2025
Journal articles
- titre
- Increasing Precision of Impedance Measurements for ESD Protection's Frequency Models
- auteur
- François Ruffat, Alexandre Boyer, Fabrice Caignet, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret, Fabien Escudié
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2025, pp.1 - 10. ⟨10.1109/TEMC.2025.3542314⟩
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-
- titre
- Seatizen Atlas: a collaborative dataset of underwater and aerial marine imagery
- auteur
- Matteo Contini, Victor Illien, Mohan Julien, Mervyn Ravitchandirane, Victor Russias, Arthur Lazennec, Thomas Chevrier, Cam Ly Rintz, Léanne Carpentier, Pierre Gogendeau, César Leblanc, Serge Bernard, Alexandre Boyer, Justine Talpaert Daudon, Sylvain Poulain, Julien Barde, Alexis Joly, Sylvain Bonhommeau, Thomas Chevrier
- article
- Scientific Data , 2025, 12 (1), pp.67. ⟨10.1038/s41597-024-04267-z⟩
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-
Preprints, Working Papers, ...
- titre
- Frequency Model Investigation for ESD failure prediction
- auteur
- L Kemystetter, Alexandre Boyer, G Mejecaze, F Puybaret, François Ruffat, Fabrice Caignet
- article
- 2025
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-
- titre
- Reflection to improve ESD protection simulation based on voltage-dependent dynamic model
- auteur
- Fabrice Caignet, François Ruffat, Kemystetter Lucas, Alexandre Boyer, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
- article
- 2025
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-
2024
Journal articles
- titre
- An Efficient Characterization Method to Predict the Susceptibility of Integrated Circuits to Multitone Disturbance
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet, Matthieu Laidet
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, In press, pp.1-11. ⟨10.1109/TEMC.2024.3448495⟩
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-
- titre
- A Pre-Scan Method to Accelerate Near-Field Scan Immunity Tests
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
- article
- IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications, In press, pp.1-1. ⟨10.1109/LEMCPA.2024.3363113⟩
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-
Conference papers
- titre
- Développement d’une Méthodologie pour l’Étude de la Susceptibilité Électromagnétique en Champ Proche
- auteur
- Nicolas Castagnet, Fabien Escudié, Alexandre Boyer
- article
- 9èmes journées d'études Électromagnétisme et Guerre Électronique, Dec 2024, Toulouse, France
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-
- titre
- Modèles fréquentiels forts niveaux pour la prédiction d’impact d’impulsion électromagnétique sur les systèmes
- auteur
- Kemystetter Lucas, Mejecaze Guillaume, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, François Ruffat, Puybaret Frédéric
- article
- Workshop CEM 2024, Dec 2024, Angers, France
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-
- titre
- Analysis of Operational Amplifier Susceptibility to Multifrequency Disturbance
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
- article
- 1'th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Oct 2024, Turin (IT), Italy
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-
- titre
- Accelerated characterisation of Operational Amplifiers' susceptibility using multitone disturbance
- auteur
- Matthieu Laidet, Alexandre Boyer, Julien Gazave, Sonia Ben Dhia
- article
- 14th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Oct 2024, Turin, Italy
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-
- titre
- Proposition d’une méthodologie d’analyse de la susceptibilité électromagnétique des composants électroniques en champ proche et jusqu’à 6 GHz
- auteur
- Nicolas Castagnet, Béatrice Lalle, Fabien Escudié, Alexandre Boyer, Antoine Chauloux
- article
- Journées d'Études Compatibilité Radioélectrique, Oct 2024, Rennes, France
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-
- titre
- Using Near-Field Scan to Predict the Conducted Immunity of Electronic Components up to 6 GHz
- auteur
- Nicolas Castagnet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié
- article
- EMC Europe 2024 Symposium, Sep 2024, Brugges, Belgium
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-
- titre
- Study of the Multifrequency Susceptibility of Operational Amplifiers
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
- article
- EMC Europe 2024 Symposium, Sep 2024, Brugges, Belgium
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-
- titre
- Modèle de corrélation entre une tension conduite et une injection champ proche
- auteur
- Nicolas Castagnet, Fabien Escudié, Alexandre Boyer
- article
- XXIIIèmes Journées Nationales Microondes, Jun 2024, Antibes, France
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-
- titre
- Correlation Between Conducted Injection and Near-Field Scan Immunity in the L-Band
- auteur
- Nicolas Castagnet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié
- article
- 2024 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2024 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Japan/APEMC Okinawa), May 2024, Okinawa, Japan. ⟨10.23919/EMCJapan/APEMCOkinaw58965.2024.10584582⟩
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-
2023
Conference papers
- titre
- Modèle d'estimation de la susceptibilité conduite à partir d'une injection champ proche entre 500 MHz et 2 GHz
- auteur
- Nicolas Castagnet, Fabien Escudié, Alexandre Boyer
- article
- Dixième Conférence Plénière du GDR Ondes, Dec 2023, Marseille (France), France
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-
- titre
- Passive Cell Balancing Impact On Injection Levels During Direct Power injection on Battery Management System
- auteur
- Badr Guendouz, Kamel Abouda, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Mathieu Aribeau
- article
- EMC Europe 2023, Sep 2023, Cracovie, Poland
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-
- titre
- In-Situ and Contactless Evaluation of Performance of Power Converter EMC Filter based on Near-Field Scan Measurement
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Sébastien Serpaud
- article
- EMC Europe 2023, Sep 2023, Cracovie (PL), Poland
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-
- titre
- Performance Charaterisation of the Decoupling Capacitor Network using the Near-Field Measurement
- auteur
- Alexandre Boyer, Sébastien Serpaud, Sonia Ben Dhia, Fabio Coccetti
- article
- EMC Europe 2023, Sep 2023, Cracovie, Poland
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Analytical Approach of The High Susceptibility Frequencies of a Battery Management System During Direct Power Injection. Methods of Improvement
- auteur
- Badr Guendouz, Kamel Abouda, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Olivier Tico, Jérémy Ruau
- article
- IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY, SIGNAL & POWER INTEGRITY (EMC+SIPI 2023), Jul 2023, Grand Rapids, United States. ⟨10.1109/EMCSIPI50001.2023.10241599⟩
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-
- titre
- MÉTHODE D'EXTRACTION RAPIDE ET EFFICACE D'UN MODÈLE DE PROTECTION ESD FACE À DES PHÉNOMÈNES TRANSITOIRES RAPIDES
- auteur
- François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Guillaume Mejecaze, Fabien Escudie, Frédéric Puybaret
- article
- 21ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2023), Jun 2023, Toulouse, France
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- METHODE DE PRE-SCAN POUR ACCELERER LES TEMPS DE MESURE DU SCAN CHAMP PROCHE EN IMMUNITE
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
- article
- 21ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2023), Jun 2023, Toulouse, France
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-
- titre
- UNE ETUDE COMPARATIVE DES NIVEAUX DPI SUR UN CI BMS AVEC UN MODELE ANALYTIQUE DES RESONANCES
- auteur
- Badr Guendouz, Kamel Abouda, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Hiba Mediouni, J. Dietsch
- article
- 21ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2023), Jun 2023, Toulouse, France
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-
2022
Journal articles
- titre
- Investigation of Frequency Models to predict Dynamic Behavior of ESD Protection Networks
- auteur
- Fabrice Caignet, François Ruffat, Alexandre Boyer, Guillaume Mejecaze, Fabien Escudié, Frédéric Puybaret
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (6), pp.1890-1898. ⟨10.1109/TEMC.2022.3221312⟩
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-
- titre
- A Low-Cost RF Detector to Enhance the Direct Power Injection Conducted Immunity Setup
- auteur
- Alexandre Boyer
- article
- IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications, 2022, 4 (4), pp.108 - 113. ⟨10.1109/LEMCPA.2022.3210876⟩
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-
- titre
- Investigation of Frequency Models to Predict Dynamic Behavior of ESD Protection Networks
- auteur
- Fabrice Caignet, François Ruffat, Alexandre Boyer, Guillaume Mejecaze, Fabien Escudie, Frederic Puybaret
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64, pp.1890 - 1898. ⟨10.1109/temc.2022.3221312⟩
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-
- titre
- Gestion de l’obsolescence des composants pour la CEM
- auteur
- Alexandre Boyer, Marine Stojanovic, Kévin Loudière, Frédéric Lafon, Sébastien Serpaud
- article
- Techniques de l'Ingénieur, 2022, pp.g7034. ⟨10.51257/a-v1-g7034⟩
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-
- titre
- On the Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Immunity at Printed Circuit Board Level – Part II
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (5), pp.1493 - 1505. ⟨10.1109/TEMC.2022.3172601⟩
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-
- titre
- New Measurement Method to Investigated Service Life of Protection Networks exposed to ESD
- auteur
- François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
- article
- Microelectronics Reliability, 2022, 33rd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ⟨10.1016/j.microrel.2022.114661⟩
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-
- titre
- On the Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Immunity at Printed Circuit Board Level - Part I
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (4), pp.1230 - 1242. ⟨10.1109/TEMC.2022.3169183⟩
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-
- titre
- Efficiency of Sequential Spatial Adaptive Sampling Algorithm to Accelerate Multi-Frequency Near-Field Scanning Measurement
- auteur
- Sébastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Fabio Coccetti
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (3), pp.816 - 826. ⟨10.1109/TEMC.2021.3136096⟩
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-
- titre
- Frequency Based Method Investigation to Extract an ESD Protection Dynamic SPICE Model from TLP Measurements
- auteur
- Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Alexandre Boyer
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (1), pp.47 - 57. ⟨10.1109/TEMC.2021.3106770⟩
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-
Conference papers
- titre
- New Measurement Method to Investigated Service Life of Protection Networks exposed to ESD
- auteur
- François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
- article
- 33rd European Symposium on Reliability of Electron Devices Failure Physics and Analysis (ESREF2022), Sep 2022, Berlin, Germany. ⟨10.1016/j.microrel.2022.114661⟩
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-
- titre
- A Comparative Study of DPI levels on BMS IC With an On-Hand Analytical Model to Predict Resonances
- auteur
- Badr Guendouz, Kamel Abouda, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Hiba Mediouni, Jérome Dietsch
- article
- International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2022), Sep 2022, Goteborg, Sweden. ⟨10.1109/EMCEurope51680.2022.9901210⟩
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-
- titre
- Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Susceptibility at Integrated Circuit Level
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2022), Sep 2022, Goteborg, Sweden. ⟨10.1109/EMCEurope51680.2022.9900970⟩
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-
- titre
- A fast and efficient Model Extraction Method to predict the transient Response of ESD Protection Devices
- auteur
- François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
- article
- International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility EMC Europe 2022, Sep 2022, Goteborg, Sweden. ⟨10.1109/EMCEurope51680.2022.9901148⟩
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-
- titre
- A new Investigation Methodology to predict Far Field Radiated Immunity from Near Field Scan Immunity Measurements
- auteur
- André Durier, Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Tristan Dubois
- article
- International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility EMC Europe 2022, Sep 2022, Goteborg, Sweden. ⟨10.1109/EMCEurope51680.2022.9900974⟩
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-
- titre
- A Simple Analytical Approximation to evaluate Noise Levels and Maximum Coupling Frequencies During DPI Simulations on BMS IC
- auteur
- Badr Guendouz, Philippe Perruchoud, Kamel Abouda, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Asia Pacific International Conference on EMC (APEMC) 2022, Sep 2022, Beijing, China. ⟨10.1109/APEMC53576.2022.9888479⟩
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-
- titre
- A Technique to Assess Conducted Immunity of an Electronic Equipment after an Obsolete Integrated Circuit Change
- auteur
- Saliha Chetouani, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Sébastien Serpaud, André Durier
- article
- 13th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2021), Mar 2022, Brugges, Belgium. ⟨10.1109/EMCCompo52133.2022.9758624⟩
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-
2021
Journal articles
- titre
- Closed-Form Expressions of Electric and Magnetic Near-Fields for the Calibration of Near-Field Probes
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 70, ⟨10.1109/TIM.2021.3126376⟩
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-
- titre
- Impact of place and route strategy on FPGA electromagnetic emission
- auteur
- Estevan L Lara, Allan A Constante, Juliano Benfica, Fabian Vargas, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Andreas Gleinser, Gunter Winkler, Bernd Deutschmann
- article
- Microelectronics Reliability, 2021, 126, pp.114333. ⟨10.1016/j.microrel.2021.114333⟩
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-
- titre
- Fast and Accurate Near-Field Measurement Method using Sequential Spatial Adaptive Sampling (SSAS) Algorithm
- auteur
- Sébastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Fabio Coccetti
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2021, 63 (3), pp.858-869. ⟨10.1109/TEMC.2020.3025547⟩
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-
- titre
- Low-Cost Broadband Electronic Coupler for Estimation of Radiated Emission of Integrated Circuits in TEM Cell
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2021, 63 (2), pp.636-639. ⟨10.1109/TEMC.2020.3021135⟩
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-
Conference papers
- titre
- Anticipating Common-Mode Conducted Emission of DC-DC Converter from Electric Near-Field Scan
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- 2021 JOINT IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY, SIGNAL & POWER INTEGRITY, AND EMC EUROPE, Jul 2021, Glasgow (virtuel), United Kingdom. ⟨10.1109/EMC/SI/PI/EMCEurope52599.2021.9559364⟩
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-
- titre
- UNE NOUVELLE SONDE DE MESURE DE TENSION INDUITE POUR L'INVESTIGATION EN IMMUNITE RAYONNEE
- auteur
- Alexandre Boyer, André Durier, Sonia Ben Dhia
- article
- 20e Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique CEM2021, Apr 2021, Lyon (Virtuel), France
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-
- titre
- APPLICATION DES METHODES DE MESURES INDIRECTES DE PARAMETRES " S " EN VUE DE LA GESTION DE L'OBSOLESCENCE DES COMPOSANTS EN IMMUNITE CONDUITE
- auteur
- Saliha Chetouani, Alexandre Boyer, Sébastien Serpaud, Sonia Ben Dhia
- article
- 20e Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique CEM2021, Apr 2021, Lyon (virtuel), France
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-
- titre
- Preliminary Study on the Impact of Place and Route Strategy on FPGA Electromagnetic Emission
- auteur
- Estevan Lara, Allan Constante, Juliano Benfica, Fabian Vargas, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Andreas Gleinser, Gunter Winkler, Bernd Deutschmann
- article
- 2021 Argentine Conference on Electronics (CAE2021), Mar 2021, Bahia Blanca (Virtual), Argentina. ⟨10.1109/CAE51562.2021.9397567⟩
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-
2020
Conference papers
- titre
- Fast and efficient approach to predict EMC immunity of complex equipment after a component change
- auteur
- Saliha Chetouani, Sébastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- EMC Europe 2020, Sep 2020, Rome (online), Italy
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-
- titre
- A new Voltage Measurement Probe for investigating Radiated Immunity Test
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, André Durier
- article
- EMC Europe 2020, Sep 2020, Rome (virtual), Italy
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-
2019
Journal articles
- titre
- A new methodology for EMC prediction of integrated circuits after aging
- auteur
- Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, Alain Bensoussan, André Durier, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2019, 61 (2), pp.572-581. ⟨10.1109/TEMC.2018.2819722⟩
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-
Conference papers
- titre
- Impact of Technological Trends and Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
- auteur
- Etienne Sicard, Alexandre Boyer
- article
- EMC Compo 2019, Oct 2019, Haining, China
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-
- titre
- Optimized algorithm to reduce the near-field measurement time on FPGA device
- auteur
- Sebastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2019), Oct 2019, Haining, China
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-
- titre
- A Case Study to apprehend RF Susceptibility of Operational Amplifiers
- auteur
- Alexandre Boyer, E. Sicard
- article
- 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2019), Oct 2019, Haining, China
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Using infrared thermal responses for PCBA production tests: Feasibility study
- auteur
- Nabil El Belghiti Alaoui, Anais Cassou, Patrick Tounsi, Alexandre Boyer, Arnaud Viard
- article
- 30 th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2019), Sep 2019, Toulouse, France
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- A Rigorous Method to extrapolate Radiated Susceptibility from Near-Field Scan Immunity
- auteur
- Alexandre Boyer
- article
- International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2019), Sep 2019, Barcelona, Spain
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Sequential adaptive sampling algorithm to reduce the near field measurement time
- auteur
- Sébastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2019), Sep 2019, Barcelona, Spain
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Detecting PCB Assembly defects using infrared thermal signatures
- auteur
- Nabil El Belghiti Alaoui, Patrick Tounsi, Alexandre Boyer, Arnaud Viard
- article
- 27th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES2019), Jun 2019, Wroclaw, Poland. ⟨10.23919/MIXDES.2019.8787089⟩
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-
Habilitation à diriger des recherches
- titre
- Contribution à la caractérisation et la modélisation de la CEM des circuits intégrés
- auteur
- Alexandre Boyer
- article
- Electronique. Université Paul Sabatier - Toulouse III, 2019
- Accès au texte intégral et bibtex
-
2018
Journal articles
- titre
- Upgrading In-Circuit Test of high density PCBAs using electromagnetic measurement and Principal Component Analysis
- auteur
- Nabil El Belghiti Alaoui, Alexandre Boyer, Patrick Tounsi, Arnaud Viard
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2018, 34 (6), pp.749-762. ⟨10.1007/s10836-018-5763-4⟩
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-
- titre
- A new methodology to build the Internal Activity Block of ICEM-CE for complex Integrated Circuits
- auteur
- Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, André Durier, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2018, 60 (5), pp.1500-1509. ⟨10.1109/TEMC.2017.2767084⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- New defect detection approach using near electromagnetic field probing of high density PCBAs
- auteur
- Nabil El Belghiti Alaoui, Alexandre Boyer, Patrick Tounsi, A. Viard
- article
- Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.288-293. ⟨10.1016/j.microrel.2018.07.090⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Timing of Renal Support and Outcome of Septic Shock and Acute Respiratory Distress Syndrome. A Post Hoc Analysis of the AKIKI Randomized Clinical Trial
- auteur
- Stéphane Gaudry, David Hajage, Frederique Schortgen, Laurent Martin-Lefevre, Charles Verney, Bertrand Pons, Eric Boulet, Alexandre Boyer, Guillaume Chevrel, Nicolas Lerolle, Dorothée Carpentier, Nicolas de Prost, Alexandre Lautrette, Anne Bretagnol, Julien Mayaux, Saad Nseir, Bruno Mégarbane, Marina Thirion, Jean-Marie Forel, Julien Maizel, Hodane Yonis, Philippe Markowicz, Guillaume Thiery, Florence Tubach, Jean-Damien Ricard, Didier Dreyfuss
- article
- American Journal of Respiratory and Critical Care Medicine, 2018, 198 (1), pp.58-66. ⟨10.1164/rccm.201706-1255OC⟩
- Accès au bibtex
-
Conference papers
- titre
- New defect detection approach using near electromagnetic field probing for high density PCBAs New defect detection approach using near electromagnetic field probing of high density PCBAs
- auteur
- Nabil El Belghiti Alaoui, Patrick Tounsi, Alexandre Boyer, Arnaud Viard
- article
- 29 th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2018), Oct 2018, Aalborg, Denmark. ⟨10.1016/j.microrel.2018.07.090⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Modeling the internal activity of an FPGA for conducted emission prediction purpose
- auteur
- Chaimae Ghfiri, André Durier, C. Marot, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 2018 Joint IEEE EMC & APEMC Symposium, May 2018, Singapour, Singapore. 6p
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- New testing approach using near electromagnetic field probing intending to upgrade in-circuit testing of high density PCBAs
- auteur
- Nabil El-Belghiti, Patrick Tounsi, Alexandre Boyer, Arnaud Viard
- article
- 27th IEEE North Atlantic Test Workshop, May 2018, Essex, United States. ⟨10.1109/NATW.2018.8388867⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
2017
Conference papers
- titre
- Comparison of extraction methods to build a radiated emission model of ICs (ICEM-RE): pros and cons
- auteur
- Sébastien Serpaud, Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, André Durier
- article
- EMC Europe 2017 , Sep 2017, Angers, France. 23p
- Accès au bibtex
-
- titre
- ICEM Generator – A tool for the construction of IC emission models
- auteur
- Alexandre Boyer, Chaimae Ghfiri, André Durier
- article
- EMC Europe 2017, Sep 2017, Angers, France. 14p
- Accès au bibtex
-
- titre
- Learning EMC of ICs with IC-EMC
- auteur
- Alexandre Boyer, Etienne Sicard
- article
- EMC Europe 2017, Sep 2017, Angers, France. 20p
- Accès au bibtex
-
- titre
- A new methodology to extract the ICEM-CE internal activity block of a FPGA
- auteur
- Chaimae Ghfiri, André Durier, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- EMC Europe, Sep 2017, Angers, France. pp. 1-6
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Modeling methodology of the conducted emission of a DC-DC converter board
- auteur
- Alexandre Boyer, Manuel Antero Gonzalez Sentis, Chaimae Ghfiri, André A Durier
- article
- 11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017), Jul 2017, Saint-Petersbourg, Russia. pp.73-78, ⟨10.1109/EMCCompo.2017.7998085⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Study of the thermal aging effect on the conducted emission of a synchronous buck converter
- auteur
- Alexandre Boyer, Manuel Antero Gonzalez Sentis, Chaimae Ghfiri, André Durier
- article
- EMC Compo (The 11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits), Jul 2017, Saint Petersburg, Russia. pp. 79-84
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- titre
- Methodology of modeling of the internal activity of a FPGA for conducted emission prediction purpose
- auteur
- Chaimae Ghfiri, André Durier, Christian Marot, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017), Jul 2017, Saint-Petersbourgh, Russia. 6p
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-
- titre
- Proposal for combined conducted and radiated emission modelling for Integrated Circuit
- auteur
- Sébastien Serpaud, Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, A Durier
- article
- 11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017), Jul 2017, Saint-Petersbourg, Russia. pp.172-177, ⟨10.1109/EMCCompo.2017.7998105⟩
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-
- titre
- Radiated suceptibility investigation of electronic board from near field scan method
- auteur
- Nicolas Lacrampe, Sebastien Serpaud, Alexandre Boyer, Séreirath Tran
- article
- 11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017), Jul 2017, Saint-Petersbourg, Russia. pp.125-130, ⟨10.1109/EMCCompo.2017.7998096⟩
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- titre
- Methodology of modeling of the internal activity of a FPGA for conducted emission prediction purpose
- auteur
- Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, Andre Durier, Sonia Ben Dhia
- article
- Congrès de l'école doctorale GEET, Mar 2017, Toulouse, France. 6p
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-
Books
- titre
- Basis of Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits - A modeling approach using IC-EMC
- auteur
- Alexandre Boyer, Etienne Sicard
- article
- Presses Universitaires du Midi - Collection Pour l'ingénieur. Presses universitaires du Midi (PUM), 390p., 2017, 978-2-8107-0522-1
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-
2016
Conference papers
- titre
- AMELIORATION DE LA RESOLUTION SPATIALE DE SCAN CHAMP PROCHE EN INJECTION
- auteur
- Alexandre Boyer
- article
- 18e Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique CEM2016, Jul 2016, Rennes, France
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- titre
- Construction d'un modèle ICEM pour prédire l'émission électromagnétique d'un FPGA
- auteur
- Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, André Durier, Sonia Ben Dhia, C Marot
- article
- 18e Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique (CEM2016), Jul 2016, Rennes, France. 5p
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- titre
- A Review of Research on the Effect of Aging on the EMC of Integrated Circuits
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
- article
- 2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC 2016), May 2016, Shenzhen, China. ⟨10.1109/APEMC.2016.7522971⟩
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-
- titre
- Predicting the risk of non-compliance to EMC requirements during the life-cycle
- auteur
- Alexandre Boyer, He Huang, Sonia Ben Dhia
- article
- 2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.452 - 455, ⟨10.1109/APEMC.2016.7522766⟩
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-
- titre
- Construction of an Integrated Circuit Emission Model of a FPGA
- auteur
- Chaimae Ghfiri, André Durier, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Christian Marot
- article
- 2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.402-405, ⟨10.1109/APEMC.2016.7522751⟩
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-
- titre
- Improving spatial resolution of immunity maps by post-processing
- auteur
- Alexandre Boyer
- article
- 2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.56 - 59, ⟨10.1109/APEMC.2016.7522794⟩
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-
- titre
- A methodologic project to characterize and model COTS components EMC behavior after ageing
- auteur
- Andre Durier, Alexandre Boyer, Geneviève Duchamp
- article
- 2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.376 - 379, ⟨10.1109/APEMC.2016.7522742⟩
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-
2015
Journal articles
- titre
- Modeling Magnetic Near-Field Injection at Silicon Die Level
- auteur
- Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, Manuel Cavarroc
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2015, 58 (1), pp. 257-269. ⟨10.1109/TEMC.2015.2486041⟩
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-
- titre
- Electronic counterfeit detection based on the measurement of electromagnetic fingerprint
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp.2050-2054. ⟨10.1016/j.microrel.2015.07.008⟩
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-
- titre
- Analysis and modeling of passive device degradation for a long-term electromagnetic emission study of a DC–DC converter
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp. 2061-2066. ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.058⟩
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-
- titre
- A methodologic project to characterize and model COTS component reliability
- auteur
- André Durier, Alain Bensoussan, Moustafa Zerarka, Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, Hélène Frémont
- article
- Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp.2097-2102. ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.140⟩
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-
Conference papers
- titre
- Developing a Universal Exchange Format for Integrated Circuit Emission Model – Conducted Emissions
- auteur
- Abhishek Ramanujan, Etienne Sicard, Alexandre Boyer, Jean-Luc Levant, Christian Marot, Frédéric Lafon
- article
- 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 6p
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-
- titre
- EMC performance analysis of a Processor/Memory System using PCB and Package-On-Package
- auteur
- Etienne Sicard, Alexandre Boyer, Priscillia Fernandez-Lopez, An Zhou, Nicolas Marier, Frédéric Lafon
- article
- 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 6p
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-
- titre
- ANALYSIS AND MODELING OF PASSIVE DEVICE DEGRADATION FOR THE LONG-TERM ELECTROMAGNETIC EMISSION PREDICTION OF A DC-DC CONVERTER
- auteur
- Alexandre Boyer, He Huang, Sonia Ben Dhia
- article
- 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom
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-
- titre
- Bandgap Failure Study Due To Parasitic Bipolar Substrate Coupling In Smart Power Mixed ICs
- auteur
- Marc Veljko Thomas Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 5p
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-
- titre
- EMC modeling of Integrated Circuits using IC-EMC
- auteur
- Etienne Sicard, Alexandre Boyer
- article
- 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 2p
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-
- titre
- Enhancement of the Spatial Resolution of Near-Field Immunity Maps
- auteur
- Alexandre Boyer, Manuel Cavarroc
- article
- 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 6p
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-
- titre
- Electronic counterfeit detection based on the measurement of electromagnetic fingerprint Electronic counterfeit detection based on the measurement of electromagnetic fingerprint
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 26th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2015), Oct 2015, Toulouse, France
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-
- titre
- Analysis and Modelling of Passive device degradation for a long-term electromagnetic emission study of a DC-DC converter
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 26th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2015), Oct 2015, Toulouse, France
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-
- titre
- Coupling study in smart power mixed ICs with a dedicated on-chip sensor
- auteur
- Marc Veljko Thomas Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Alexander Steinmar, Weiss B., Ehrenfried Seebacher, Rust P.
- article
- EMC Europe 2015, Aug 2015, Dresden, Germany. ⟨10.1109/ISEMC.2015.7256236⟩
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- titre
- Passive device degradation models for a electromagnetic emission robustness study of a buck DC-DC converter
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- EMC Europe 2015, Aug 2015, Dresden, Germany. 6p
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-
- titre
- Electromagnetic near field injection model on integrated circuit
- auteur
- Rachid Omarouayache, Jérémy Raoult, Pierre Payet, Laurent Chusseau, Bertrand Vrignon, Adrien Doridant, Alexandre Boyer
- article
- Progress In Electromagnetics Research Symposium (PIERS 2015), Jul 2015, Prague, Czech Republic
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-
- titre
- Modèle d'injection électromagnétique en champ proche sur circuit intégré
- auteur
- Rachid Omarouayache, Jérémy Raoult, Pierre Payet, Laurent Chusseau, Bertrand Vrignon, John Shepherd, Alexandre Boyer
- article
- 19èmes Journées Nationales Microondes - JNM 2015, Jun 2015, Bordeaux, France
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- titre
- Near-Field Injection At Die Level
- auteur
- Alexandre Boyer, B Vrignon, Manuel Cavarroc, J Shepherd
- article
- Asia-Pacific International EMC Symposium 2015, May 2015, Taipei, Taiwan
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- titre
- Prediction of Aging Impact on Electromagnetic Susceptibility of an Operational Amplifier
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Bertrand Vrignon
- article
- Asia-Pacific International EMC Symposium 2015, May 2015, Taipei, Taiwan. 4p
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-
- titre
- Development of an On-Chip Sensor for Substrate Coupling Study in Smart Power Mixed ICs
- auteur
- Marc Veljko Thomas Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Asia-Pacific International EMC Symposium 2015, May 2015, Taipei, Taiwan. 4p
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-
- titre
- Long-term Electromagnetic Robustness of Integrated Circuits, Challenge and Trends
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Minapad Forum 2015, Apr 2015, Grenoble, France. 6p
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-
2014
Journal articles
- titre
- Modeling and Simulation of LDO Voltage Regulator Susceptibility to Conducted EMI
- auteur
- Jianfei Wu, Alexandre Boyer, Jiancheng Li, Bertrand Vrignon, Etienne Sicard, Rongjun Shen, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2014, 56 (3), pp.726-735. ⟨10.1109/TEMC.2013.2294951⟩
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-
- titre
- Effect of Aging on Power Integrity and Conducted Emission of Digital Integrated Circuits
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Journal of Low Power Electronics, 2014, 10 (1), pp.165-172
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-
- titre
- Experimental Investigations into the Effects of Electrical Stress on Electromagnetic Emission from Integrated Circuits
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Binhong Li, Nestor Berbel, Raul Fernandez-Garcia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2014, 56 (1), pp. 44-50. ⟨10.1109/TEMC.2013.2272195⟩
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-
Conference papers
- titre
- Electromagnetic analysis, deciphering and reverse engineering of integrated circuits (E-MATA HARI)
- auteur
- Laurent Chusseau, Rachid Omarouayache, Jérémy Raoult, Sylvie Jarrix, Philippe Maurine, Karim Tobich, Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, John Shepherd, Thanh-Ha Le, Maël Berthier, Lionel Rivière, Bruno Robisson, Anne-Lise Ribotta
- article
- VLSI-SoC: Very Large Scale Integration - System-on-Chip, Oct 2014, Playa del Carmen, Mexico. pp.1-6, ⟨10.1109/VLSI-SoC.2014.7004189⟩
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-
- titre
- The detection of counterfeit integrated circuit by the use of electromagnetic fingerprint
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- EMC Europe 2014, Sep 2014, Gothenburg, Sweden. pp.1-5
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-
- titre
- Susceptibility Analysis of an Operational Amplifier Using On-Chip Measurement
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Bertrand Vrignon
- article
- EMC Europe 2014, Sep 2014, Goteborg, Sweden. pp.1-5
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-
- titre
- Evaluation of the Near-Field Injection Method at Integrated Circuit Level
- auteur
- Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, John Shepherd, Manuel Cavarroc
- article
- EMC Europe 2014, Sep 2014, Goteborg, Sweden. pp.1-6
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-
- titre
- Reliability of active RFID tag immersed in water for anti-kidnapping applications
- auteur
- Clément Crémoux, Alexandre Boyer, Karim Ben Dhia
- article
- 2014 IEEE-APS Topical Conference on Antennas and Propagation in Wireless Communications (APWC), Aug 2014, Aruba, Aruba. pp.40-43
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- DEVELOPPEMENT D'UN CAPTEUR SUR PUCE AFIN D'ETUDIER LE COUPLAGE PARASITE DANS LES CIRCUITS INTEGRES DE TYPE " SMART POWER
- auteur
- Marc Veljko Thomas Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 17ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2014), Jul 2014, Clermont-Ferrand, France. pp.1-5
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- IMPACT DU VIEILLISSEMENT THERMIQUE SUR L'EMISSION D'UN CONVERTISSEUR BUCK
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 17ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2014), Jul 2014, Clermont-Ferrand, France. pp.1-5
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-
- titre
- Impact of thermal aging on emission of a buck DC-DC converter
- auteur
- Alexandre Boyer, He Huang, Sonia Ben Dhia
- article
- 2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo (EMC'14/Tokyo), May 2014, Tokyo, Japan. pp.77-80
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-
- titre
- Design of on-chip sensors to monitor electromagnetic activity in ICs: Towards on-line diagnosis and self-healing
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
- article
- Test Workshop - LATW, 2014 15th Latin American, Mar 2014, Fortaleza, Brazil. pp.1-6
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-
2013
Journal articles
- titre
- Long-term Electro-Magnetic Robustness of Integrated Circuits: EMRIC research project
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
- article
- Microelectronics Reliability, 2013, 53, pp.1266-1272. ⟨10.1016/j.microrel.2013.08.016⟩
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-
- titre
- Characterization of Changes in LDO Susceptibility after Electrical Stress
- auteur
- Jianfei Wu, Alexandre Boyer, Jiancheng Li, Sonia Ben Dhia, Rongjun Shen
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2013, 55 (5), pp.883-890. ⟨10.1109/TEMC.2013.2242471⟩
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-
Conference papers
- titre
- Characterization and modeling of electrical stresses on digital integrated circuits power integrity and conducted emission
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 2013 9th Intl Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2013), Dec 2013, Nara, Japan. pp.190-195, ⟨10.1109/EMCCompo.2013.6735199⟩
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-
- titre
- Electro-magnetic robustness of integrated circuits: from statement to prediction
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
- article
- 2013 9th Intl Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2013), Dec 2013, Nara, Japan. pp.208 - 213, ⟨10.1109/EMCCompo.2013.6735202⟩
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-
- titre
- Effect of Electrical Stresses on the Susceptibility of a Voltage regulator
- auteur
- Jian-Fei Wu, Jiancheng Li, Rongjun Shen, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- EMC Symposium in Europe 2013 (EMC Europe 2013), Sep 2013, Bruges, Belgium. pp.113
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-
- titre
- AUTOMICS: A novel approach for substrate modeling for Automotive applications
- auteur
- Yasser Moursy, Sahar Afara, Pietro Buccella, Camillo Stefanucci, Ramy Iskander, Maher Kayal, Jean-Michel Sallese, Marie-Minerve Louërat, Jean-Paul Chaput, Marc Veljko Thomas Tomasevic, Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Bruno Guegan, Vanni Poletto, Andrea Roggero, Tiziana Cavioni, Enrico Novarini, Ehrenfried Seebacher, Alexander Steinmair, Pierre Tisserand, Dieu-My Ton, Thierry Bousquet, Thomas Gneiting
- article
- 18th IEEE European Test Symposium, May 2013, Avignon, France
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-
- titre
- Effect of Electrical Stresses on Digital Integrated Circuits Power Integrity
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 2013 17th IEEE Workshop on Signal and Power Integrity (SPI), May 2013, Paris, France. pp.1-4
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-
2012
Journal articles
- titre
- Prediction of Long-Term Immunity of a Phase-Locked Loop
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Binhong Li, Christophe Lemoine, Bertrand Vrignon
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2012, 28 (6), pp.791-802. ⟨10.1007/s10836-012-5335-y⟩
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-
- titre
- IC immunity modeling process validation using on-chip measurements
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, Mikael Deobarro
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2012, 28 (3), pp.339-348. ⟨10.1007/s10836-012-5294-3⟩
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-
- titre
- Enhancing accuracy of low-dropout regulator susceptibility extraction with on-chip sensors
- auteur
- Jian-Fei Wu, Etienne Sicard, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Jiancheng Li, Rongjun Shen
- article
- Electronics Letters, 2012, 48 (11), pp.649-650. ⟨10.1049/el.2012.0407⟩
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-
- titre
- On-Chip Noise Sensor for Integrated Circuit Susceptibility Investigations
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, Mikael Deobarro, Dinh Than Vinh
- article
- IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2012, 61 (3), pp.696. ⟨10.1109/TIM.2011.2172116⟩
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-
2011
Journal articles
- titre
- A New Approach to Modeling the Impact of EMI on MOSFET DC Behavior
- auteur
- Raul Fernandez-Garcia, Ignacio Gil, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Bertrand Vrignon
- article
- IEICE Transactions on Electronics, 2011, E94-C (12), pp.1906
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-
- titre
- Experimental verification of the usefulness of the nth power law MOSFET model under hot carrier wearout
- auteur
- Nestor Berbel, Raul Fernandez-Garcia, Ignacio Gil, Binhong Li, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Microelectronics Reliability, 2011, 51 (9), pp.1564
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-
- titre
- Study of the impact of hot carrier injection to immunity of MOSFET to electromagnetic interferences
- auteur
- Binhong Li, Nestor Berbel, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Raul Fernandez-Garcia
- article
- Microelectronics Reliability, 2011, 51, pp.1557-1560. ⟨10.1016/j.microrel.2011.06.010⟩
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-
Conference papers
- titre
- Enhancing Engineers Skills in EMC of Integrated Circuits
- auteur
- Etienne Sicard, Alexandre Boyer
- article
- 8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Nov 2011, Dubrovnik, Croatia. pp.115
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-
- titre
- An On-Chip Sensor for Time Domain Characterization of Electromagnetic Interferences
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Christophe Lemoine, Bertrand Vrignon
- article
- 8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), Nov 2011, Dubrovnik, Croatia. pp.251
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-
- titre
- An alternative approach to model the Internal Activity of integrated circuits
- auteur
- Nestor Berbel, Raul Fernandez-Garcia, Ignacio Gil, Binhong Li, Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
- article
- 8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Nov 2011, Dubrovnik, Croatia. pp.88
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-
- titre
- Construction and Evaluation of the Susceptibility Model of an Integrated Phase-Locked Loop
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Christophe Lemoine, Bertrand Vrignon
- article
- 8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Itnegrated Circuits, Nov 2011, Dubrovnik, Croatia. pp.7
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Study of the impact of hot carrier injection to immunity of MOSFET to electromagnetic interferences
- auteur
- Binhong Li, Nestor Berbel, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Raul Fernandez-Garcia
- article
- European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2011), Oct 2011, Bordeaux, France. pp.1557
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2010
Journal articles
- titre
- Ageing effect on electromagnetic susceptibility of a phase locked loop
- auteur
- Binhong Li, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Christophe Lemoine
- article
- Microelectronics Reliability, 2010, 50 (9), p.1304-1308. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.100⟩
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-
- titre
- Characterisation of electromagnetic compatibility drifts of nanoscale integrated circuit after accelerated life tests
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Binhong Li, Amadou Ndoye Cisse
- article
- Electronics Letters, 2010, 46 (4), p. 278-280. ⟨10.1049/el.2010.2885⟩
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2009
Journal articles
- titre
- Characterization of the Evolution of IC Emissions after Accelerated Aging
- auteur
- Alexandre Boyer, Amadou Ndoye Cisse, Sonia Ben Dhia, Laurent Guillot, Bertrand Vrignon
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2009, 51 (4), pp.892
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-
- titre
- The Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits—Past, Present, and Future
- auteur
- Mohamed Ramdani, Etienne Sicard, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, James Whalen, Todd Hubing, Mart Coenen, Osami Wada
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2009, 51 (1), pp.78-100. ⟨10.1109/TEMC.2008.2008907⟩
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2008
Journal articles
- titre
- Comparison among emission and susceptibility reduction techniques for electromagnetic interference in digital integrated circuits
- auteur
- Ali Alaeldine, Nicolas Lacrampe, Alexandre Boyer, Richard Perdriau, Fabrice Caignet, Mohamed Ramdani, Etienne Sicard, M'Hamed Drissi
- article
- Microelectronics Journal, 2008, 39 (12), pp.1728-1735. ⟨10.1016/j.mejo.2008.02.022⟩
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