2025
Journal articles
- titre
- Increasing Precision of Impedance Measurements for ESD Protection's Frequency Models
- auteur
- François Ruffat, Alexandre Boyer, Fabrice Caignet, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret, Fabien Escudié
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2025, pp.1 - 10. ⟨10.1109/TEMC.2025.3542314⟩
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-
Preprints, Working Papers, ...
- titre
- Frequency Model Investigation for ESD failure prediction
- auteur
- L Kemystetter, Alexandre Boyer, G Mejecaze, F Puybaret, François Ruffat, Fabrice Caignet
- article
- 2025
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-
- titre
- Reflection to improve ESD protection simulation based on voltage-dependent dynamic model
- auteur
- Fabrice Caignet, François Ruffat, Kemystetter Lucas, Alexandre Boyer, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
- article
- 2025
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-
2024
Journal articles
- titre
- An Efficient Characterization Method to Predict the Susceptibility of Integrated Circuits to Multitone Disturbance
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet, Matthieu Laidet
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, In press, pp.1-11. ⟨10.1109/TEMC.2024.3448495⟩
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-
- titre
- A Pre-Scan Method to Accelerate Near-Field Scan Immunity Tests
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
- article
- IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications, In press, pp.1-1. ⟨10.1109/LEMCPA.2024.3363113⟩
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-
Conference papers
- titre
- Modèles fréquentiels forts niveaux pour la prédiction d’impact d’impulsion électromagnétique sur les systèmes
- auteur
- Kemystetter Lucas, Mejecaze Guillaume, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, François Ruffat, Puybaret Frédéric
- article
- Workshop CEM 2024, Dec 2024, Angers, France
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-
- titre
- Analysis of Operational Amplifier Susceptibility to Multifrequency Disturbance
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
- article
- 1'th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Oct 2024, Turin (IT), Italy
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-
- titre
- Study of the Multifrequency Susceptibility of Operational Amplifiers
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
- article
- EMC Europe 2024 Symposium, Sep 2024, Brugges, Belgium
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-
2023
Conference papers
- titre
- MÉTHODE D'EXTRACTION RAPIDE ET EFFICACE D'UN MODÈLE DE PROTECTION ESD FACE À DES PHÉNOMÈNES TRANSITOIRES RAPIDES
- auteur
- François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Guillaume Mejecaze, Fabien Escudie, Frédéric Puybaret
- article
- 21ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2023), Jun 2023, Toulouse, France
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-
- titre
- METHODE DE PRE-SCAN POUR ACCELERER LES TEMPS DE MESURE DU SCAN CHAMP PROCHE EN IMMUNITE
- auteur
- Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
- article
- 21ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2023), Jun 2023, Toulouse, France
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-
2022
Journal articles
- titre
- Investigation of Frequency Models to predict Dynamic Behavior of ESD Protection Networks
- auteur
- Fabrice Caignet, François Ruffat, Alexandre Boyer, Guillaume Mejecaze, Fabien Escudié, Frédéric Puybaret
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (6), pp.1890-1898. ⟨10.1109/TEMC.2022.3221312⟩
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-
- titre
- Investigation of Frequency Models to Predict Dynamic Behavior of ESD Protection Networks
- auteur
- Fabrice Caignet, François Ruffat, Alexandre Boyer, Guillaume Mejecaze, Fabien Escudie, Frederic Puybaret
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64, pp.1890 - 1898. ⟨10.1109/temc.2022.3221312⟩
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-
- titre
- On the Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Immunity at Printed Circuit Board Level – Part II
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (5), pp.1493 - 1505. ⟨10.1109/TEMC.2022.3172601⟩
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-
- titre
- New Measurement Method to Investigated Service Life of Protection Networks exposed to ESD
- auteur
- François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
- article
- Microelectronics Reliability, 2022, 33rd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ⟨10.1016/j.microrel.2022.114661⟩
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-
- titre
- On the Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Immunity at Printed Circuit Board Level - Part I
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (4), pp.1230 - 1242. ⟨10.1109/TEMC.2022.3169183⟩
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-
- titre
- Frequency Based Method Investigation to Extract an ESD Protection Dynamic SPICE Model from TLP Measurements
- auteur
- Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Alexandre Boyer
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (1), pp.47 - 57. ⟨10.1109/TEMC.2021.3106770⟩
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-
Conference papers
- titre
- New Measurement Method to Investigated Service Life of Protection Networks exposed to ESD
- auteur
- François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
- article
- 33rd European Symposium on Reliability of Electron Devices Failure Physics and Analysis (ESREF2022), Sep 2022, Berlin, Germany. ⟨10.1016/j.microrel.2022.114661⟩
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-
- titre
- Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Susceptibility at Integrated Circuit Level
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2022), Sep 2022, Goteborg, Sweden. ⟨10.1109/EMCEurope51680.2022.9900970⟩
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-
- titre
- A fast and efficient Model Extraction Method to predict the transient Response of ESD Protection Devices
- auteur
- François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
- article
- International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility EMC Europe 2022, Sep 2022, Goteborg, Sweden. ⟨10.1109/EMCEurope51680.2022.9901148⟩
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-
2021
Journal articles
- titre
- Closed-Form Expressions of Electric and Magnetic Near-Fields for the Calibration of Near-Field Probes
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 70, ⟨10.1109/TIM.2021.3126376⟩
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-
Conference papers
- titre
- Anticipating Common-Mode Conducted Emission of DC-DC Converter from Electric Near-Field Scan
- auteur
- Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
- article
- 2021 JOINT IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY, SIGNAL & POWER INTEGRITY, AND EMC EUROPE, Jul 2021, Glasgow (virtuel), United Kingdom. ⟨10.1109/EMC/SI/PI/EMCEurope52599.2021.9559364⟩
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-
2020
Journal articles
- titre
- Realization of a 3.3V battery-free DC power supply with photovoltaic energy harvester and supercapacitor storage for the supply of a low consumption wireless sensor
- auteur
- Lionel Séguier, Vincent Boitier, Florian Huet, Jean-Marie Dilhac, Fabrice Caignet
- article
- La Revue 3E.I, 2020, 101, pp.13-24
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-
2019
Special issue
- titre
- Proceedings of the 30th European Symposium on the reliability of electron devices, failure physics and analysis
- auteur
- Nicolas Nolhier, Nathalie Labat, Hélène Frémont, François Marc, Fabrice Caignet, Guillaume Bascoul
- article
- ESREF 2019, Sep 2019, Microelectronics Reliability, 100-101, pp.113498, 2019, ⟨10.1016/j.microrel.2019.113498⟩
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-
2018
Book sections
- titre
- Voiture autonome : le défi du zéro défaut pour la fiabilité des systèmes électroniques embarqués
- auteur
- Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
- article
- Transports du futur: Regards croisés de chercheur.e.s, 37, pp.20, 2018, Collection Petit illustré
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-
Books
- titre
- Méthodologies de protection ESD : du composant au système
- auteur
- Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
- article
- ISTE Editions. 280p., 2018, 9781784053260
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-
2017
Journal articles
- titre
- Prediction of LIN communication robustness against EFT events using dedicated failure models
- auteur
- Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
- article
- Microelectronics Reliability, 2017, 76-77, pp.685 - 691. ⟨10.1016/j.microrel.2017.07.032⟩
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-
Conference papers
- titre
- LIN communication behaviours against ESD events
- auteur
- Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
- article
- 2017 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC EUROPE), Sep 2017, Angers, France. ⟨10.1109/EMCEurope.2017.8094675⟩
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-
Books
- titre
- ESD Protection Methodologies: From Component to System
- auteur
- Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
- article
- Elsevier, 284p., 2017, 978-1-78548-122-2
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-
2016
Journal articles
- titre
- Impact of non-linear capacitances on transient waveforms during system level ESD stress
- auteur
- Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
- article
- Microelectronics Reliability, 2016, Proceedings of the 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 64, pp.88 - 92. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.046⟩
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-
Conference papers
- titre
- From quasi-static to transient system level ESD simulation: Extraction of turn-on elements
- auteur
- Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
- article
- Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2016 38th, ESD Association, Sep 2016, Anaheim, United States. pp.1 - 10, ⟨10.1109/EOSESD.2016.7592563⟩
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-
- titre
- Présentation d'un travail normatif de modélisation de système pour la prédiction de défaillance ESD
- auteur
- Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
- article
- 18 ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2016) , Jul 2016, Rennes, France. 6p
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-
- titre
- Modélisation de système pour la prédiction de défaillances dues aux décharges électrostatiques
- auteur
- Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
- article
- Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM 2016), May 2016, Toulouse, France. 5p
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-
2015
Journal articles
- titre
- Multisource and Battery-free Energy Harvesting Architecture for Aeronautics Applications
- auteur
- Claude Vanhecke, Laurent Assouère, Anqing Wang, Paul Durand-Estèbe, Fabrice Caignet, Jean-Marie Dilhac, Marise Bafleur
- article
- IEEE Transactions on Power Electronics, 2015, 30 (6), pp.3215-3227. ⟨10.1109/TPEL.2014.2331365⟩
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-
Conference papers
- titre
- TLP-based Human Metal Model stress generator and analysis method of ESD generators
- auteur
- Rémi Bèges, Fabrice Caignet, Patrice Besse, Jean-Philippe Laine, Alain Salles, Nicolas Mauran, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
- article
- Electrical Overstress / Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD 2015), Sep 2015, Reno, United States. ⟨10.1109/EOSESD.2015.7314777⟩
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-
- titre
- Hierarchical Modeling Approach for System Level ESD Analysis: From Hard to Functional Failure
- auteur
- Fabrice Caignet, Rémi Bèges, Patrice Besse, Jean-Philippe Lainé, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
- article
- Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC) , May 2015, TAIPEI, Taiwan. 4p., ⟨10.1109/APEMC.2015.7175399⟩
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-
- titre
- Dynamic system level ESD current measurement using magnetic field probe
- auteur
- Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
- article
- Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility ( APEMC ), May 2015, Taipei, Taiwan. ⟨10.1109/APEMC.2015.7175400⟩
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-
Book sections
- titre
- Protecting Mixed-Signal Technologies Against Electrostatic Discharges: Challenges and Protection Strategies from Component to System
- auteur
- Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Patrice Besse, Jean-‐philippe Lainé
- article
- Thomas NOULIS. Mixed-signal circuits, CRC PRESS, 40p. Chapter 3, 2015, Devices, Circuits, and Systems Series, 9781482260625
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-
Habilitation à diriger des recherches
- titre
- systems approach to the analysis of the impact of electrostatic discharge: the component system
- auteur
- Fabrice Caignet
- article
- Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Universite Toulouse III Paul Sabatier, 2015
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-
2014
Journal articles
- titre
- Reliability of ESD protection devices designed in a 3D technology
- auteur
- Bertrand Courivaud, Nicolas Nolhier, G Ferru, Marise Bafleur, Fabrice Caignet
- article
- Microelectronics Reliability, 2014, Microelectronics Reliability, 54 (9), pp.2272-2277. ⟨10.1016/j.microrel.2014.07.136⟩
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-
Conference papers
- titre
- Novel 3D back-to-back diodes ESD protection
- auteur
- Bertrand Courivaud, Nicolas Nolhier, G. Ferru, Marise Bafleur, Fabrice Caignet
- article
- Electrical Overstress/Electrostatic Discharge (EOS/ESD) Symposium , Sep 2014, Tucson, AZ, United States. 4p
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-
- titre
- Practical Transient System-level ESD Modeling - Environment Contribution
- auteur
- Marise Bafleur, Rémi Bèges, Fabrice Caignet, André Durier, Christian Marot, Nicolas Nolhier
- article
- Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), Sep 2014, Tucson, AZ, United States. 10p
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-
- titre
- Novel 3D back-to-back diodes ESD protection
- auteur
- Bertrand Courivaud, Nicolas Nolhier, G. Ferru, Marise Bafleur, Fabrice Caignet
- article
- International ESD Workshop (IEW) , May 2014, Villard de Lans, France. 2p
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-
2013
Journal articles
- titre
- On-chip measurement to analyze failure mechanisms of ICs under system level ESD stress
- auteur
- Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur, Anqing Wang, Nicolas Mauran
- article
- Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9-11), pp.1278-1283. ⟨10.1016/j.microrel.2013.07.056⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- A System-Level Electrostatic-Discharge-Protection Modeling Methodology for Time-Domain Analysis
- auteur
- Nicolas Monnereau, Fabrice Caignet, David Trémouilles, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2013, 55 (1), pp.45-57. ⟨10.1109/TEMC.2012.2208973⟩
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-
Conference papers
- titre
- Tackling the challenges of System level ESD: from efficient ICs ESD protection to system level predictive modeling
- auteur
- Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, David Trémouilles
- article
- Taiwan ESD and Reliability Conference, Nov 2013, Hsinchu, Taiwan
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-
- titre
- Oscilloscope intégré sur puce appliqué à la caractérisation d'un générateur d'impulsions à 20 GHz
- auteur
- Thomas Epert, Fabrice Caignet, Christophe Viallon, Anqing Wang, Nicolas Mauran, Thierry Parra
- article
- 18èmes Journées Nationales Microondes, May 2013, Paris, France. pp.4
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-
2012
Journal articles
- titre
- Investigation of Modeling System ESD Failure and Probability Using IBIS ESD Models
- auteur
- Nicolas Monnereau, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur, David Trémouilles
- article
- IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2012, 12 (4), pp.599-606. ⟨10.1109/TDMR.2012.2218605⟩
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-
Conference papers
- titre
- Behavioral ESD Protection Modeling to perform System Level ESD Efficient Design
- auteur
- Fabrice Caignet, Nicolas Monnereau, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
- article
- Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC), May 2012, SINGAPORE, Singapore. pp.401-404
- Accès au texte intégral et bibtex
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2011
Conference papers
- titre
- Behavioral-Modeling Methodology to Predict Electrostatic-Discharge Susceptibility Failures at System Level : an IBIS Improvement
- auteur
- Nicolas Monnereau, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, David Trémouilles, Marise Bafleur
- article
- Int. Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2011), Sep 2011, YORK, United Kingdom. pp.457-463
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2008
Journal articles
- titre
- Comparison among emission and susceptibility reduction techniques for electromagnetic interference in digital integrated circuits
- auteur
- Ali Alaeldine, Nicolas Lacrampe, Alexandre Boyer, Richard Perdriau, Fabrice Caignet, Mohamed Ramdani, Etienne Sicard, M'Hamed Drissi
- article
- Microelectronics Journal, 2008, 39 (12), pp.1728-1735. ⟨10.1016/j.mejo.2008.02.022⟩
- Accès au bibtex
-
2001
Journal articles
- titre
- The challenge of signal integrity in deep-submicrometer CMOS technology
- auteur
- Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia, Etienne Sicard
- article
- Proceedings of the IEEE, 2001, 89 (4), pp.556-573. ⟨10.1109/5.920583⟩
- Accès au bibtex
-
2000
Journal articles
- titre
- On the measurement of crosstalk in integrated circuits
- auteur
- Sonia Ben Dhia, Fabrice Caignet, E. Sicard
- article
- IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2000, 8 (5), pp.606-609. ⟨10.1109/92.894165⟩
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-
1999
Journal articles
- titre
- On-chip sampling in CMOS integrated circuits
- auteur
- Sonia Ben Dhia, S. Delmas-Bendhia, Fabrice Caignet, E. Sicard, M. Roca
- article
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 1999, 41 (4), pp.403-406. ⟨10.1109/15.809837⟩
- Accès au bibtex
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