrel.2013.07.125⟩
identifiant
emse-01100724
Resume_court
This abstract presents an electrical model of an SRAM cell exposed to a pulsed Photoelectrical Laser .....
DOI
DOI : 10.1016/j.microrel.2013.07.125
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01100724/file/HAL_MR_2013_Electrical_modeling_of_the_photoelectric_effect_induced_by_a_pulsed_laser_applied_to_an_SRAM_cell.pdf BibTex

Communication dans un congrès

titre
Laser-Induced Faults in SRAM Memory Cells: Experimental Results and Simulation-based Analysis
auteur
Jean-Max Dutertre, Cyril Roscian, Alexandre Sarafianos, Marc Lacruche
article
TRUDEVICE - WG Meetings, 2013, Dec 2013, Freiburg, Germany
identifiant
emse-01110358
Resume_court
I. Introduction Laser fault injection – mechanism SRAM fault injection sensitivity II. Fault model .....
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BibTex
titre
Differential Analysis of Round-Reduced AES Faulty Ciphertexts
auteur
Amir-Pasha Mirbaha, Jean-Max Dutertre, Assia Tria
article
Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2013 IEEE International Symposium on, Oct 2013, New York, United States. ⟨10.1109/DFT.2013.6653607⟩
identifiant
emse-01109144
Resume_court
This paper describes new Round Reduction analysis attacks on an Advanced Encryption Standard (AES) i .....
DOI
DOI : 10.1109/DFT.2013.6653607
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01109144/file/HAL_DFT2013_Differential%20Analysis%20of%20Round-Reduced%20AES%20Faulty%20Ciphertexts.pdf BibTex
titre
Robustness improvement of an SRAM cell against laser-induced fault injection
auteur
Alexandre Sarafianos, Mathieu Lisart, Olivier Gagliano, Valérie Serradeil, Cyril Roscian, Jean-Max Dutertre, Assia Tria
article
Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2013 IEEE International Symposium on, Oct 2013, New York, United States. ⟨10.1109/DFT.2013.6653598⟩
identifiant
emse-01109141
Resume_court
This paper presents the design of an SRAM cell with a robustness improvement against laser-induced f .....
DOI
DOI : 10.1109/DFT.2013.6653598
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01109141/file/HAL_DFT13_Robustness_improvement_of_an_SRAM_cell_against_laser_induced_fault_injection.pdf BibTex
titre
Sensitivity tuning of a bulk built-in current sensor for optimal transient-fault detection
auteur
Jean-Max Dutertre, Rodrigo Possamai Bastos, Olivier Potin, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre, Giorgio Di Natale
article
ESREF: European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Sep 2013, Arcachon, France. pp.B3c-2 #68
identifiant
hal-00872705
Resume_court
Bulk Built-In Current Sensors (BBICSs) are able to detect anomalous transient currents induced in th .....
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BibTex
titre
Fault Injection to Reverse Engineer DES-Like Cryptosystems
auteur
Hélène Le Bouder, Sylvain Guilley, Bruno Robisson, Assia Tria
article
Chip to cloud security forum, Sep 2013, Nice, France
identifiant
cea-01094248
Resume_court
Security is a key component for information technologies and communication and is mainly provided by .....
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BibTex
titre
Formalism for physical attacks
auteur
Hélène Le Bouder, Bruno Robisson, A. Tria
article
Chip to cloud security forum, Sep 2013, nice, France
identifiant
cea-01094244
Resume_court
Security is a key component for information technologies and communication. Among the security threa .....
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BibTex
titre
Electromagnetic fault injection on microcontrollers
auteur
Nicolas Moro, Amine Dehbaoui, Karine Heydemann, Bruno Robisson, Emmanuelle Encrenaz
article
Chip-to-Cloud Security Forum 2013, Sep 2013, Nice, France
identifiant
emse-00871686
Resume_court
The purpose of this work is to define an assembly-level fault model for electromagnetic fault inject .....
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titre
Formal verification of a software countermeasure against instruction skip attacks
auteur
Karine Heydemann, Nicolas Moro, Emmanuelle Encrenaz, Bruno Robisson
article
PROOFS 2013, Aug 2013, Santa-Barbara, United States
identifiant
emse-00869509
Resume_court
Fault attacks against embedded circuits enabled to define many new attack paths against secure circu .....
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titre
Fault Model Analysis of Laser-Induced Faults in SRAM Memory Cells
auteur
Cyril Roscian, Alexandre Sarafianos, Jean-Max Dutertre, Assia Tria
article
Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC), 2013 Workshop on, Aug 2013, Santa-Barbara, United States. ⟨10.1109/FDTC.2013.17⟩
identifiant
emse-01109133
Resume_court
The use of a laser to inject faults into SRAM memory cells is well known. However, the corresponding .....
DOI
DOI : 10.1109/FDTC.2013.17
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01109133/file/HAL_FDTC2013_Fault%20Model%20Analysis%20of%20Laser-Induced%20Faults%20in%20SRAM%20Memory%20Cells.pdf BibTex
titre
Electromagnetic fault injection: towards a fault model on a 32-bit microcontroller
auteur
Nicolas Moro, Amine Dehbaoui, Karine Heydemann, Bruno Robisson, Emmanuelle Encrenaz
article
10th workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography - FDTC 2013, Aug 2013, Santa-Barbara, United States. pp.77-88, ⟨10.1109/FDTC.2013.9⟩
identifiant
emse-00871218
Resume_court
Injection of transient faults as a way to attack cryptographic implementations has been largely stud .....
DOI
DOI : 10.1109/FDTC.2013.9
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00871218/file/FDTC_2013_HAL.pdf BibTex
titre
Power supply glitch induced faults on FPGA: an in-depth analysis of the injection mechanism
auteur
Loïc Zussa, Jean-Max Dutertre, Jessy Clédière, Assia Tria
article
On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2013 IEEE 19th International, Jul 2013, Chania, Greece. ⟨10.1109/IOLTS.2013.6604060⟩
identifiant
emse-01109131
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Secure circuits are prone to a wide range of physical attacks. Among those are fault attacks based o .....
DOI
DOI : 10.1109/IOLTS.2013.6604060
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01109131/file/HAL_iolts13_Power_supply_glitch_induced_faults_on_FPGA_an_in_depth_analysis_of_the_injection_mechanism.pdf BibTex
titre
Hardware integrity : from design to characterisation
auteur
Jacques Jean-Alain Fournier, Bruno Robisson
article
Leti Innovation days, CEA-LETI, Jun 2013, Grenoble, France
identifiant
cea-01094255
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none
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titre
The bad and the good of physical functions
auteur
Bruno Robisson, Ingrid Exurville, Jean-Yves Zie, Hélène Le Bouder, Jean-Max Dutertre, Jacques Jean-Alain Fournier, Jean-Baptiste Rigaud
article
Cryptarchi, Jun 2013, Fréjus, France
identifiant
cea-01094232
Resume_court
Security is a key component of communication and information technology systems: Integrated Circuits .....
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titre
Frontside Laser Fault Injection on Cryptosystems – Application to the AES' last round
auteur
Cyril Roscian, Jean-Max Dutertre, Assia Tria
article
Hardware-Oriented Security and Trust (HOST), 2013 IEEE International Symposium on, Jun 2013, Austin, United States. ⟨10.1109/HST.2013.6581576⟩
identifiant
emse-01109128
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Laser fault injection through the front side (and consequently the metal-fills) of an IC is often pe .....
DOI
DOI : 10.1109/HST.2013.6581576
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01109128/file/HAL_Host2013_Frontside_Laser_Fault_Injection_on_Cryptosystems_Application_to_the_AES_last_round%20-%20copie.pdf BibTex
titre
Formalisme des attaques physiques
auteur
Hélène Le Bouder, Bruno Robisson, Assia Tria
article
Crypto'Puces 2013, May 2013, Porquerolles, France
identifiant
emse-00907718
Resume_court
Un algorithme cryptographique peut être prouvé sécurisé mathématiquement, en le ramenant à un .....
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titre
Attaques par injection de fautes sur microcontrôleur et contre-mesures au niveau du code embarqué
auteur
Nicolas Moro
article
Rencontres Crypto'Puces 2013, May 2013, Porquerolles, France
identifiant
emse-00871661
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Ce travail présente un ensemble de résultats expérimentaux visant à définir un modèle de faute .....
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titre
Investigation of Near-Field Pulsed EMI at IC Level
auteur
Amine Dehbaoui, Jean-Max Dutertre, Bruno Robisson, Assia Tria
article
Asia-Pacific International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility, May 2013, Melbourne, Australia
identifiant
cea-01097120
Resume_court
This article describes the use of a near-field electromagnetic pulse EMP injection technique in orde .....
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https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-01097120/file/dehbaoui_2013_investigation_near_field_pulsed_EMI_at_IC_level_APEMC.pdf BibTex
titre
Building the electrical model of the pulsed photoelectric laser stimulation of an NMOS transistor in 90nm technology
auteur
Alexandre Sarafianos, Olivier Gagliano, Valérie Serradeil, Mathieu Lisart, Jean-Max Dutertre, Assia Tria
article
International Reliability Physics Symposium (IRPS), Apr 2013, Monterey, United States. ⟨10.1109/IRPS.2013.6532028⟩
identifiant
emse-01109124
Resume_court
This paper presents measurements of pulsed photoelectrical laser stimulation of an NMOS transistor i .....
DOI
DOI : 10.1109/IRPS.2013.6532028
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01109124/file/HAL_IRPS_2013_Building_the_electrical_model_of_the_pulsed_photoelectric_laser_stimulation_of_an_NMOS_transistor_in_90nm_technology.pdf BibTex
titre
Discussion on the Model of Laser Induced Faults in SRAM Memory cells
auteur
Cyril Roscian, Alexandre Sarafianos, Jean-Max Dutertre, Assia Tria, Mathieu Lisart
article
Forth International Workshop on Constructive Side-Channel Analysis and Secure Design, COSADE 2013, Mar 2013, Paris, France
identifiant
emse-01109302
Resume_court
Discussion on the Model of Laser Induced Faults in SRAM Memory cells
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titre
Electromagnetic glitch on the AES round counter
auteur
Amine Dehbaoui, Amir-Pasha Mirbaha, Nicolas Moro, Jean-Max Dutertre, Assia Tria
article
Fourth International Workshop on Constructive Side-Channel Analysis and Secure Design - COSADE'2013, Mar 2013, Paris, France. pp 17-31, ⟨10.1007/978-3-642-40026-1⟩
identifiant
emse-00837514
Resume_court
This article presents a Round Addition Analysis on a software implementation of the Advanced Encrypt .....
DOI
DOI : 10.1007/978-3-642-40026-1
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00837514/file/COSADE_2013_HAL.pdf BibTex
titre
From physical stresses to timing constraints violation
auteur
Loïc Zussa, Jean-Max Dutertre, Jessy Clédière, Assia Tria
article
Forth International Workshop on Constructive Side-Channel Analysis and Secure Design, COSADE 2013, Mar 2013, Paris, France
identifiant
emse-01110353
Resume_court
Secure circuits are prone to a wide range of physical attacks. Among those are fault attacks based o .....
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Poster

titre
Practical measurements of data path delays for IP authentication & integrity verification
auteur
Ingrid Exurville, Jacques Jean-Alain Fournier, Jean-Max Dutertre, Bruno Robisson, Assia Tria
article
Reconfigurable and Communication-Centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2013 8th International Workshop on, Jul 2013, Darmstadt, Germany. ⟨10.1109/ReCoSoC.2013.6581551⟩
identifiant
emse-01109140
Resume_court
This paper describes the results of the practical measurements done to determine the path delay asso .....
DOI
DOI : 10.1109/ReCoSoC.2013.6581551
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Thèse

titre
Cryptanalyse physique de circuits cryptographiques à l’aide de sources LASER
auteur
Cyril Roscian
article
Autre. Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, 2013. Français. ⟨NNT : 2013EMSE0708⟩
identifiant
tel-00966923
Resume_court
Les circuits cryptographiques, parce qu'ils contiennent des informations confidentielles, font l'obj .....
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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00966923/file/Roscian-Cyril-diff.pdf BibTex
titre
Injection de fautes par impulsion laser dans des circuits sécurisés
auteur
Alexandre Sarafianos
article
Autre. Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, 2013. Français. ⟨NNT : 2013EMSE0703⟩
identifiant
tel-00944943
Resume_court
De tout temps, l’Homme s’est vu contraint de protéger les fruits de sa créativité et les doma .....
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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00944943/file/Sarafianos-Alexandre-0703.pdf BibTex

2012

Article dans une revue

titre
Building the electricalmodel of the PhotoelectricLaserStimulation of a PMOS transistor in 90 nm technology
auteur
Sarafianos Alexandre, R. Llido, Jean-Max Dutertre, Olivier Gagliano, Valérie Serradeil, Mathieu Lisart, V. Goubier, Assia Tria, Vincent Pouget, D. Lewis
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2012, 52, pp.2035-2038
identifiant
emse-00742622
Resume_court
This paper presents the electricalmodel of aPMOStransistor in 90 nm technology under 1064 nm Photoel .....
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titre
Building the electrical model of the Photoelectric Laser Stimulation of a PMOS transistor in 90nm technology
auteur
A Sarafianos, R Llido, O Gagliano, V Serradeil, M Lisart, V Goubier, Jean-Max Dutertre, A Tria, V Pouget, D Lewis
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2012, pp.2035-2038. ⟨10.1016/j.microrel.2012.06.047⟩
identifiant
emse-01110360
Resume_court
This paper presents the electrical model of a PMOS transistor in 90nm technology under 1064nm Photoe .....
DOI
DOI : 10.1016/j.microrel.2012.06.047
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01110360/file/HAL_MR2012_Building_the_electrical_model_of_the_Photoelectric_Laser_Stimulation_of_a_PMOS_transistor_in_90_nm_technology.pdf BibTex
titre
Secure Docking Station and its protection against hardware attacks
auteur
Apostolos Fournaris, Jacques Jean-Alain Fournier, Daniel Hein, Guillaume Reymond
article
"Technical Sciences", University of Warmia and Mazury publishing,, 2012
identifiant
emse-00742721
Resume_court
Security and Trust in communication systems where very sensitive information are exchanged is achiev .....
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titre
Security characterisation of a hardened AES cryptosystem using a laser
auteur
Cyril Roscian, Florian Praden, Jean-Max Dutertre, Jacques Jean-Alain Fournier, Assia Tria
article
"Technical Sciences", University of Warmia and Mazury publishing,, 2012
identifiant
emse-00742726
Resume_court
The AES is a standard encryption algorithm used in numerous cryptographic systems like smart cards, .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00742726/file/HAL_Roscian_2012_SECURITY_CHARACTERISATION_OF_A_HARDENED_AES_CRYPTOSYSTEM_USING_A_LASER.pdf BibTex
titre
EM Probes Characterisation for Security Analysis
auteur
Benjamin Mounier, Anne-Lise Ribotta, Jacques Jean-Alain Fournier, Michel Agoyan, Assia Tria
article
Cryptography and Security: From Theory to Applications, 2012, pp.248-264
identifiant
emse-00742768
Resume_court
Along with the vast use of cryptography in security devices came the emergence of attacks like Elect .....
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Communication dans un congrès

titre
Investigation of timing constraints violation as a fault injection means
auteur
Loïc Zussa, Jean-Max Dutertre, Jessy Clédière, Bruno Robisson, Assia Tria
article
27th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), Nov 2012, Avignon, France. pas encore paru
identifiant
emse-00742652
Resume_court
Secure circuits are prone to a wide range of physical attacks. Among them, fault attacks are based o .....
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BibTex
titre
A unified formalism for side-channel and fault attacks on cryptographic circuits
auteur
Bruno Robisson, Hélène Le Bouder, Jean-Max Dutertre, Assia Tria
article
27th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), Nov 2012, Avignon, France
identifiant
emse-00742510
Resume_court
Security is a key component for information technologies and communication. Security is a very large .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00742510/file/robisson_2012_unified_formalism_DCIS.pdf BibTex
titre
Characterization and TCAD Simulation of 90nm Technology PMOS Transistor Under Continuous Photoelectric Laser Stimulation for Failure Analysis Improvement
auteur
R Llido, A Sarafianos, O Gagliano, V Serradeil, V Goubier, M Lisart, G Haller, Vincent Pouget, Dean Lewis, Jean-Max Dutertre, Assia Tria
article
38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2012, Nov 2012, Phoenix, United States
identifiant
emse-01130626
Resume_court
This study responds to our need to optimize failure analysis methodologies based on laser/silicon in .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130626/file/HAL_ISTFA_2012_Characterization_and_TCAD_Simulation_of_90nm_Technology_PMOS_Transistor_Under_Continuous_Photoelectric_Laser_Stimulation_for_Failure_Analysis_Improvement.pdf BibTex
titre
Building the electrical model of the pulsed photoelectric laser stimulation of an NMOS transistor in 90nm technology
auteur
A Sarafianos, R Llido, O Gagliano, V Serradeil, Mathieu Lisart, V. Goubier, Jean-Max Dutertre, Assia Tria, Vincent Pouget, Dean Lewis
article
38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2012, Nov 2012, Phoenix, United States
identifiant
emse-01130636
Resume_court
This paper presents the electrical model of an NMOS transistor in 90nm technology under 1064nm Photo .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130636/file/HAL_ISTFA_2012_Building_the_electrical_model_of_the_Photoelectric_Laser_Stimulation_of_an_NMOS_transistor_in_90nm_technology.pdf BibTex
titre
Building the electricalmodel of the PhotoelectricLaserStimulation of a NMOS transistor in 90 nm technology
auteur
Sarafianos Alexandre, R. Llido, Jean-Max Dutertre, Olivier Gagliano, Valérie Serradeil, Mathieu Lisart, V. Goubier, Assia Tria, Vincent Pouget, D. Lewis
article
38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Nov 2012, Phoenix, United States. pas encore paru
identifiant
emse-00742629
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BibTex
titre
Electromagnetic Transient Faults Injection on a hardware and software implementations of AES
auteur
Amine Dehbaoui, Jean-Max Dutertre, Bruno Robisson, Assia Tria
article
FDTC 2012, Sep 2012, Leuven, Belgium. pp.7
identifiant
emse-00742639
Resume_court
This paper considers the use of electromagnetic pulses (EMP) to inject transient faults into the cal .....
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BibTex
titre
A DFA on AES based on the entropy of error distributions
auteur
Ronan Lashermes, Guillaume Reymond, Jean-Max Dutertre, Jacques Jean-Alain Fournier, Bruno Robisson, Assia Tria
article
FDTC 2012, Sep 2012, Leuven, Belgium. pp.34
identifiant
emse-00742642
Resume_court
Differential fault analysis (DFA) techniques have been widely studied during the past decade. To our .....
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BibTex
titre
Characterization and TCAD simulation of 90 nm technology transistors under continuous photoelectric laser stimulation for failure analysis improvement
auteur
Alexandre Sarafianos, R. Llido, Olivier Gagliano, Valérie Serradeil, V. Goubier, M. Lisart, G. Haller, V. Pouget, D. Lewis, Jean-Max Dutertre, Assia Tria
article
19th IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE PHYSICAL AND FAILURE ANALYSIS OF INTEGRATED CIRCUITS, Jul 2012, Singapore, Singapore. pp.1-6
identifiant
emse-00742705
Resume_court
This study is driven by the need to optimize failure analysis methodologies based on laser/silicon i .....
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BibTex
titre
Countermeasures against EM Analysis
auteur
Paolo Maistri, Sébastien Tiran, Amine Dehbaoui, Philippe Maurine, Jean-Max Dutertre
article
10th CryptArchi Workshop - St-Etienne Goutelas 2012, Jun 2012, Saint-Etienne, France
identifiant
emse-01130646
Resume_court
Countermeasures against EM Analysis
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titre
On the use of the EM medium as a fault injection means
auteur
Philippe Maurine, Amine Dehbaoui, François Poucheret, Jean-Max Dutertre, Bruno Robisson, Assia Tria
article
CrypArchi: Cryptographic Architectures, Jun 2012, St-Etienne, France
identifiant
emse-00742707
Resume_court
The electromagnetic (EM) side channel is a well known source of information leakage. It may be used .....
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BibTex
titre
Fault Round Modification Analysis of the Advanced Encryption Standard
auteur
Jean-Max Dutertre, Amir Pasha Mirbaha, David Naccache, Anne-Lise Ribotta, Assia Tria, Thierry Vaschalde
article
Hardware-Oriented Security and Trust (HOST), 2012, Jun 2012, San Francisco, United States. pp.140--145, ⟨10.1109/HST.2012.6224334⟩
identifiant
emse-00742567
Resume_court
This paper describes a new physical analysis technique based on changing the number of the AES round .....
DOI
DOI : 10.1109/HST.2012.6224334
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Chapitre d'ouvrage

titre
Operand Folding Hardware Multipliers
auteur
Byungchun Chung, Amir Pasha Mirbaha, David Naccache, Sandra Marcello, Karim Sabeg
article
David Naccache. Cryptography and Security: From Theory to Applications:Essays Dedicated to Jean-Jacques Quisquater on the Occasion of His 65th Birthday, 6805, Springer, pp.319-328, 2012, LNCS - Lecture Notes in Computer Science, 978-3-642-28367-3. ⟨10.1007/978-3-642-28368-0_21⟩
identifiant
emse-00742764
Resume_court
This paper describes a new accumulate-and-add multiplication algorithm. The method partitions one of .....
DOI
DOI : 10.1007/978-3-642-28368-0_21
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BibTex

Autre publication

titre
Injection of transient faults using electromagnetic pulses Practical results on a cryptographic system
auteur
Amine Debhaoui, Jean-Max Dutertre, Bruno Robisson, P. Orsatelli, Philippe Maurine, Assia Tria
article
2012
identifiant
emse-00742850
Resume_court
This article considers the use of magnetic pulses to inject transient faults into the calculations o .....
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Poster

titre
Un formalisme commun aux attaques par canaux auxiliaires et par injection de fautes
auteur
Hélène Le Bouder, Nicolas Moro, Bruno Robisson, Emmanuelle Encrenaz, Assia Tria
article
Colloque National GDR SOC-SIP 2012, Jun 2012, Paris, France
identifiant
emse-00742546
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2011

Article dans une revue

titre
Design and characterisation of an AES chip embedding countermeasures
auteur
Jacques Jean-Alain Fournier, Michel Agoyan, Sylvain Bouquet, Jean-Max Dutertre, Jean-Baptiste Rigaud, Bruno Robisson, Assia Tria
article
International Journal of Intelligent Engineering Informatics, 2011, 1 (3/4), pp.328-347
identifiant
emse-00644114
Resume_court
In critical communication infrastructures, hardware accelerators are often used to speed up cryptogr .....
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BibTex
titre
Invasive Attacks
auteur
Assia Tria, Hamid Choukri
article
Encyclopedia of Cryptography and Security, 2, 2011, 2011 (Part 9), pp.Pages 623-629. ⟨10.1007/978-1-4419-5906-5_511⟩
identifiant
emse-00644128
Resume_court
A smart card contains an embedded microchip with metallic contacts on the front. The smart card does .....
DOI
DOI : 10.1007/978-1-4419-5906-5_511
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BibTex
titre
Design and characterisation of an AES chip embedding countermeasures
auteur
Michel Agoyan, Sylvain Bouquet, Jean-Max Dutertre, Jacques Jean-Alain Fournier, Jean-Baptiste Rigaud, Bruno Robisson, Assia Tria
article
International Journal of Intelligent Engineering Informatics, 2011, pp.00
identifiant
emse-00624400
Resume_court
In critical communication infrastructures, hardware accelerators are often used to speed up cryptogr .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00624400/file/HAL_Design_characterisation_of_an_AES_chip_embedding_countermeasures.pdf BibTex

Communication dans un congrès

titre
ElectroMagnetic Analysis (EMA) of Software AES on Java Mobile Phones
auteur
Driss Aboulkassimi, Michel Agoyan, Laurent Freund, Jacques Jean-Alain Fournier, Bruno Robisson, Assia Tria
article
IEEE Intl. Workshop on Information Forensics and Security - WIFS'11, Nov 2011, Foz do Iguaçu, Brazil. Paper 75
identifiant
emse-00651026
Resume_court
Smartphones, whose market share has increased by 54% between 2009 and 2010, is one of the favored pl .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00651026/file/PID2055323.pdf BibTex
titre
Local and Direct Power Injection on CMOS Integrated Circuits
auteur
Philippe Maurine, François Poucheret, Karim Tobich, Mathieu Lisart, Bruno Robisson, Laurent Chusseau
article
FDTC'2011: Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, Sep 2011, Nara, Japan. pp.100-104, ⟨10.1109/FDTC.2011.18⟩
identifiant
lirmm-00607868
Resume_court
The paper aims at demonstrating experimentally that the tiny ElectroMagnetic (EM) coupling between t .....
DOI
DOI : 10.1109/FDTC.2011.18
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BibTex
titre
Low-cost recovery for the code integrity protection in secure embedded processors
auteur
Minh Huu Nguyen, Bruno Robisson, Michel Agoyan, Nathalie Drach
article
Symposium on Hardware-Oriented Security and Trust (HOST 2011), Jun 2011, San Diego, United States. pp.99-104, ⟨10.1109/HST.2011.5955004⟩
identifiant
emse-00620758
Resume_court
To ensure the code integrity in secure embedded processors, most previous works focus on detecting a .....
DOI
DOI : 10.1109/HST.2011.5955004
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BibTex
titre
Review of fault injection mechanisms and consequences on countermeasures design
auteur
Jean-Max Dutertre, Jacques Jean-Alain Fournier, Amir Pasha Mirbaha, David Naccache, Jean-Baptiste Rigaud, Bruno Robisson, Assia Tria
article
Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), 2011 6th International Conference on, Apr 2011, athens, Greece. pp.1 - 6, ⟨10.1109/DTIS.2011.5941421⟩
identifiant
emse-00623133
Resume_court
The secret keys handled by cryptographic devices can be extracted using fault attacks associated wit .....
DOI
DOI : 10.1109/DTIS.2011.5941421
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BibTex
titre
Design of a duplicated fault-detecting AES chip and yet using clock set-up time violations to extract 13 out of 16 bytes of the secret key
auteur
Michel Agoyan, Sylvain Bouquet, Marion Doulcier-Verdier, Jean-Max Dutertre, Jacques Jean-Alain Fournier, Jean-Baptiste Rigaud, Bruno Robisson, Assia Tria
article
Smart Systems Integration, Mar 2011, Dresden, Germany. pp.00
identifiant
emse-00625679
Resume_court
The secret keys manipulated by cryptographic circuits can be extracted using fault injections associ .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00625679/file/HAL_SSI2011_Design_of_a_duplicated_fault_detecting_AES_chip_and_yet_using_clock_set_up_time_violations_to_extract_13_out_of_16_bytes_of_the_secret_key.pdf BibTex
titre
Management of the security in smart secure devices
auteur
Bruno Robisson, Michel Agoyan, Sylvain Bouquet, Minh Huu Nguyen, Sébastien Le Henaff, Patrick Soquet, Guillaume Phan, Franck Wajsburt, Pirouz Bazargan-Sabet, Nathalie Drach
article
SSI 2010 - Smart Systems Integration, Mar 2011, Dresden, Germany. pp.1-9
identifiant
emse-00620741
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BibTex
titre
A Side-Channel and Fault-Attack Resistant AES Circuit Working on Duplicated Complemented Values
auteur
Jacques Jean-Alain Fournier, Doulcier Marion, Jean-Max Dutertre, Jean-Baptiste Rigaud, Bruno Robisson, Assia Tria
article
International Solid State Circuits Conference - ISSCC 2011, Feb 2011, San Francisco, United States. pp.15.6
identifiant
emse-00541009
Resume_court
A secure AES chip was implemented in HCMOS9gp 130nm STM technology. The counter-measures are based o .....
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BibTex
titre
Implementation of complex strategies of security in secure embedded systems
auteur
Bruno Robisson, Michel Agoyan, Sébastien Le Henaff, Patrick Soquet, Guillaume Phan, Franck Wajsbürt, Pirouz Bazargan-Sabet
article
NTMS 2011 - 4th IFIP International Conference on New Technologies, Mobility and Security, Feb 2011, Paris, France. pp.1-5, ⟨10.1109/NTMS.2011.5721145⟩
identifiant
emse-00575870
Resume_court
Secure components are subject to physical attacks whose aim is to recover the secret information tha .....
DOI
DOI : 10.1109/NTMS.2011.5721145
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BibTex

Chapitre d'ouvrage

titre
Side Channel Attacks
auteur
Victor Lomné, Amine Debhaoui, Philippe Maurine, Michel Robert, Lionel Torres
article
Security Trends for FPGAS From Secured to Secure Reconfigurable Systems, Springer, pp.47-72, 2011
identifiant
lirmm-00809329
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BibTex
titre
Invasive Attacks
auteur
Hamid Choukri, Assia Tria
article
Encyclopedia of cryptography and security, Springer US, pp.623-629, 2011, Print ISBN : 978-1-4419-5905-8 Online ISBN : 978-1-4419-5906-5. ⟨10.1007/978-1-4419-5906-5_511⟩
identifiant
emse-00742801
Resume_court
Invasive attacks refer to attacks of physical systems where the physical properties of the chip are .....
DOI
DOI : 10.1007/978-1-4419-5906-5_511
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Thèse

titre
Etude de la vulnérabilité des circuits cryptographiques l'injection de fautes par laser.
auteur
Amir-Pasha Mirbaha
article
Autre. Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, 2011. Français. ⟨NNT : 2011EMSE0636⟩
identifiant
tel-00844751
Resume_court
Les circuits cryptographiques peuvent etre victimes d'attaques en fautes visant leur implementation .....
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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00844751/file/Mirbaha_Amir-Pasha_2011.pdf BibTex

2010

Communication dans un congrès

titre
Smart On Smart
auteur
Michel Agoyan, Pirouz Bazargan Sabet, Karl Bekkou, Bouquet Sylvain, Sébastien Le Henaff, E. Lepavec, Minh Huu Nguyen, Guillaume Phan, Bruno Robisson, Patrick Soquet, Franck Wajsbürt
article
Colloque « Systèmes embarqués, sécurité et sûreté de fonctionnement », Dec 2010, Toulouse, France
identifiant
cea-01097115
Resume_court
Among other threats, secure components are subjected to physical attacks whose aim is to recover the .....
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titre
Single-Bit DFA Using Multiple-Byte Laser Fault Injection.
auteur
Amir Pasha Mirbaha, Jean-Max Dutertre, Anne-Lise Ribotta, Michel Agoyan, Assia Tria, David Naccache
article
10th IEEE International Conference on Technologies for Homeland Security, Nov 2010, Boston, United States
identifiant
emse-00552195
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titre
TISPHANIE, bringing the truth about the security of mobile phones
auteur
Jacques Jean-Alain Fournier, Anthony Ferrari
article
e-smart 2010, Sep 2010, Sophia-Antipolis, France
identifiant
emse-00541000
Resume_court
Until quite recently, security hasn't been such a big of a concern for mobile phones, apart for some .....
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titre
Memory address scrambling revealed using fault attacks
auteur
Jacques Jean-Alain Fournier, Philippe Loubet-Moundi
article
Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC), 2010, Aug 2010, Santa-Barbara, United States. pp.30-36, ⟨10.1109/FDTC.2010.13⟩
identifiant
emse-00540990
Resume_court
Today's trend in the smart card industry is to move from ROM+EEPROM chips to Flash-only products. Re .....
DOI
DOI : 10.1109/FDTC.2010.13
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titre
Reproducible Single-Byte Laser Fault Injection
auteur
Jean-Max Dutertre, Amir-Pasha Mirbaha, David Naccache, Assia Tria
article
6th Conference on Ph.D. Research in Microelectronics & Electronics, PRIME 2010, Jul 2010, Berlin, Germany
identifiant
emse-01130782
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This note describes laser fault experiments on an 8-bit 0.35µm microcontroller with no countermeasu .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130782/file/HAL_PRIME2010_Reproducible_Single_Byte_Laser_Fault_Injection.pdf BibTex
titre
How to Flip a Bit?
auteur
Michel Agoyan, Jean-Max Dutertre, Amir-Pasha Mirbaha, David Naccache, Anne-Lise Ribotta, Assia Tria
article
On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2010 IEEE 16th International, Jul 2010, Corfu, Greece. ⟨10.1109/IOLTS.2010.5560194⟩
identifiant
emse-01130826
Resume_court
This note describes laser fault experiments on an 8-bit 0.35µm microcontroller with no countermeasu .....
DOI
DOI : 10.1109/IOLTS.2010.5560194
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130826/file/HAL_IOLTS2010_How_to_Flip_a_Bit.pdf BibTex
titre
SOS An innovative secure system architecture
auteur
Michel Agoyan, Bruno Robisson, Minh Huu Nguyen, Pirouz Bazargan-Sabet, Guillaume Phan, Sébastien Le Henaff
article
Cryptarchi, Jun 2010, Paris, France
identifiant
cea-01097117
Resume_court
`Smart On Smart' (SOS) is a project launched in 2008 and funded by the `Agence Nationale pour la Rec .....
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titre
Strategy Of Security on Smart On Smart
auteur
Patrick Soquet, Bruno Robisson, Michel Agoyan, Guillaume Phan, Pirouz Bazargan Sabet, Franck Wajsbürt
article
PACA Security Trends In embedded Security, Jun 2010, Gardanne, France
identifiant
cea-01097124
Resume_court
Among other threats, secure components are subjected to physical attacks whose aim is to recover the .....
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titre
Experimental Fault Injection around the Prototyping of an AES Cryptosystem
auteur
Jean-Baptiste Rigaud, Jean-Max Dutertre, Michel Agoyan, Bruno Robisson, Assia Tria
article
Reconfigurable Communication-centric Systems on Chip 2010, May 2010, karlsruhe, Germany
identifiant
emse-00505355
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titre
When Clocks Fail: On Critical Paths and Clock Faults
auteur
Michel Agoyan, Jean-Max Dutertre, David Naccache, Bruno Robisson, Assia Tria
article
9th IFIP WG 8.1/11.2 International conference, CARDIS 2010, Apr 2010, Passau, Germany. pp.182-193, ⟨10.1007/978-3-642-12510-2_13⟩
identifiant
emse-00474337
Resume_court
Whilst clock fault attacks are known to be a serious security threat, an in-depth explanation of suc .....
DOI
DOI : 10.1007/978-3-642-12510-2_13
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00474337/file/HAL_CARDIS2010_When_Clocks_Fail_On_Critical_Paths_And_Clock_Faults.pdf BibTex
titre
Low-cost fault tolerance on the ALU in simple pipelined processors
auteur
Minh-Huu Nguyen, Bruno Robisson, Michel Agoyan, Nathalie Drach
article
DDECS 2010 - 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2010, Vienne, Austria. pp.28-31, ⟨10.1109/DDECS.2010.5491822⟩
identifiant
emse-00481515
Resume_court
For security issues in portable applications such as smart card, various proposed techniques can be .....
DOI
DOI : 10.1109/DDECS.2010.5491822
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titre
When Clocks Fail: On Critical Paths and Clock Faults
auteur
Michel Agoyan, Jean-Max Dutertre, David Naccache, Bruno Robisson, Assia Tria
article
9th IFIP WG 8.8/11.2 International Conference on Smart Card Research and Advanced Applications (CARDIS), Apr 2010, Passau, Germany. pp.182-193, ⟨10.1007/978-3-642-12510-2_13⟩
identifiant
emse-00505344
Resume_court
Whilst clock fault attacks are known to be a serious security threat, an in-depth explanation of suc .....
DOI
DOI : 10.1007/978-3-642-12510-2_13
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titre
Revue expérimentale des techniques d'injection de fautes
auteur
Jean-Max Dutertre, Amir Pasha Mirbaha, Assia Tria, Bruno Robisson, Michel Agoyan
article
Colloque nationale Groupement De Recherche SOC-SIP, Mar 2010, PARIS, France
identifiant
emse-00481623
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Thèse

titre
Méthodologie de conception de composants intégrés protégés contre les attaques par corrélation
auteur
Selma Laabidi
article
Autre. Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, 2010. Français. ⟨NNT : 2010EMSE0562⟩
identifiant
tel-00488013
Resume_court
Les circuits cryptographiques, parce qu'ils contiennent des informations confidentielles, font l'obj .....
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2009

Article dans une revue

titre
Analysis of nickel cylindrical bump insertion into aluminium thin film for flip chip applications
auteur
Mamadou Diobet Diop, Vincent Mandrillon, Hervé Boutry, Karim Inal, Roland Fortunier
article
Microelectronic Engineering, Elsevier, 2009, 87 (3), pp.522-526. ⟨10.1016/j.mee.2009.07.020⟩
identifiant
emse-00450478
Resume_court
This paper investigates the mechanical deformation and the electrical contact resistance of an elect .....
DOI
DOI : 10.1016/j.mee.2009.07.020
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titre
Correction of secondary ion mass spectrometry profiles for atom diffusion measurements
auteur
Alain Portavoce, Nicolas Rodriguez, R. Daineche, C. Grosjean, C. Girardeaux
article
Materials Letters, Elsevier, 2009, 63 (8), pp.676-678. ⟨10.1016/j.matlet.2008.12.018⟩
identifiant
emse-00429559
Resume_court
A simple method is proposed in order to correct experimental secondary ion mass spectrometry (SIMS) .....
DOI
DOI : 10.1016/j.matlet.2008.12.018
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Communication dans un congrès

titre
Evaluation of the Time-Redundant Fault Tolerance on the ALU for Simple Pipelined Processor
auteur
Minh Huu Nguyen, Bruno Robisson, Michel Agoyan, Nathalie Drach
article
4th Annual Austin Conference on Integrated Systems & Circuits, Oct 2009, Austin, United States
identifiant
emse-00463478
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titre
Backside sample preparation Backside sample preparation for integrated circuit packaged for integrated circuit packaged
auteur
Assia Tria, Nicolas Rodriguez, Anne-Lise Ribotta, Gerald Haller, V. Goubier, B. Garcia
article
Micopackaging days 2009, Oct 2009, Gardanne, France
identifiant
emse-00463506
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titre
ASFIP: Attack Standardization for FingerPrint system certifications
auteur
Claude Barral, Assia Tria, A. Yakoub, Sébastien Sanaur
article
e-smart09, Sep 2009, Sophia-antipolis, France
identifiant
emse-00463485
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titre
Micro-PackS-CIMPACA PlatformSecurity characterization laboratories: an innovative mutualized approach
auteur
Anne-Lise Ribotta, Loic Lauro, Assia Tria
article
e-smart09, Sep 2009, Sophia-antipolis, France
identifiant
emse-00463481
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titre
USB Tokens as Security Enabler for Mobility Solutions
auteur
Jacques Jean-Alain Fournier, Gérald Maunier
article
e-smart09, Sep 2009, Sophia-antipolis, France
identifiant
emse-00463483
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titre
Experimental Measurements for Risk Analysis Quotation on Contactless Devices.
auteur
Francois Vacherand, Jacques Reverdy, Claude Tetelin, Claude Demange, Eric Bourbao, Philippe Lalevee, Remi Nannini
article
e-smart, Sep 2009, Sophia-antipolis, France
identifiant
emse-00463488
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titre
Low cost fault injection method for security characterization
auteur
Jean-Max Dutertre, Assia Tria, Bruno Robisson, Michel Agoyan
article
E-Smart 2009, Sep 2009, Sophia-Antipolis, France
identifiant
emse-00481620
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titre
Fake fingers in fingerprint recognition.
auteur
Assia Tria, Claude Barral, A. Yakoub, Sébastien Sanaur
article
Young Engineering Scientist Symposium, Jul 2009, washington DC, United States
identifiant
emse-00463495
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titre
Injection de fautes par modification de l'horloge: application à l'AES.
auteur
Jean-Max Dutertre, Assia Tria, Bruno Robisson
article
Cryptopuce2009, Jun 2009, Porquerolle, France
identifiant
emse-00463505
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Chapitre d'ouvrage

titre
Fake Fingers in Fingerprint Recognition: Glycerin Supersedes Gelatin
auteur
Claude Barral, Assia Tria
article
Formal to Practical Security, 5458/2009, Springer, pp.57-69, 2009, Lecture Notes in Computer Science, ⟨10.1007/978-3-642-02002-5⟩
identifiant
emse-00429586
Resume_court
Fingerprint Recognition currently widespreads in numerous identity verification applications such as .....
DOI
DOI : 10.1007/978-3-642-02002-5
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Ouvrage (y compris édition critique et traduction)

titre
Lire et comprendre VHDL et AMS
auteur
Jacques Rouillard
article
lulu, pp.170, 2009, Isbn 978-1-4092-2787-8
identifiant
emse-00463510
Resume_court
Les langages expliqués en détail, syntaxes et sémantiques. Ce livre est organisé par traits des .....
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titre
Écrire et comprendre VHDL & AMS
auteur
Jacques Rouillard
article
lulu, pp.170, 2009, ISBN 978-1-4092-3689-4
identifiant
emse-00463513
Resume_court
Les méthodologies, les styles, des exemples, les paquetages utiles. Ce livre est organisé par doma .....
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2008

Communication dans un congrès

titre
An Evaluation Methodology for The Security of Cryptosystems
auteur
Selma Laabidi, Bruno Robisson, Assia Tria
article
E-Smart 2008 conference, Sep 2008, Sphia-Antipolis, France
identifiant
emse-00481619
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titre
Evaluation Of Anonymous Techniques for User Privacy Protection On Mobile Phones
auteur
Laurent Freund, Papa Sagana Fall, Philippe Lalevee
article
E-Smart 2008 conference, Sep 2008, Sophia Antipolis, France. pp.0
identifiant
emse-00504721
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titre
Robustness of circuits under delay-induced faults : test of AES with the PAFI tool
auteur
Olivier Faurax, Laurent Freund, Assia Tria, Traian Muntean, Frédéric Bancel
article
13th IEEE International On-Line Testing Symposium IOLTS 2007, Jul 2008, Heraklion, France. pp.185-186, ⟨10.1109/IOLTS.2007.57⟩
identifiant
emse-00504707
Resume_court
Security of cryptographic circuits is a major concern. Fault attacks are a mean to obtain critical i .....
DOI
DOI : 10.1109/IOLTS.2007.57
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titre
Mutualized Security Caracterization Platform for Teaching, Research and Development
auteur
Bruno Robisson, Assia Tria, Pascal Manet, Anne-Lise Ribotta
article
Workshop Crypt'Archi, Jun 2008, Trégastel, France
identifiant
emse-00481618
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BibTex
titre
An evaluation methodology for the security of cryptosystems
auteur
Selma Laabidi, Bruno Robisson, Michel Agoyan
article
IEEE Conference on Ph.D. Research in MicroElectronics and Electronics, Jun 2008, Istanbul, Turkey. p113-115
identifiant
emse-00481484
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titre
Error Detection for Borrow-Save Adders Dedicated to ECC Unit
auteur
Julien Francq, Jean-Baptiste Rigaud, Pascal Manet, Assia Tria, Arnaud Tisserand
article
FDTC'08: 5th Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, 2008, Washington, DC, United States. pp.77-86, ⟨10.1109/FDTC.2008.17⟩
identifiant
lirmm-00316796
Resume_court
Differential Fault Analysis (DFA) is a real threat for elliptic curve cryptosystems. This paper desc .....
DOI
DOI : 10.1109/FDTC.2008.17
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2007

Communication dans un congrès

titre
Amélioration de la sécurité des circuits intégrés par codage de l'information
auteur
Julien Francq, Jean-Baptiste Rigaud, Pascal Manet, Jean-Claude Bajard, Arnaud Tisserand
article
JNRDM'07: 10ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique, Lille, France
identifiant
lirmm-00182636
Resume_court
La carte à puce, comme tout autre processeur de traitement d'informations confidentielles peut fair .....
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titre
Security of several AES Implementations against Delay Faults
auteur
Olivier Faurax, Julien Francq
article
NordSec 2007, Oct 2007, Reykjavík, Norway. pp 61-72, ISBN 978-9979948346
identifiant
emse-00494274
Resume_court
parmi les attaques en faute, la DFA (Differential Fault Analysis) est celle qui est la plus étudié .....
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titre
Differential Behavioral Analysis
auteur
Bruno Robisson, Pascal Manet
article
Workshop on Cryptographic Hardware and Embedded Systems, Sep 2007, Vienne, Austria. pp.413-426, ⟨10.1007/978-3-540-74735-2_28⟩
identifiant
emse-00481468
Resume_court
This paper describes an attack on cryptographic devices called Differential Behavioral Analysis (or .....
DOI
DOI : 10.1007/978-3-540-74735-2_28
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titre
Conception de circuits sécurisés: Nécessité de prendre en compte les fautes
auteur
Bruno Robisson
article
Colloque nationale Groupement De Recherche SOC-SIP, Jun 2007, Paris, France
identifiant
emse-00481617
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Chapitre d'ouvrage

titre
VLSI-SOC: From Systems to Chips, (selected contributions from VLSI-SoC 2005)
auteur
Jérôme Quartana, Laurent Fesquet, Marc Renaudin
article
VLSI-SOC: From Systems to Chips, (selected contributions from VLSI-SoC 2005), Springer, pp.195-207, 2007
identifiant
emse-00429856
Resume_court
This paper presents an innovating methodology for fast and easy design of Asynchronous Network-on-Ch .....
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Brevet

titre
PROCEDES ET DISPOSITIFS DE CRYPTAGE ET DE DECRYPTAGE D'UN MESSAGE DE DONNEES A CLE SECRETE ALEATOIRE
auteur
Pascal Manet, Olivier Faurax, Jean-Baptiste Rigaud
article
France, N° de brevet: FR0759464. 2007
identifiant
emse-01141010
Resume_court
Procédé de cryptage d'un message de données S comportant au moins une étape de calcul (102) d'au .....
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2006

Communication dans un congrès

titre
A generic method for fault injection in circuits
auteur
Laurent Freund, Olivier Faurax, Assia Tria, Traian Muntean, Frédéric Bancel
article
System-on-Chip for Real-Time Applications, The 6th International Workshop System-on-Chip for Real-Time Applications, Dec 2006, Le caire, Egypt. pp.211-214, ⟨10.1109/IWSOC.2006.348238⟩
identifiant
emse-00504714
Resume_court
Microcircuits dedicated to security in smartcards are targeted by more and more sophisticated attack .....
DOI
DOI : 10.1109/IWSOC.2006.348238
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titre
Safe design methodologies against fault attacks
auteur
Bruno Robisson, Assia Tria
article
3d workshop on fault diagnosis and tolerance in cryptography, Oct 2006, Yokohama, Japan
identifiant
emse-00460571
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BibTex
titre
Integrated Evaluation Platform for Secured Devices
auteur
Pascal Manet, Jean-Baptiste Rigaud, Julien Francq, Marc Jeambrun, Bruno Robisson, Jérome Quartana, Selma Laabidi, Assia Tria
article
Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip, Jul 2006, Montpellier, France. p214-220
identifiant
emse-00481458
Resume_court
In this paper, we describe the structure of a FPGA smart card emulator. The aim of such an emulator .....
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2005

Communication dans un congrès

titre
Hardware Engines for Bus Encryption: a Survey of Existing Techniques
auteur
Reouven Elbaz, Lionel Torres, Gilles Sassatelli, Pierre Guillemin, Claude Anguille, Michel Bardouillet, Christian Buatois, Jean-Baptiste Rigaud
article
DATE: Design, Automation and Test in Europe, Mar 2005, Munich, Germany. pp.40-45, ⟨10.1109/DATE.2005.170⟩
identifiant
lirmm-00106453
Resume_court
Hardware Engines for Bus Encryption: a Survey of Existing Techniques
DOI
DOI : 10.1109/DATE.2005.170
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2004

Article dans une revue

titre
Analyse par signaux cachés : SPA/DPA : Sécurité et protection dans les systèmes de traitement de l'information
auteur
Assia Tria, Olivier Francis, Benoit Olivier
article
REVUE DE l'ELECTRICITE ET DE L'ELECTRONIQUE, 2004, pp.71-77
identifiant
emse-00460583
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2001

Communication dans un congrès

titre
Robustness of CMOS Circuits Designed for Space and Terrestrial Environment
auteur
Jean-Max Dutertre, Fernand-Michel Roche
article
XVI Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, Nov 2001, Porto, Portugal
identifiant
emse-01130935
Resume_court
The behaviour of Integrated Circuits (IC), in Space, the high atmosphere or even in earth environmen .....
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titre
Improving an SEU Hard Design using a Pulsed Laser
auteur
Jean-Max Dutertre, Fernand-Michel Roche, Patrice Fouillat, Dean Lewis
article
Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2001. 6th European Conference on, Sep 2001, Grenoble, France. ⟨10.1109/RADECS.2001.1159287⟩
identifiant
emse-01130950
Resume_court
The purpose of this work is to present one investigation utilizing a pulsed laser as a tool to impro .....
DOI
DOI : 10.1109/RADECS.2001.1159287
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titre
An algorithm for converting an electrical circuit to a bond graph : a formalization of the inspection method
auteur
Bruno Robisson, Jean-Gabriel Ganascia
article
International Conference on Bond Graph Modeling and Simulation, Society for Computer Simulation, Jan 2001, Phoenix, United States. pp.199-203
identifiant
emse-00481641
Resume_court
In this article, we show that the algorithm proposed by Karnopp and Rosenberg for converting a circu .....
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00481641/file/robisson_2001_algorithm_for_converting_electrical_circuit_to_a_bond_graph_ICBGM.pdf BibTex