Publications HAL de Alexandre BOYER du labo/EPI LAAS

2020

Journal articles

titre
Low-Cost Broadband Electronic Coupler for Estimation of Radiated Emission of Integrated Circuits in TEM Cell
auteur
Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, In press
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.laas.fr/hal-02937460/file/Boyer_2020_IEEE_TEMC_Design_electronic_hybrid_coupler_IC_radiation_TEM_cell_final.pdf BibTex
titre
Fast and Accurate Near-Field Measurement Method using Sequential Spatial Adaptive Sampling (SSAS) Algorithm
auteur
Sébastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Fabio Coccetti
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, In press, 12p. ⟨10.1109/TEMC.2020.3025547⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.laas.fr/hal-02967998/file/Fast%20and%20Accurate%20Near-Field%20Measurement%20Method%20using%20Spatial%20Adaptive%20Sampling%20Algorithm.pdf BibTex

Conference papers

titre
Fast and efficient approach to predict EMC immunity of complex equipment after a component change
auteur
Saliha Chetouani, Sébastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
EMC Europe 2020, Sep 2020, Rome (online), Italy
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.laas.fr/hal-02951845/file/CHETOUANI_EMC_Europe2020_VF2_aout2020.pdf BibTex
titre
A new Voltage Measurement Probe for investigating Radiated Immunity Test
auteur
Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, André Durier
article
EMC Europe 2020, Sep 2020, Rome (virtual), Italy
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.laas.fr/hal-02951842/file/PID6383049-Boyer_EMCEurope2020_Final.pdf BibTex

2019

Journal articles

titre
A new methodology for EMC prediction of integrated circuits after aging
auteur
Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, Alain Bensoussan, André Durier, Sonia Ben Dhia
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019, 61 (2), pp.572-581. ⟨10.1109/TEMC.2018.2819722⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01951615/file/Article%20IEEE%20journal-%20FPGA%20Aging_final.pdf BibTex

Conference papers

titre
A Case Study to apprehend RF Susceptibility of Operational Amplifiers
auteur
Alexandre Boyer, E. Sicard
article
12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2019), Oct 2019, Haining, China
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.laas.fr/hal-02319469/file/Boyer%202019%20-%20opa%20susceptibility%20-%20final.pdf BibTex
titre
Impact of Technological Trends and Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
auteur
Etienne Sicard, Alexandre Boyer
article
EMC Compo 2019, Oct 2019, Haining, China
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02403882/file/EMCofICs-ESicard-ABoyer-2019.pdf BibTex
titre
Optimized algorithm to reduce the near-field measurement time on FPGA device
auteur
Sebastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2019), Oct 2019, Haining, China
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.laas.fr/hal-02319472/file/Optimize%20algorithm%20to%20reduce%20the%20near%20field%20measurement%20time%20on%20FPGA_final.pdf BibTex
titre
Using infrared thermal responses for PCBA production tests: Feasibility study
auteur
Nabil El Belghiti Alaoui, Anais Cassou, Patrick Tounsi, Alexandre Boyer, Arnaud Viard
article
30 th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2019), Sep 2019, Toulouse, France
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.laas.fr/hal-02319468/file/ESREF2019_Final_Version_Paper_3.pdf BibTex
titre
A Rigorous Method to extrapolate Radiated Susceptibility from Near-Field Scan Immunity
auteur
Alexandre Boyer
article
International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2019), Sep 2019, Barcelona, Spain
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.laas.fr/hal-02319463/file/Boyer_2019_Rigorous_method_NFSI_extrapolation%20-%20final.pdf BibTex
titre
Sequential adaptive sampling algorithm to reduce the near field measurement time
auteur
Sébastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2019), Sep 2019, Barcelona, Spain
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.laas.fr/hal-02319466/file/Sequential%20adaptive%20sampling%20algorithm%20to%20reduce%20the%20near%20field%20measurement%20time.pdf BibTex
titre
Detecting PCB Assembly defects using infrared thermal signatures
auteur
Nabil El Belghiti Alaoui, Patrick Tounsi, Alexandre Boyer, Arnaud Viard
article
27th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES2019), Jun 2019, Wroclaw, Poland. ⟨10.23919/MIXDES.2019.8787089⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.laas.fr/hal-02319460/file/MIXDES%20article%208_final.pdf BibTex

Habilitation à diriger des recherches

titre
Contribution à la caractérisation et la modélisation de la CEM des circuits intégrés
auteur
Alexandre Boyer
article
Electronique. Université Paul Sabatier - Toulouse III, 2019
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.laas.fr/tel-02327898/file/HDR_A_Boyer_Manuscrit_v2.pdf BibTex

2018

Journal articles

titre
Upgrading In-Circuit Test of high density PCBAs using electromagnetic measurement and Principal Component Analysis
auteur
Nabil El Belghiti Alaoui, Alexandre Boyer, Patrick Tounsi, Arnaud Viard
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2018, 34 (6), pp.749-762. ⟨10.1007/s10836-018-5763-4⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01944924/file/Upgrading_ICT_JETTA2018_FINAL.pdf BibTex
titre
A new methodology to build the Internal Activity Block of ICEM-CE for complex Integrated Circuits
auteur
Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, André Durier, Sonia Ben Dhia
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2018, 60 (5), pp.1500-1509. ⟨10.1109/TEMC.2017.2767084⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01659770/file/2017_A%2BE_Ghfiri_A%20new%20methodology%20to%20build%20the%20Internal%20Activity%20Block%20of%20ICEM-CE_IEEE_Transaction-on-EMC.pdf BibTex
titre
New defect detection approach using near electromagnetic field probing of high density PCBAs
auteur
Nabil El Belghiti Alaoui, Alexandre Boyer, Patrick Tounsi, A. Viard
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2018, 88-90, pp.288-293. ⟨10.1016/j.microrel.2018.07.090⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01885517/file/MicroelectronicReliability2018_full_paper_Nabil_EA.pdf BibTex
titre
Timing of Renal Support and Outcome of Septic Shock and Acute Respiratory Distress Syndrome. A Post Hoc Analysis of the AKIKI Randomized Clinical Trial
auteur
Stéphane Gaudry, David Hajage, Frederique Schortgen, Laurent Martin-Lefevre, Charles Verney, Bertrand Pons, Eric Boulet, Alexandre Boyer, Guillaume Chevrel, Nicolas Lerolle, Dorothée Carpentier, Nicolas de Prost, Alexandre Lautrette, Anne Bretagnol, Julien Mayaux, Saad Nseir, Bruno Mégarbane, Marina Thirion, Jean-Marie Forel, Julien Maizel, Hodane Yonis, Philippe Markowicz, Guillaume Thiery, Florence Tubach, Jean-Damien Ricard, Didier Dreyfuss
article
American Journal of Respiratory and Critical Care Medicine, 2018, 198 (1), pp.58-66. ⟨10.1164/rccm.201706-1255OC⟩
Accès au bibtex
BibTex

Conference papers

titre
New defect detection approach using near electromagnetic field probing for high density PCBAs New defect detection approach using near electromagnetic field probing of high density PCBAs
auteur
Nabil El Belghiti Alaoui, Patrick Tounsi, Alexandre Boyer, Arnaud Viard
article
29 th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2018), Oct 2018, Aalborg, Denmark. ⟨10.1016/j.microrel.2018.07.090⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.laas.fr/hal-02319457/file/ESREF2018.pdf BibTex
titre
Modeling the internal activity of an FPGA for conducted emission prediction purpose
auteur
Chaimae Ghfiri, André Durier, C. Marot, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
2018 Joint IEEE EMC & APEMC Symposium, May 2018, Singapour, Singapore. 6p
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01839745/file/Ghfiri%20APEMC2018%20-%20FPGA%20IA%20CONSTRUCTION%20-Final.pdf BibTex
titre
New testing approach using near electromagnetic field probing intending to upgrade in-circuit testing of high density PCBAs
auteur
Nabil El-Belghiti, Patrick Tounsi, Alexandre Boyer, Arnaud Viard
article
27th IEEE North Atlantic Test Workshop, May 2018, Essex, United States. ⟨10.1109/NATW.2018.8388867⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01997428/file/NATW2018_FINAL.pdf BibTex

2017

Conference papers

titre
Learning EMC of ICs with IC-EMC
auteur
Alexandre Boyer, Etienne Sicard
article
EMC Europe 2017, Sep 2017, Angers, France. 20p
Accès au bibtex
BibTex
titre
A new methodology to extract the ICEM-CE internal activity block of a FPGA
auteur
Chaimae Ghfiri, André Durier, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
EMC Europe, Sep 2017, Angers, France. pp. 1-6
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01661809/file/Ghfiri_18288.pdf BibTex
titre
ICEM Generator – A tool for the construction of IC emission models
auteur
Alexandre Boyer, Chaimae Ghfiri, André Durier
article
EMC Europe 2017, Sep 2017, Angers, France. 14p
Accès au bibtex
BibTex
titre
Comparison of extraction methods to build a radiated emission model of ICs (ICEM-RE): pros and cons
auteur
Sébastien Serpaud, Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, André Durier
article
EMC Europe 2017 , Sep 2017, Angers, France. 23p
Accès au bibtex
BibTex
titre
Radiated suceptibility investigation of electronic board from near field scan method
auteur
Nicolas Lacrampe, Sebastien Serpaud, Alexandre Boyer, Séreirath Tran
article
11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017), Jul 2017, Saint-Petersbourg, Russia. pp.125-130, ⟨10.1109/EMCCompo.2017.7998096⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01574389/file/Radiated%20Suceptibility%20Investigation%20of%20Electronic%20Board%20from%20Near%20Field%20Scan%20Method_final_version.pdf BibTex
titre
Study of the thermal aging effect on the conducted emission of a synchronous buck converter
auteur
Alexandre Boyer, Manuel Antero Gonzalez Sentis, Chaimae Ghfiri, André Durier
article
EMC Compo (The 11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits), Jul 2017, Saint Petersburg, Russia. pp. 79-84
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01649708/file/Boyer_18257.pdf BibTex
titre
Modeling methodology of the conducted emission of a DC-DC converter board
auteur
Alexandre Boyer, Manuel Antero Gonzalez Sentis, Chaimae Ghfiri, André Durier
article
11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017), Jul 2017, Saint-Petersbourg, Russia. pp.73-78, ⟨10.1109/EMCCompo.2017.7998085⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01574376/file/Boyer%20-%20EMC_Compo17_DC%20DC%20converter%20modeling%20final%20v2.pdf BibTex
titre
Proposal for combined conducted and radiated emission modelling for Integrated Circuit
auteur
Sébastien Serpaud, Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, A Durier
article
11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017), Jul 2017, Saint-Petersbourg, Russia. pp.172-177, ⟨10.1109/EMCCompo.2017.7998105⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01574387/file/EMC_Compo_2017_paper_25_final.pdf BibTex
titre
Methodology of modeling of the internal activity of a FPGA for conducted emission prediction purpose
auteur
Chaimae Ghfiri, André Durier, Christian Marot, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017), Jul 2017, Saint-Petersbourgh, Russia. 6p
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01574384/file/Ghfiri%202017%20EMC%20Compo-%20FPGA%20IA%20CONSTRUCTION%20-Final%20v1.pdf BibTex
titre
Methodology of modeling of the internal activity of a FPGA for conducted emission prediction purpose
auteur
Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, Andre Durier, Sonia Ben Dhia
article
Congrès de l'école doctorale GEET, Mar 2017, Toulouse, France. 6p
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01500303/file/64314.pdf BibTex

Books

titre
Basis of Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits - A modeling approach using IC-EMC
auteur
Alexandre Boyer, Etienne Sicard
article
Presses Universitaires du Midi - Collection Pour l'ingénieur. Presses universitaires du Midi (PUM), 390p., 2017, 978-2-8107-0522-1
Accès au bibtex
BibTex

2016

Conference papers

titre
AMELIORATION DE LA RESOLUTION SPATIALE DE SCAN CHAMP PROCHE EN INJECTION
auteur
Alexandre Boyer
article
18e Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique CEM2016, Jul 2016, Rennes, France
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01403886/file/Boyer_Amelioration_Resolution_Scan_Immunite_final.pdf BibTex
titre
Construction d'un modèle ICEM pour prédire l'émission électromagnétique d'un FPGA
auteur
Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, André Durier, Sonia Ben Dhia, C Marot
article
18e Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique (CEM2016), Jul 2016, Rennes, France. 5p
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01403883/file/Ghfiri%202016%20-%20FPGA%20mod%C3%A8le%20ICEM%20CE-Final.pdf BibTex
titre
Predicting the risk of non-compliance to EMC requirements during the life-cycle
auteur
Alexandre Boyer, He Huang, Sonia Ben Dhia
article
2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.452 - 455, ⟨10.1109/APEMC.2016.7522766⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01403875/file/PID4131123.pdf BibTex
titre
A Review of Research on the Effect of Aging on the EMC of Integrated Circuits
auteur
Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
article
2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC 2016), May 2016, Shenzhen, China. ⟨10.1109/APEMC.2016.7522971⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01403874/file/PID4124931.pdf BibTex
titre
Improving spatial resolution of immunity maps by post-processing
auteur
Alexandre Boyer
article
2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.56 - 59, ⟨10.1109/APEMC.2016.7522794⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01403868/file/Boyer%202016%20-%20NFSI%20spatial%20resolution%20enhancement%20-%20final.pdf BibTex
titre
A methodologic project to characterize and model COTS components EMC behavior after ageing
auteur
Andre Durier, Alexandre Boyer, Geneviève Duchamp
article
2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.376 - 379, ⟨10.1109/APEMC.2016.7522742⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01698337/file/DURIER_APEMC16_final.pdf BibTex
titre
Construction of an Integrated Circuit Emission Model of a FPGA
auteur
Chaimae Ghfiri, André Durier, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Christian Marot
article
2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.402-405, ⟨10.1109/APEMC.2016.7522751⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01663667/file/Ghfiri%202016%20-%20FPGA%20ICEM%20model%20-final%20paper.pdf BibTex

2015

Journal articles

titre
Modeling Magnetic Near-Field Injection at Silicon Die Level
auteur
Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, Manuel Cavarroc
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2015, 58 (1), pp. 257-269. ⟨10.1109/TEMC.2015.2486041⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01225324/file/Boyer-Modeling%20Magnetic%20Near-Field%20Injection%20at%20Silicon%20Die%20Level_final_v2.pdf BibTex
titre
Electronic counterfeit detection based on the measurement of electromagnetic fingerprint
auteur
He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2015, 55 (9-10), pp.2050-2054. ⟨10.1016/j.microrel.2015.07.008⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01225338/file/Electronic%20counterfeit%20detection%20based%20on%20the%20measurement%20of%20electromagnetic%20fingerprint_VF3.pdf BibTex
titre
Analysis and modeling of passive device degradation for a long-term electromagnetic emission study of a DC–DC converter
auteur
He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2015, 55 (9-10), pp. 2061-2066. ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.058⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01225333/file/Analysis%20and%20Modelling%20of%20Passive%20device%20degradation%20for%20a%20long-term%20electromagnetic%20emission%20study%20of%20a%20DC-DC%20converter_VF2.pdf BibTex
titre
A methodologic project to characterize and model COTS component reliability
auteur
André Durier, Alain Bensoussan, Moustafa Zerarka, Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, Hélène Frémont
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2015, 55 (9-10), pp.2097-2102. ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.140⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01582570/file/Durier_18034.pdf BibTex

Conference papers

titre
EMC modeling of Integrated Circuits using IC-EMC
auteur
Etienne Sicard, Alexandre Boyer
article
10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 2p
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01225370/file/EMC%20Compo%2015%20-%20Demo%20IC-EMC%20-%20v3.pdf BibTex
titre
Developing a Universal Exchange Format for Integrated Circuit Emission Model – Conducted Emissions
auteur
Abhishek Ramanujan, Etienne Sicard, Alexandre Boyer, Jean-Luc Levant, Christian Marot, Frédéric Lafon
article
10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 6p
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01225367/file/EMC_COMPO_2015_RAMANUJAN_SICARD_Final.pdf BibTex
titre
ANALYSIS AND MODELING OF PASSIVE DEVICE DEGRADATION FOR THE LONG-TERM ELECTROMAGNETIC EMISSION PREDICTION OF A DC-DC CONVERTER
auteur
Alexandre Boyer, He Huang, Sonia Ben Dhia
article
10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom
Accès au bibtex
BibTex
titre
Bandgap Failure Study Due To Parasitic Bipolar Substrate Coupling In Smart Power Mixed ICs
auteur
Marc Veljko Thomas Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 5p
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01225358/file/Veljko%20Tomasevic_LAAS%20CNRS_EMC%20COMPO%202015_V3.0.pdf BibTex
titre
EMC performance analysis of a Processor/Memory System using PCB and Package-On-Package
auteur
Etienne Sicard, Alexandre Boyer, Priscillia Fernandez-Lopez, An Zhou, Nicolas Marier, Frédéric Lafon
article
10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 6p
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01225364/file/EMC%20Compo%202015%20-%20PoP%20Valeo%20-%20v10.pdf BibTex
titre
Enhancement of the Spatial Resolution of Near-Field Immunity Maps
auteur
Alexandre Boyer, Manuel Cavarroc
article
10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 6p
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01225356/file/Boyer_EMCCompo15%20-%20NFSI%20spatial%20reso%20enhancement%20-%20Final.pdf BibTex
titre
Analysis and Modelling of Passive device degradation for a long-term electromagnetic emission study of a DC-DC converter
auteur
He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
26th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2015), Oct 2015, Toulouse, France
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01225352/file/Analysis%20and%20Modelling%20of%20Passive%20device%20degradation%20for%20a%20long-term%20electromagnetic%20emission%20study%20of%20a%20DC-DC%20converter_VF2.pdf BibTex
titre
Electronic counterfeit detection based on the measurement of electromagnetic fingerprint Electronic counterfeit detection based on the measurement of electromagnetic fingerprint
auteur
He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
26th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2015), Oct 2015, Toulouse, France
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01225354/file/Electronic%20counterfeit%20detection%20based%20on%20the%20measurement%20of%20electromagnetic%20fingerprint_VF3.pdf BibTex
titre
Passive device degradation models for a electromagnetic emission robustness study of a buck DC-DC converter
auteur
He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
EMC Europe 2015, Aug 2015, Dresden, Germany. 6p
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01225350/file/Passive%20component%20_EMC2015_V6.pdf BibTex
titre
Coupling study in smart power mixed ICs with a dedicated on-chip sensor
auteur
Marc Veljko Thomas Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Alexander Steinmar, Weiss B., Ehrenfried Seebacher, Rust P.
article
EMC Europe 2015, Aug 2015, Dresden, Germany. ⟨10.1109/ISEMC.2015.7256236⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01225345/file/Veljko%20Tomasevic_LAAS%20CNRS_EMC%20EUROPE%202015_V3.0_SUBMITTED.pdf BibTex
titre
Electromagnetic near field injection model on integrated circuit
auteur
Rachid Omarouayache, Jérémy Raoult, Pierre Payet, Laurent Chusseau, Bertrand Vrignon, Adrien Doridant, Alexandre Boyer
article
Progress In Electromagnetics Research Symposium (PIERS 2015), Jul 2015, Prague, Czech Republic
Accès au bibtex
BibTex
titre
Modèle d'injection électromagnétique en champ proche sur circuit intégré
auteur
Rachid Omarouayache, Jérémy Raoult, Pierre Payet, Laurent Chusseau, Bertrand Vrignon, John Shepherd, Alexandre Boyer
article
19èmes Journées Nationales Microondes - JNM 2015, Jun 2015, Bordeaux, France
Accès au bibtex
BibTex
titre
Prediction of Aging Impact on Electromagnetic Susceptibility of an Operational Amplifier
auteur
He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Bertrand Vrignon
article
Asia-Pacific International EMC Symposium 2015, May 2015, Taipei, Taiwan. 4p
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01159222/file/Prediction%20of%20Aging%20Impact%20on%20Electromagnetic%20Susceptibility%20of%20an%20Operational%20Amplifier_Version%20finale_V1.pdf BibTex
titre
Development of an On-Chip Sensor for Substrate Coupling Study in Smart Power Mixed ICs
auteur
Marc Veljko Thomas Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
Asia-Pacific International EMC Symposium 2015, May 2015, Taipei, Taiwan. 4p
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01159221/file/Veljko%20Tomasevic_LAAS%20CNRS_APEMC%202015_V5%20FINAL%20FINAL.pdf BibTex
titre
Near-Field Injection At Die Level
auteur
Alexandre Boyer, B Vrignon, Manuel Cavarroc, J Shepherd
article
Asia-Pacific International EMC Symposium 2015, May 2015, Taipei, Taiwan
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01159220/file/boyer%202015%20-%20Near-Field%20Injection%20at%20Die%20Level%20-%20Final%20v4.pdf BibTex
titre
Long-term Electromagnetic Robustness of Integrated Circuits, Challenge and Trends
auteur
Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
Minapad Forum 2015, Apr 2015, Grenoble, France. 6p
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01159227/file/Boyer%20-%20Minapad%202015%20-%20Long-term%20EMC%20of%20ICs.pdf BibTex

2014

Journal articles

titre
Modeling and Simulation of LDO Voltage Regulator Susceptibility to Conducted EMI
auteur
Jianfei Wu, Alexandre Boyer, Jiancheng Li, Bertrand Vrignon, Etienne Sicard, Rongjun Shen
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, 56 (3), pp.726-735. ⟨10.1109/TEMC.2013.2294951⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01159232/file/paper_Modeling%20and%20Simulation%20of%20LDO%20Voltage%20Regulator%20Susceptibility%20to%20Conducted%20EMI_final.pdf BibTex
titre
Modeling and Simulation of LDO Voltage Regulator Susceptibility to Conducted EMI
auteur
Jianfei Wu, Alexandre Boyer, Jiancheng Li, Bertrand Vrignon, Sonia Ben Dhia, Etienne Sicard, Rongjun Shen
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, 56 (3), pp.726-735. ⟨10.1109/TEMC.2013.2294951⟩
Accès au bibtex
BibTex
titre
Effect of Aging on Power Integrity and Conducted Emission of Digital Integrated Circuits
auteur
Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2014, 10 (1), pp.165-172
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00938358/file/Boyer_2014_-Effect_of_Aging_on_PI_and_CE_of_Digital_ICs_JOLPE.pdf BibTex
titre
Experimental Investigations into the Effects of Electrical Stress on Electromagnetic Emission from Integrated Circuits
auteur
Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Binhong Li, Nestor Berbel, Raul Fernandez-Garcia
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, 56 (1), pp. 44-50. ⟨10.1109/TEMC.2013.2272195⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00937775/file/06563162.pdf BibTex

Conference papers

titre
Electromagnetic analysis, deciphering and reverse engineering of integrated circuits (E-MATA HARI)
auteur
Laurent Chusseau, Rachid Omarouayache, Jérémy Raoult, Sylvie Jarrix, Philippe Maurine, Karim Tobich, Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, John Shepherd, Thanh-Ha Le, Maël Berthier, Lionel Rivière, Bruno Robisson, Anne-Lise Ribotta
article
VLSI-SoC: Very Large Scale Integration - System-on-Chip, Oct 2014, Playa del Carmen, Mexico. pp.1-6, ⟨10.1109/VLSI-SoC.2014.7004189⟩
Accès au bibtex
BibTex
titre
The detection of counterfeit integrated circuit by the use of electromagnetic fingerprint
auteur
He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
EMC Europe 2014, Sep 2014, Gothenburg, Sweden. pp.1-5
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01068129/file/He_conterfeit_final_V1.pdf BibTex
titre
Susceptibility Analysis of an Operational Amplifier Using On-Chip Measurement
auteur
He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Bertrand Vrignon
article
EMC Europe 2014, Sep 2014, Goteborg, Sweden. pp.1-5
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01068127/file/Susceptibility_Analysis_of_an_Operational_Amplifier_Using_On-Chip_Measurement.pdf BibTex
titre
Evaluation of the Near-Field Injection Method at Integrated Circuit Level
auteur
Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, John Shepherd, Manuel Cavarroc
article
EMC Europe 2014, Sep 2014, Goteborg, Sweden. pp.1-6
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01068126/file/Boyer_2014_-_Near_field_injection_review_v4.pdf BibTex
titre
Reliability of active RFID tag immersed in water for anti-kidnapping applications
auteur
Clément Crémoux, Alexandre Boyer, Karim Ben Dhia
article
2014 IEEE-APS Topical Conference on Antennas and Propagation in Wireless Communications (APWC), Aug 2014, Aruba, Aruba. pp.40-43
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01068122/file/Cremoux_2014_APWC.pdf BibTex
titre
IMPACT DU VIEILLISSEMENT THERMIQUE SUR L'EMISSION D'UN CONVERTISSEUR BUCK
auteur
He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
17ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2014), Jul 2014, Clermont-Ferrand, France. pp.1-5
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01068132/file/He_IMPACT_DU_VIEILLISSEMENT_THERMIQUE_SUR_LA_a_a_EMISSION_DA_a_a_UN_CONVERTISSEUR_DC-DC_ABAISSEUR_DE_TENSION_RESUME_V3.pdf BibTex
titre
DEVELOPPEMENT D'UN CAPTEUR SUR PUCE AFIN D'ETUDIER LE COUPLAGE PARASITE DANS LES CIRCUITS INTEGRES DE TYPE " SMART POWER
auteur
Marc Veljko Thomas Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
17ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2014), Jul 2014, Clermont-Ferrand, France. pp.1-5
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01068133/file/Veljko_Tomasevic_CEM2014_final.pdf BibTex
titre
Impact of thermal aging on emission of a buck DC-DC converter
auteur
Alexandre Boyer, He Huang, Sonia Ben Dhia
article
2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo (EMC'14/Tokyo), May 2014, Tokyo, Japan. pp.77-80
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01006115/file/13A2-A4.pdf BibTex
titre
Design of on-chip sensors to monitor electromagnetic activity in ICs: Towards on-line diagnosis and self-healing
auteur
Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
article
Test Workshop - LATW, 2014 15th Latin American, Mar 2014, Fortaleza, Brazil. pp.1-6
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01017384/file/LATW2014_bendhia.pdf BibTex

2013

Journal articles

titre
Long-term Electro-Magnetic Robustness of Integrated Circuits: EMRIC research project
auteur
Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2013, 53, pp.1266-1272. ⟨10.1016/j.microrel.2013.08.016⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00938353/file/ESREF_2013_bendhia-1.pdf BibTex
titre
Characterization of Changes in LDO Susceptibility after Electrical Stress
auteur
Jianfei Wu, Alexandre Boyer, Jiancheng Li, Sonia Ben Dhia, Rongjun Shen
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2013, 55 (5), pp.883-890. ⟨10.1109/TEMC.2013.2242471⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00937780/file/06466379.pdf BibTex

Conference papers

titre
Characterization and modeling of electrical stresses on digital integrated circuits power integrity and conducted emission
auteur
Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
2013 9th Intl Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2013), Dec 2013, Nara, Japan. pp.190-195, ⟨10.1109/EMCCompo.2013.6735199⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00945301/file/PID2948457.pdf BibTex
titre
Electro-magnetic robustness of integrated circuits: from statement to prediction
auteur
Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
article
2013 9th Intl Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2013), Dec 2013, Nara, Japan. pp.208 - 213, ⟨10.1109/EMCCompo.2013.6735202⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00945302/file/Bendhia_EMCCOmpo2013_-_Electromagnetic_robustness-2.pdf BibTex
titre
Effect of Electrical Stresses on the Susceptibility of a Voltage regulator
auteur
Jian-Fei Wu, Jiancheng Li, Rongjun Shen, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
EMC Symposium in Europe 2013 (EMC Europe 2013), Sep 2013, Bruges, Belgium. pp.113
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01006119/file/Wu_-_Boyer_2013_-_effect_of_aging_on_LDO_v2.pdf BibTex
titre
AUTOMICS: A novel approach for substrate modeling for Automotive applications
auteur
Yasser Moursy, Sahar Afara, Pietro Buccella, Camillo Stefanucci, Ramy Iskander, Maher Kayal, Jean-Michel Sallese, Marie-Minerve Louërat, Jean-Paul Chaput, Marc Veljko Thomas Tomasevic, Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Bruno Guegan, Vanni Poletto, Andrea Roggero, Tiziana Cavioni, Enrico Novarini, Ehrenfried Seebacher, Alexander Steinmair, Pierre Tisserand, Dieu-My Ton, Thierry Bousquet, Thomas Gneiting
article
18th IEEE European Test Symposium, May 2013, Avignon, France
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01078755/file/article_Automics_ETS_2013_CS_2.pdf BibTex
titre
Effect of Electrical Stresses on Digital Integrated Circuits Power Integrity
auteur
Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
2013 17th IEEE Workshop on Signal and Power Integrity (SPI), May 2013, Paris, France. pp.1-4
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01006121/file/Boyer_2013_-_effect_of_aging_on_PI_final_v2.pdf BibTex

2012

Journal articles

titre
Prediction of Long-Term Immunity of a Phase-Locked Loop
auteur
Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Binhong Li, Christophe Lemoine, Bertrand Vrignon
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2012, 28 (6), pp.791-802. ⟨10.1007/s10836-012-5335-y⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00936086/file/boyer_-_jetta_-_prediction_of_long-term_immunity_of_integrated_circuits_-_v3.pdf BibTex
titre
IC immunity modeling process validation using on-chip measurements
auteur
Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, Mikael Deobarro
article
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2012, 28 (3), pp.339-348. ⟨10.1007/s10836-012-5294-3⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00936080/file/BenDhia_-_JETTA_-IC_immunity_modellingV2_.pdf BibTex
titre
Enhancing accuracy of low-dropout regulator susceptibility extraction with on-chip sensors
auteur
Jian-Fei Wu, Etienne Sicard, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Jiancheng Li, Rongjun Shen
article
Electronics Letters, IET, 2012, 48 (11), pp.649-650. ⟨10.1049/el.2012.0407⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00709287/file/Enhancing_accuracy_of_low-dropout_regulator_susceptibility_extraction_with_on-chip_sensors.pdf BibTex
titre
On-Chip Noise Sensor for Integrated Circuit Susceptibility Investigations
auteur
Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, Mikael Deobarro, Dinh Than Vinh
article
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2012, 61 (3), pp.696. ⟨10.1109/TIM.2011.2172116⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00668627/file/TIM2172116_1_.pdf BibTex

2011

Journal articles

titre
A New Approach to Modeling the Impact of EMI on MOSFET DC Behavior
auteur
Raul Fernandez-Garcia, Ignacio Gil, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Bertrand Vrignon
article
IEICE Transactions on Electronics, Institute of Electronics, Information and Communication Engineers, 2011, E94-C (12), pp.1906
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669506/file/DPI_MOSFET_5.pdf BibTex
titre
Experimental verification of the usefulness of the nth power law MOSFET model under hot carrier wearout
auteur
Nestor Berbel, Raul Fernandez-Garcia, Ignacio Gil, Binhong Li, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2011, 51 (9), pp.1564
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669511/file/8602786.pdf BibTex
titre
Study of the impact of hot carrier injection to immunity of MOSFET to electromagnetic interferences
auteur
Binhong Li, Nestor Berbel, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Raul Fernandez-Garcia
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2011, 51, pp.1557-1560. ⟨10.1016/j.microrel.2011.06.010⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00936069/file/MicroelectronicReliability_2011_full_paper_Binhong_V1.pdf BibTex

Conference papers

titre
Construction and Evaluation of the Susceptibility Model of an Integrated Phase-Locked Loop
auteur
Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Christophe Lemoine, Bertrand Vrignon
article
8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Itnegrated Circuits, Nov 2011, Dubrovnik, Croatia. pp.7
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669716/file/06130042.pdf BibTex
titre
An On-Chip Sensor for Time Domain Characterization of Electromagnetic Interferences
auteur
Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Christophe Lemoine, Bertrand Vrignon
article
8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), Nov 2011, Dubrovnik, Croatia. pp.251
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669533/file/06130073.pdf BibTex
titre
An alternative approach to model the Internal Activity of integrated circuits
auteur
Nestor Berbel, Raul Fernandez-Garcia, Ignacio Gil, Binhong Li, Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
article
8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Nov 2011, Dubrovnik, Croatia. pp.88
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669719/file/06130056.pdf BibTex
titre
Enhancing Engineers Skills in EMC of Integrated Circuits
auteur
Etienne Sicard, Alexandre Boyer
article
8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Nov 2011, Dubrovnik, Croatia. pp.115
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669721/file/06130078.pdf BibTex
titre
Study of the impact of hot carrier injection to immunity of MOSFET to electromagnetic interferences
auteur
Binhong Li, Nestor Berbel, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Raul Fernandez-Garcia
article
European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2011), Oct 2011, Bordeaux, France. pp.1557
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669726/file/ESREF_2011_full_paper_Binhong_V1.pdf BibTex

2010

Journal articles

titre
Ageing effect on electromagnetic susceptibility of a phase locked loop
auteur
Binhong Li, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Christophe Lemoine
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2010, 50 (9), p.1304-1308. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.100⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669515/file/Paperl_ESREF2010_V6.pdf BibTex
titre
Characterisation of electromagnetic compatibility drifts of nanoscale integrated circuit after accelerated life tests
auteur
Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Binhong Li, Amadou Ndoye Cisse
article
Electronics Letters, IET, 2010, 46 (4), p. 278-280. ⟨10.1049/el.2010.2885⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669745/file/BenDhia_2010_-_Charac_of_EMC_drifts_of_nanoscale_IC_after_accelerated_life_tests.pdf BibTex

2009

Journal articles

titre
Characterization of the Evolution of IC Emissions after Accelerated Aging
auteur
Alexandre Boyer, Amadou Ndoye Cisse, Sonia Ben Dhia, Laurent Guillot, Bertrand Vrignon
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, 51 (4), pp.892. ⟨10.1109⟩
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669519/file/Boyer_2009_-Evolution_of_IC_Emission_Spectrum_after_Ageing_-_for_publication.pdf BibTex
titre
The Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits—Past, Present, and Future
auteur
Mohamed Ramdani, Etienne Sicard, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, James Whalen, Todd Hubing, Mart Coenen, Osami Wada
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, 51 (1), pp.78-100. ⟨10.1109/TEMC.2008.2008907⟩
Accès au bibtex
BibTex

2008

Journal articles

titre
Comparison among emission and susceptibility reduction techniques for electromagnetic interference in digital integrated circuits
auteur
Ali Alaeldine, Nicolas Lacrampe, Alexandre Boyer, Richard Perdriau, Fabrice Caignet, Mohamed Ramdani, Etienne Sicard, M'Hamed Drissi
article
Microelectronics Journal, Elsevier, 2008, 39 (12), pp.1728-1735. ⟨10.1016/j.mejo.2008.02.022⟩
Accès au bibtex
BibTex