2024
Journal articles
- titre
- An Efficient Characterization Method to Predict the Susceptibility of Integrated Circuits to Multitone Disturbance
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet, Matthieu Laidet
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, In press, pp.1-11. ⟨10.1109/TEMC.2024.3448495⟩
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-
- titre
- A Pre-Scan Method to Accelerate Near-Field Scan Immunity Tests
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
- article
- IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications, In press, pp.1-1. ⟨10.1109/LEMCPA.2024.3363113⟩
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-
Conference papers
- titre
- Analysis of Operational Amplifier Susceptibility to Multifrequency Disturbance
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
- article
- 1'th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Oct 2024, Turin (IT), Italy
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-
- titre
- Accelerated characterisation of Operational Amplifiers' susceptibility using multitone disturbance
- auteur
- Matthieu Laidet, Alexandre Boyer, Julien Gazave, Sonia Ben Dhia
- article
- 14th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Oct 2024, Turin (Italie), Italy
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-
- titre
- Proposition d’une méthodologie d’analyse de la susceptibilité électromagnétique des composants électroniques en champ proche et jusqu’à 6 GHz
- auteur
- Nicolas Castagnet, Béatrice Lalle, Fabien Escudié, Alexandre Boyer, Antoine Chauloux
- article
- Journées d'Études Compatibilité Radioélectrique, Oct 2024, Rennes, France
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-
- titre
- Using Near-Field Scan to Predict the Conducted Immunity of Electronic Components up to 6 GHz
- auteur
- Nicolas Castagnet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié
- article
- EMC Europe 2024 Symposium, Sep 2024, Brugges, Belgium
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-
- titre
- Study of the Multifrequency Susceptibility of Operational Amplifiers
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
- article
- EMC Europe 2024 Symposium, Sep 2024, Brugges, Belgium
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-
- titre
- Modèle de corrélation entre une tension conduite et une injection champ proche
- auteur
- Nicolas Castagnet, Fabien Escudié, Alexandre Boyer
- article
- XXIIIèmes Journées Nationales Microondes, Jun 2024, Antibes, France
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-
- titre
- Correlation Between Conducted Injection and Near-Field Scan Immunity in the L-Band
- auteur
- Nicolas Castagnet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié
- article
- 2024 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2024 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Japan/APEMC Okinawa), May 2024, Okinawa, Japan. ⟨10.23919/EMCJapan/APEMCOkinaw58965.2024.10584582⟩
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-
2023
Conference papers
- titre
- Modèle d'estimation de la susceptibilité conduite à partir d'une injection champ proche entre 500 MHz et 2 GHz
- auteur
- Nicolas Castagnet, Fabien Escudié, Alexandre Boyer
- article
- Dixième Conférence Plénière du GDR Ondes, Dec 2023, Marseille (France), France
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-
- titre
- In-Situ and Contactless Evaluation of Performance of Power Converter EMC Filter based on Near-Field Scan Measurement
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Sébastien Serpaud
- article
- EMC Europe 2023, Sep 2023, Cracovie (PL), Poland
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Passive Cell Balancing Impact On Injection Levels During Direct Power injection on Battery Management System
- auteur
- Badr Guendouz, Kamel Abouda, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Mathieu Aribeau
- article
- EMC Europe 2023, Sep 2023, Cracovie, Poland
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Performance Charaterisation of the Decoupling Capacitor Network using the Near-Field Measurement
- auteur
- Alexandre Boyer, Sébastien Serpaud, Sonia Ben Dhia, Fabio Coccetti
- article
- EMC Europe 2023, Sep 2023, Cracovie, Poland
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Analytical Approach of The High Susceptibility Frequencies of a Battery Management System During Direct Power Injection. Methods of Improvement
- auteur
- Badr Guendouz, Kamel Abouda, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Olivier Tico, Jérémy Ruau
- article
- IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY, SIGNAL & POWER INTEGRITY (EMC+SIPI 2023), Jul 2023, Grand Rapids, United States. ⟨10.1109/EMCSIPI50001.2023.10241599⟩
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-
- titre
- MÉTHODE D'EXTRACTION RAPIDE ET EFFICACE D'UN MODÈLE DE PROTECTION ESD FACE À DES PHÉNOMÈNES TRANSITOIRES RAPIDES
- auteur
- François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Guillaume Mejecaze, Fabien Escudie, Frédéric Puybaret
- article
- 21ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2023), Jun 2023, Toulouse, France
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-
- titre
- METHODE DE PRE-SCAN POUR ACCELERER LES TEMPS DE MESURE DU SCAN CHAMP PROCHE EN IMMUNITE
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
- article
- 21ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2023), Jun 2023, Toulouse, France
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-
- titre
- UNE ETUDE COMPARATIVE DES NIVEAUX DPI SUR UN CI BMS AVEC UN MODELE ANALYTIQUE DES RESONANCES
- auteur
- Badr Guendouz, Kamel Abouda, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Hiba Mediouni, J. Dietsch
- article
- 21ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2023), Jun 2023, Toulouse, France
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-
2022
Journal articles
- titre
- A Low-Cost RF Detector to Enhance the Direct Power Injection Conducted Immunity Setup
- auteur
- Alexandre Boyer
- article
- IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications, 2022, 4 (4), pp.108 - 113. ⟨10.1109/LEMCPA.2022.3210876⟩
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-
- titre
- Gestion de l’obsolescence des composants pour la CEM
- auteur
- Alexandre Boyer, Marine Stojanovic, Kévin Loudière, Frédéric Lafon, Sébastien Serpaud
- article
- Techniques de l'Ingénieur, 2022, pp.g7034. ⟨10.51257/a-v1-g7034⟩
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-
- titre
- On the Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Immunity at Printed Circuit Board Level – Part II
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (5), pp.1493 - 1505. ⟨10.1109/TEMC.2022.3172601⟩
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-
- titre
- New Measurement Method to Investigated Service Life of Protection Networks exposed to ESD
- auteur
- François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
- article
- Microelectronics Reliability, 2022, 33rd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ⟨10.1016/j.microrel.2022.114661⟩
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-
- titre
- On the Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Immunity at Printed Circuit Board Level - Part I
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (4), pp.1230 - 1242. ⟨10.1109/TEMC.2022.3169183⟩
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-
- titre
- Efficiency of Sequential Spatial Adaptive Sampling Algorithm to Accelerate Multi-Frequency Near-Field Scanning Measurement
- auteur
- Sébastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Fabio Coccetti
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (3), pp.816 - 826. ⟨10.1109/TEMC.2021.3136096⟩
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-
- titre
- Frequency Based Method Investigation to Extract an ESD Protection Dynamic SPICE Model from TLP Measurements
- auteur
- Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Alexandre Boyer
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (1), pp.47 - 57. ⟨10.1109/TEMC.2021.3106770⟩
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-
Conference papers
- titre
- New Measurement Method to Investigated Service Life of Protection Networks exposed to ESD
- auteur
- François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
- article
- 33rd European Symposium on Reliability of Electron Devices Failure Physics and Analysis (ESREF2022), Sep 2022, Berlin, Germany. ⟨10.1016/j.microrel.2022.114661⟩
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-
- titre
- Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Susceptibility at Integrated Circuit Level
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2022), Sep 2022, Goteborg, Sweden. ⟨10.1109/EMCEurope51680.2022.9900970⟩
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-
- titre
- A Comparative Study of DPI levels on BMS IC With an On-Hand Analytical Model to Predict Resonances
- auteur
- Badr Guendouz, Kamel Abouda, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Hiba Mediouni, Jérome Dietsch
- article
- International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2022), Sep 2022, Goteborg, Sweden. ⟨10.1109/EMCEurope51680.2022.9901210⟩
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-
- titre
- A new Investigation Methodology to predict Far Field Radiated Immunity from Near Field Scan Immunity Measurements
- auteur
- André Durier, Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Tristan Dubois
- article
- International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility EMC Europe 2022, Sep 2022, Goteborg, Sweden. ⟨10.1109/EMCEurope51680.2022.9900974⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- A fast and efficient Model Extraction Method to predict the transient Response of ESD Protection Devices
- auteur
- François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
- article
- International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility EMC Europe 2022, Sep 2022, Goteborg, Sweden. ⟨10.1109/EMCEurope51680.2022.9901148⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- A Simple Analytical Approximation to evaluate Noise Levels and Maximum Coupling Frequencies During DPI Simulations on BMS IC
- auteur
- Badr Guendouz, Philippe Perruchoud, Kamel Abouda, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Asia Pacific International Conference on EMC (APEMC) 2022, Sep 2022, Beijing, China. ⟨10.1109/APEMC53576.2022.9888479⟩
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-
- titre
- A Technique to Assess Conducted Immunity of an Electronic Equipment after an Obsolete Integrated Circuit Change
- auteur
- Saliha Chetouani, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Sébastien Serpaud, André Durier
- article
- 13th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2021), Mar 2022, Brugges, Belgium. ⟨10.1109/EMCCompo52133.2022.9758624⟩
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-
2021
Journal articles
- titre
- Closed-Form Expressions of Electric and Magnetic Near-Fields for the Calibration of Near-Field Probes
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 70, ⟨10.1109/TIM.2021.3126376⟩
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-
- titre
- Impact of place and route strategy on FPGA electromagnetic emission
- auteur
- Estevan L Lara, Allan A Constante, Juliano Benfica, Fabian Vargas, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Andreas Gleinser, Gunter Winkler, Bernd Deutschmann
- article
- Microelectronics Reliability, 2021, 126, pp.114333. ⟨10.1016/j.microrel.2021.114333⟩
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-
- titre
- Fast and Accurate Near-Field Measurement Method using Sequential Spatial Adaptive Sampling (SSAS) Algorithm
- auteur
- Sébastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Fabio Coccetti
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2021, 63 (3), pp.858-869. ⟨10.1109/TEMC.2020.3025547⟩
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-
- titre
- Low-Cost Broadband Electronic Coupler for Estimation of Radiated Emission of Integrated Circuits in TEM Cell
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2021, 63 (2), pp.636-639. ⟨10.1109/TEMC.2020.3021135⟩
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-
Conference papers
- titre
- Anticipating Common-Mode Conducted Emission of DC-DC Converter from Electric Near-Field Scan
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- 2021 JOINT IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY, SIGNAL & POWER INTEGRITY, AND EMC EUROPE, Jul 2021, Glasgow (virtuel), United Kingdom. ⟨10.1109/EMC/SI/PI/EMCEurope52599.2021.9559364⟩
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-
- titre
- UNE NOUVELLE SONDE DE MESURE DE TENSION INDUITE POUR L'INVESTIGATION EN IMMUNITE RAYONNEE
- auteur
- Alexandre Boyer, André Durier, Sonia Ben Dhia
- article
- 20e Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique CEM2021, Apr 2021, Lyon (Virtuel), France
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-
- titre
- APPLICATION DES METHODES DE MESURES INDIRECTES DE PARAMETRES " S " EN VUE DE LA GESTION DE L'OBSOLESCENCE DES COMPOSANTS EN IMMUNITE CONDUITE
- auteur
- Saliha Chetouani, Alexandre Boyer, Sébastien Serpaud, Sonia Ben Dhia
- article
- 20e Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique CEM2021, Apr 2021, Lyon (virtuel), France
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-
- titre
- Preliminary Study on the Impact of Place and Route Strategy on FPGA Electromagnetic Emission
- auteur
- Estevan Lara, Allan Constante, Juliano Benfica, Fabian Vargas, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Andreas Gleinser, Gunter Winkler, Bernd Deutschmann
- article
- 2021 Argentine Conference on Electronics (CAE2021), Mar 2021, Bahia Blanca (Virtual), Argentina. ⟨10.1109/CAE51562.2021.9397567⟩
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-
2020
Conference papers
- titre
- A new Voltage Measurement Probe for investigating Radiated Immunity Test
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, André Durier
- article
- EMC Europe 2020, Sep 2020, Rome (virtual), Italy
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-
- titre
- Fast and efficient approach to predict EMC immunity of complex equipment after a component change
- auteur
- Saliha Chetouani, Sébastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- EMC Europe 2020, Sep 2020, Rome (online), Italy
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-
2019
Journal articles
- titre
- A new methodology for EMC prediction of integrated circuits after aging
- auteur
- Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, Alain Bensoussan, André Durier, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2019, 61 (2), pp.572-581. ⟨10.1109/TEMC.2018.2819722⟩
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-
Conference papers
- titre
- Optimized algorithm to reduce the near-field measurement time on FPGA device
- auteur
- Sebastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2019), Oct 2019, Haining, China
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Impact of Technological Trends and Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
- auteur
- Etienne Sicard, Alexandre Boyer
- article
- EMC Compo 2019, Oct 2019, Haining, China
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- A Case Study to apprehend RF Susceptibility of Operational Amplifiers
- auteur
- Alexandre Boyer, E. Sicard
- article
- 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2019), Oct 2019, Haining, China
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Using infrared thermal responses for PCBA production tests: Feasibility study
- auteur
- Nabil El Belghiti Alaoui, Anais Cassou, Patrick Tounsi, Alexandre Boyer, Arnaud Viard
- article
- 30 th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2019), Sep 2019, Toulouse, France
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- A Rigorous Method to extrapolate Radiated Susceptibility from Near-Field Scan Immunity
- auteur
- Alexandre Boyer
- article
- International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2019), Sep 2019, Barcelona, Spain
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Sequential adaptive sampling algorithm to reduce the near field measurement time
- auteur
- Sébastien Serpaud, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2019), Sep 2019, Barcelona, Spain
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Detecting PCB Assembly defects using infrared thermal signatures
- auteur
- Nabil El Belghiti Alaoui, Patrick Tounsi, Alexandre Boyer, Arnaud Viard
- article
- 27th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES2019), Jun 2019, Wroclaw, Poland. ⟨10.23919/MIXDES.2019.8787089⟩
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-
Habilitation à diriger des recherches
- titre
- Contribution à la caractérisation et la modélisation de la CEM des circuits intégrés
- auteur
- Alexandre Boyer
- article
- Electronique. Université Paul Sabatier - Toulouse III, 2019
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-
2018
Journal articles
- titre
- Upgrading In-Circuit Test of high density PCBAs using electromagnetic measurement and Principal Component Analysis
- auteur
- Nabil El Belghiti Alaoui, Alexandre Boyer, Patrick Tounsi, Arnaud Viard
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2018, 34 (6), pp.749-762. ⟨10.1007/s10836-018-5763-4⟩
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-
- titre
- A new methodology to build the Internal Activity Block of ICEM-CE for complex Integrated Circuits
- auteur
- Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, André Durier, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2018, 60 (5), pp.1500-1509. ⟨10.1109/TEMC.2017.2767084⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- New defect detection approach using near electromagnetic field probing of high density PCBAs
- auteur
- Nabil El Belghiti Alaoui, Alexandre Boyer, Patrick Tounsi, A. Viard
- article
- Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.288-293. ⟨10.1016/j.microrel.2018.07.090⟩
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-
- titre
- Timing of Renal Support and Outcome of Septic Shock and Acute Respiratory Distress Syndrome. A Post Hoc Analysis of the AKIKI Randomized Clinical Trial
- auteur
- Stéphane Gaudry, David Hajage, Frederique Schortgen, Laurent Martin-Lefevre, Charles Verney, Bertrand Pons, Eric Boulet, Alexandre Boyer, Guillaume Chevrel, Nicolas Lerolle, Dorothée Carpentier, Nicolas de Prost, Alexandre Lautrette, Anne Bretagnol, Julien Mayaux, Saad Nseir, Bruno Mégarbane, Marina Thirion, Jean-Marie Forel, Julien Maizel, Hodane Yonis, Philippe Markowicz, Guillaume Thiery, Florence Tubach, Jean-Damien Ricard, Didier Dreyfuss
- article
- American Journal of Respiratory and Critical Care Medicine, 2018, 198 (1), pp.58-66. ⟨10.1164/rccm.201706-1255OC⟩
- Accès au bibtex
-
Conference papers
- titre
- New defect detection approach using near electromagnetic field probing for high density PCBAs New defect detection approach using near electromagnetic field probing of high density PCBAs
- auteur
- Nabil El Belghiti Alaoui, Patrick Tounsi, Alexandre Boyer, Arnaud Viard
- article
- 29 th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2018), Oct 2018, Aalborg, Denmark. ⟨10.1016/j.microrel.2018.07.090⟩
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-
- titre
- Modeling the internal activity of an FPGA for conducted emission prediction purpose
- auteur
- Chaimae Ghfiri, André Durier, C. Marot, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 2018 Joint IEEE EMC & APEMC Symposium, May 2018, Singapour, Singapore. 6p
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- New testing approach using near electromagnetic field probing intending to upgrade in-circuit testing of high density PCBAs
- auteur
- Nabil El-Belghiti, Patrick Tounsi, Alexandre Boyer, Arnaud Viard
- article
- 27th IEEE North Atlantic Test Workshop, May 2018, Essex, United States. ⟨10.1109/NATW.2018.8388867⟩
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-
2017
Conference papers
- titre
- Comparison of extraction methods to build a radiated emission model of ICs (ICEM-RE): pros and cons
- auteur
- Sébastien Serpaud, Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, André Durier
- article
- EMC Europe 2017 , Sep 2017, Angers, France. 23p
- Accès au bibtex
-
- titre
- ICEM Generator – A tool for the construction of IC emission models
- auteur
- Alexandre Boyer, Chaimae Ghfiri, André Durier
- article
- EMC Europe 2017, Sep 2017, Angers, France. 14p
- Accès au bibtex
-
- titre
- Learning EMC of ICs with IC-EMC
- auteur
- Alexandre Boyer, Etienne Sicard
- article
- EMC Europe 2017, Sep 2017, Angers, France. 20p
- Accès au bibtex
-
- titre
- A new methodology to extract the ICEM-CE internal activity block of a FPGA
- auteur
- Chaimae Ghfiri, André Durier, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- EMC Europe, Sep 2017, Angers, France. pp. 1-6
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Modeling methodology of the conducted emission of a DC-DC converter board
- auteur
- Alexandre Boyer, Manuel Antero Gonzalez Sentis, Chaimae Ghfiri, André A Durier
- article
- 11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017), Jul 2017, Saint-Petersbourg, Russia. pp.73-78, ⟨10.1109/EMCCompo.2017.7998085⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Study of the thermal aging effect on the conducted emission of a synchronous buck converter
- auteur
- Alexandre Boyer, Manuel Antero Gonzalez Sentis, Chaimae Ghfiri, André Durier
- article
- EMC Compo (The 11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits), Jul 2017, Saint Petersburg, Russia. pp. 79-84
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Methodology of modeling of the internal activity of a FPGA for conducted emission prediction purpose
- auteur
- Chaimae Ghfiri, André Durier, Christian Marot, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017), Jul 2017, Saint-Petersbourgh, Russia. 6p
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Proposal for combined conducted and radiated emission modelling for Integrated Circuit
- auteur
- Sébastien Serpaud, Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, A Durier
- article
- 11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017), Jul 2017, Saint-Petersbourg, Russia. pp.172-177, ⟨10.1109/EMCCompo.2017.7998105⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Radiated suceptibility investigation of electronic board from near field scan method
- auteur
- Nicolas Lacrampe, Sebastien Serpaud, Alexandre Boyer, Séreirath Tran
- article
- 11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017), Jul 2017, Saint-Petersbourg, Russia. pp.125-130, ⟨10.1109/EMCCompo.2017.7998096⟩
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-
- titre
- Methodology of modeling of the internal activity of a FPGA for conducted emission prediction purpose
- auteur
- Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, Andre Durier, Sonia Ben Dhia
- article
- Congrès de l'école doctorale GEET, Mar 2017, Toulouse, France. 6p
- Accès au texte intégral et bibtex
-
Books
- titre
- Basis of Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits - A modeling approach using IC-EMC
- auteur
- Alexandre Boyer, Etienne Sicard
- article
- Presses Universitaires du Midi - Collection Pour l'ingénieur. Presses universitaires du Midi (PUM), 390p., 2017, 978-2-8107-0522-1
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-
2016
Conference papers
- titre
- AMELIORATION DE LA RESOLUTION SPATIALE DE SCAN CHAMP PROCHE EN INJECTION
- auteur
- Alexandre Boyer
- article
- 18e Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique CEM2016, Jul 2016, Rennes, France
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Construction d'un modèle ICEM pour prédire l'émission électromagnétique d'un FPGA
- auteur
- Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, André Durier, Sonia Ben Dhia, C Marot
- article
- 18e Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique (CEM2016), Jul 2016, Rennes, France. 5p
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Predicting the risk of non-compliance to EMC requirements during the life-cycle
- auteur
- Alexandre Boyer, He Huang, Sonia Ben Dhia
- article
- 2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.452 - 455, ⟨10.1109/APEMC.2016.7522766⟩
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-
- titre
- A Review of Research on the Effect of Aging on the EMC of Integrated Circuits
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
- article
- 2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC 2016), May 2016, Shenzhen, China. ⟨10.1109/APEMC.2016.7522971⟩
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-
- titre
- Construction of an Integrated Circuit Emission Model of a FPGA
- auteur
- Chaimae Ghfiri, André Durier, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Christian Marot
- article
- 2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.402-405, ⟨10.1109/APEMC.2016.7522751⟩
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-
- titre
- Improving spatial resolution of immunity maps by post-processing
- auteur
- Alexandre Boyer
- article
- 2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.56 - 59, ⟨10.1109/APEMC.2016.7522794⟩
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-
- titre
- A methodologic project to characterize and model COTS components EMC behavior after ageing
- auteur
- Andre Durier, Alexandre Boyer, Geneviève Duchamp
- article
- 2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.376 - 379, ⟨10.1109/APEMC.2016.7522742⟩
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-
2015
Journal articles
- titre
- Modeling Magnetic Near-Field Injection at Silicon Die Level
- auteur
- Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, Manuel Cavarroc
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2015, 58 (1), pp. 257-269. ⟨10.1109/TEMC.2015.2486041⟩
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-
- titre
- Electronic counterfeit detection based on the measurement of electromagnetic fingerprint
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp.2050-2054. ⟨10.1016/j.microrel.2015.07.008⟩
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-
- titre
- Analysis and modeling of passive device degradation for a long-term electromagnetic emission study of a DC–DC converter
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp. 2061-2066. ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.058⟩
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-
- titre
- A methodologic project to characterize and model COTS component reliability
- auteur
- André Durier, Alain Bensoussan, Moustafa Zerarka, Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, Hélène Frémont
- article
- Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp.2097-2102. ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.140⟩
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-
Conference papers
- titre
- EMC performance analysis of a Processor/Memory System using PCB and Package-On-Package
- auteur
- Etienne Sicard, Alexandre Boyer, Priscillia Fernandez-Lopez, An Zhou, Nicolas Marier, Frédéric Lafon
- article
- 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 6p
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-
- titre
- Developing a Universal Exchange Format for Integrated Circuit Emission Model – Conducted Emissions
- auteur
- Abhishek Ramanujan, Etienne Sicard, Alexandre Boyer, Jean-Luc Levant, Christian Marot, Frédéric Lafon
- article
- 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 6p
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-
- titre
- ANALYSIS AND MODELING OF PASSIVE DEVICE DEGRADATION FOR THE LONG-TERM ELECTROMAGNETIC EMISSION PREDICTION OF A DC-DC CONVERTER
- auteur
- Alexandre Boyer, He Huang, Sonia Ben Dhia
- article
- 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom
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-
- titre
- Enhancement of the Spatial Resolution of Near-Field Immunity Maps
- auteur
- Alexandre Boyer, Manuel Cavarroc
- article
- 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 6p
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-
- titre
- EMC modeling of Integrated Circuits using IC-EMC
- auteur
- Etienne Sicard, Alexandre Boyer
- article
- 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 2p
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-
- titre
- Bandgap Failure Study Due To Parasitic Bipolar Substrate Coupling In Smart Power Mixed ICs
- auteur
- Marc Veljko Thomas Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. 5p
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-
- titre
- Electronic counterfeit detection based on the measurement of electromagnetic fingerprint Electronic counterfeit detection based on the measurement of electromagnetic fingerprint
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 26th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2015), Oct 2015, Toulouse, France
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-
- titre
- Analysis and Modelling of Passive device degradation for a long-term electromagnetic emission study of a DC-DC converter
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 26th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2015), Oct 2015, Toulouse, France
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-
- titre
- Coupling study in smart power mixed ICs with a dedicated on-chip sensor
- auteur
- Marc Veljko Thomas Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Alexander Steinmar, Weiss B., Ehrenfried Seebacher, Rust P.
- article
- EMC Europe 2015, Aug 2015, Dresden, Germany. ⟨10.1109/ISEMC.2015.7256236⟩
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-
- titre
- Passive device degradation models for a electromagnetic emission robustness study of a buck DC-DC converter
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- EMC Europe 2015, Aug 2015, Dresden, Germany. 6p
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-
- titre
- Electromagnetic near field injection model on integrated circuit
- auteur
- Rachid Omarouayache, Jérémy Raoult, Pierre Payet, Laurent Chusseau, Bertrand Vrignon, Adrien Doridant, Alexandre Boyer
- article
- Progress In Electromagnetics Research Symposium (PIERS 2015), Jul 2015, Prague, Czech Republic
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-
- titre
- Modèle d'injection électromagnétique en champ proche sur circuit intégré
- auteur
- Rachid Omarouayache, Jérémy Raoult, Pierre Payet, Laurent Chusseau, Bertrand Vrignon, John Shepherd, Alexandre Boyer
- article
- 19èmes Journées Nationales Microondes - JNM 2015, Jun 2015, Bordeaux, France
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-
- titre
- Near-Field Injection At Die Level
- auteur
- Alexandre Boyer, B Vrignon, Manuel Cavarroc, J Shepherd
- article
- Asia-Pacific International EMC Symposium 2015, May 2015, Taipei, Taiwan
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-
- titre
- Prediction of Aging Impact on Electromagnetic Susceptibility of an Operational Amplifier
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Bertrand Vrignon
- article
- Asia-Pacific International EMC Symposium 2015, May 2015, Taipei, Taiwan. 4p
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-
- titre
- Development of an On-Chip Sensor for Substrate Coupling Study in Smart Power Mixed ICs
- auteur
- Marc Veljko Thomas Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Asia-Pacific International EMC Symposium 2015, May 2015, Taipei, Taiwan. 4p
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- titre
- Long-term Electromagnetic Robustness of Integrated Circuits, Challenge and Trends
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Minapad Forum 2015, Apr 2015, Grenoble, France. 6p
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2014
Journal articles
- titre
- Modeling and Simulation of LDO Voltage Regulator Susceptibility to Conducted EMI
- auteur
- Jianfei Wu, Alexandre Boyer, Jiancheng Li, Bertrand Vrignon, Etienne Sicard, Rongjun Shen, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2014, 56 (3), pp.726-735. ⟨10.1109/TEMC.2013.2294951⟩
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-
- titre
- Effect of Aging on Power Integrity and Conducted Emission of Digital Integrated Circuits
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Journal of Low Power Electronics, 2014, 10 (1), pp.165-172
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-
- titre
- Experimental Investigations into the Effects of Electrical Stress on Electromagnetic Emission from Integrated Circuits
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Binhong Li, Nestor Berbel, Raul Fernandez-Garcia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2014, 56 (1), pp. 44-50. ⟨10.1109/TEMC.2013.2272195⟩
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-
Conference papers
- titre
- Electromagnetic analysis, deciphering and reverse engineering of integrated circuits (E-MATA HARI)
- auteur
- Laurent Chusseau, Rachid Omarouayache, Jérémy Raoult, Sylvie Jarrix, Philippe Maurine, Karim Tobich, Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, John Shepherd, Thanh-Ha Le, Maël Berthier, Lionel Rivière, Bruno Robisson, Anne-Lise Ribotta
- article
- VLSI-SoC: Very Large Scale Integration - System-on-Chip, Oct 2014, Playa del Carmen, Mexico. pp.1-6, ⟨10.1109/VLSI-SoC.2014.7004189⟩
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-
- titre
- The detection of counterfeit integrated circuit by the use of electromagnetic fingerprint
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- EMC Europe 2014, Sep 2014, Gothenburg, Sweden. pp.1-5
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-
- titre
- Susceptibility Analysis of an Operational Amplifier Using On-Chip Measurement
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Bertrand Vrignon
- article
- EMC Europe 2014, Sep 2014, Goteborg, Sweden. pp.1-5
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-
- titre
- Evaluation of the Near-Field Injection Method at Integrated Circuit Level
- auteur
- Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, John Shepherd, Manuel Cavarroc
- article
- EMC Europe 2014, Sep 2014, Goteborg, Sweden. pp.1-6
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-
- titre
- Reliability of active RFID tag immersed in water for anti-kidnapping applications
- auteur
- Clément Crémoux, Alexandre Boyer, Karim Ben Dhia
- article
- 2014 IEEE-APS Topical Conference on Antennas and Propagation in Wireless Communications (APWC), Aug 2014, Aruba, Aruba. pp.40-43
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-
- titre
- IMPACT DU VIEILLISSEMENT THERMIQUE SUR L'EMISSION D'UN CONVERTISSEUR BUCK
- auteur
- He Huang, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 17ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2014), Jul 2014, Clermont-Ferrand, France. pp.1-5
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- DEVELOPPEMENT D'UN CAPTEUR SUR PUCE AFIN D'ETUDIER LE COUPLAGE PARASITE DANS LES CIRCUITS INTEGRES DE TYPE " SMART POWER
- auteur
- Marc Veljko Thomas Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 17ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2014), Jul 2014, Clermont-Ferrand, France. pp.1-5
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-
- titre
- Impact of thermal aging on emission of a buck DC-DC converter
- auteur
- Alexandre Boyer, He Huang, Sonia Ben Dhia
- article
- 2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo (EMC'14/Tokyo), May 2014, Tokyo, Japan. pp.77-80
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-
- titre
- Design of on-chip sensors to monitor electromagnetic activity in ICs: Towards on-line diagnosis and self-healing
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
- article
- Test Workshop - LATW, 2014 15th Latin American, Mar 2014, Fortaleza, Brazil. pp.1-6
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-
2013
Journal articles
- titre
- Long-term Electro-Magnetic Robustness of Integrated Circuits: EMRIC research project
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
- article
- Microelectronics Reliability, 2013, 53, pp.1266-1272. ⟨10.1016/j.microrel.2013.08.016⟩
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-
- titre
- Characterization of Changes in LDO Susceptibility after Electrical Stress
- auteur
- Jianfei Wu, Alexandre Boyer, Jiancheng Li, Sonia Ben Dhia, Rongjun Shen
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2013, 55 (5), pp.883-890. ⟨10.1109/TEMC.2013.2242471⟩
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-
Conference papers
- titre
- Characterization and modeling of electrical stresses on digital integrated circuits power integrity and conducted emission
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 2013 9th Intl Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2013), Dec 2013, Nara, Japan. pp.190-195, ⟨10.1109/EMCCompo.2013.6735199⟩
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-
- titre
- Electro-magnetic robustness of integrated circuits: from statement to prediction
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
- article
- 2013 9th Intl Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2013), Dec 2013, Nara, Japan. pp.208 - 213, ⟨10.1109/EMCCompo.2013.6735202⟩
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-
- titre
- Effect of Electrical Stresses on the Susceptibility of a Voltage regulator
- auteur
- Jian-Fei Wu, Jiancheng Li, Rongjun Shen, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- EMC Symposium in Europe 2013 (EMC Europe 2013), Sep 2013, Bruges, Belgium. pp.113
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- AUTOMICS: A novel approach for substrate modeling for Automotive applications
- auteur
- Yasser Moursy, Sahar Afara, Pietro Buccella, Camillo Stefanucci, Ramy Iskander, Maher Kayal, Jean-Michel Sallese, Marie-Minerve Louërat, Jean-Paul Chaput, Marc Veljko Thomas Tomasevic, Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Bruno Guegan, Vanni Poletto, Andrea Roggero, Tiziana Cavioni, Enrico Novarini, Ehrenfried Seebacher, Alexander Steinmair, Pierre Tisserand, Dieu-My Ton, Thierry Bousquet, Thomas Gneiting
- article
- 18th IEEE European Test Symposium, May 2013, Avignon, France
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-
- titre
- Effect of Electrical Stresses on Digital Integrated Circuits Power Integrity
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- 2013 17th IEEE Workshop on Signal and Power Integrity (SPI), May 2013, Paris, France. pp.1-4
- Accès au texte intégral et bibtex
-
2012
Journal articles
- titre
- Prediction of Long-Term Immunity of a Phase-Locked Loop
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Binhong Li, Christophe Lemoine, Bertrand Vrignon
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2012, 28 (6), pp.791-802. ⟨10.1007/s10836-012-5335-y⟩
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-
- titre
- IC immunity modeling process validation using on-chip measurements
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, Mikael Deobarro
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2012, 28 (3), pp.339-348. ⟨10.1007/s10836-012-5294-3⟩
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-
- titre
- Enhancing accuracy of low-dropout regulator susceptibility extraction with on-chip sensors
- auteur
- Jian-Fei Wu, Etienne Sicard, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Jiancheng Li, Rongjun Shen
- article
- Electronics Letters, 2012, 48 (11), pp.649-650. ⟨10.1049/el.2012.0407⟩
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-
- titre
- On-Chip Noise Sensor for Integrated Circuit Susceptibility Investigations
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, Mikael Deobarro, Dinh Than Vinh
- article
- IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2012, 61 (3), pp.696. ⟨10.1109/TIM.2011.2172116⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
2011
Journal articles
- titre
- A New Approach to Modeling the Impact of EMI on MOSFET DC Behavior
- auteur
- Raul Fernandez-Garcia, Ignacio Gil, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Bertrand Vrignon
- article
- IEICE Transactions on Electronics, 2011, E94-C (12), pp.1906
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Experimental verification of the usefulness of the nth power law MOSFET model under hot carrier wearout
- auteur
- Nestor Berbel, Raul Fernandez-Garcia, Ignacio Gil, Binhong Li, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia
- article
- Microelectronics Reliability, 2011, 51 (9), pp.1564
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Study of the impact of hot carrier injection to immunity of MOSFET to electromagnetic interferences
- auteur
- Binhong Li, Nestor Berbel, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Raul Fernandez-Garcia
- article
- Microelectronics Reliability, 2011, 51, pp.1557-1560. ⟨10.1016/j.microrel.2011.06.010⟩
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-
Conference papers
- titre
- An alternative approach to model the Internal Activity of integrated circuits
- auteur
- Nestor Berbel, Raul Fernandez-Garcia, Ignacio Gil, Binhong Li, Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer
- article
- 8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Nov 2011, Dubrovnik, Croatia. pp.88
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-
- titre
- An On-Chip Sensor for Time Domain Characterization of Electromagnetic Interferences
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Christophe Lemoine, Bertrand Vrignon
- article
- 8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), Nov 2011, Dubrovnik, Croatia. pp.251
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Enhancing Engineers Skills in EMC of Integrated Circuits
- auteur
- Etienne Sicard, Alexandre Boyer
- article
- 8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Nov 2011, Dubrovnik, Croatia. pp.115
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Construction and Evaluation of the Susceptibility Model of an Integrated Phase-Locked Loop
- auteur
- Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Christophe Lemoine, Bertrand Vrignon
- article
- 8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Itnegrated Circuits, Nov 2011, Dubrovnik, Croatia. pp.7
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Study of the impact of hot carrier injection to immunity of MOSFET to electromagnetic interferences
- auteur
- Binhong Li, Nestor Berbel, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Raul Fernandez-Garcia
- article
- European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2011), Oct 2011, Bordeaux, France. pp.1557
- Accès au texte intégral et bibtex
-
2010
Journal articles
- titre
- Ageing effect on electromagnetic susceptibility of a phase locked loop
- auteur
- Binhong Li, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Christophe Lemoine
- article
- Microelectronics Reliability, 2010, 50 (9), p.1304-1308. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.100⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Characterisation of electromagnetic compatibility drifts of nanoscale integrated circuit after accelerated life tests
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Binhong Li, Amadou Ndoye Cisse
- article
- Electronics Letters, 2010, 46 (4), p. 278-280. ⟨10.1049/el.2010.2885⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
2009
Journal articles
- titre
- Characterization of the Evolution of IC Emissions after Accelerated Aging
- auteur
- Alexandre Boyer, Amadou Ndoye Cisse, Sonia Ben Dhia, Laurent Guillot, Bertrand Vrignon
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2009, 51 (4), pp.892
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- The Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits—Past, Present, and Future
- auteur
- Mohamed Ramdani, Etienne Sicard, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, James Whalen, Todd Hubing, Mart Coenen, Osami Wada
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2009, 51 (1), pp.78-100. ⟨10.1109/TEMC.2008.2008907⟩
- Accès au bibtex
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2008
Journal articles
- titre
- Comparison among emission and susceptibility reduction techniques for electromagnetic interference in digital integrated circuits
- auteur
- Ali Alaeldine, Nicolas Lacrampe, Alexandre Boyer, Richard Perdriau, Fabrice Caignet, Mohamed Ramdani, Etienne Sicard, M'Hamed Drissi
- article
- Microelectronics Journal, 2008, 39 (12), pp.1728-1735. ⟨10.1016/j.mejo.2008.02.022⟩
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