Publications HAL de Fabrice CAIGNET du labo/EPI LAAS

2025

Journal articles

titre
Increasing Precision of Impedance Measurements for ESD Protection's Frequency Models
auteur
François Ruffat, Alexandre Boyer, Fabrice Caignet, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret, Fabien Escudié
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2025, pp.1 - 10. ⟨10.1109/TEMC.2025.3542314⟩
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https://laas.hal.science/hal-05032615/file/Ruffat_2025_Increasing%20Precision%20of%20Impedance%20Measurements%20for%20ESD%20Protection%20Frequency%20Models.pdf BibTex

Preprints, Working Papers, ...

titre
Frequency Model Investigation for ESD failure prediction
auteur
L Kemystetter, Alexandre Boyer, G Mejecaze, F Puybaret, François Ruffat, Fabrice Caignet
article
2025
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https://hal.science/hal-04998664/file/Kemystetter%20lucas.pdf BibTex
titre
Reflection to improve ESD protection simulation based on voltage-dependent dynamic model
auteur
Fabrice Caignet, François Ruffat, Kemystetter Lucas, Alexandre Boyer, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
article
2025
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https://hal.science/hal-04978913/file/Kemystetter%20lucas.pdf BibTex

2024

Journal articles

titre
An Efficient Characterization Method to Predict the Susceptibility of Integrated Circuits to Multitone Disturbance
auteur
Alexandre Boyer, Fabrice Caignet, Matthieu Laidet
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, In press, pp.1-11. ⟨10.1109/TEMC.2024.3448495⟩
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https://laas.hal.science/hal-04689761/file/TEMC-109-2024_Boyer%202023-Charac_and_Classif_IC_Suscep_Multitone_HAL.pdf BibTex
titre
A Pre-Scan Method to Accelerate Near-Field Scan Immunity Tests
auteur
Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
article
IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications, In press, pp.1-1. ⟨10.1109/LEMCPA.2024.3363113⟩
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https://hal.science/hal-04445606/file/Boyer%202023%20-%20Prescan%20to%20accelerate%20NFSI_final_HAL.pdf BibTex

Conference papers

titre
Modèles fréquentiels forts niveaux pour la prédiction d’impact d’impulsion électromagnétique sur les systèmes
auteur
Kemystetter Lucas, Mejecaze Guillaume, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, François Ruffat, Puybaret Frédéric
article
Workshop CEM 2024, Dec 2024, Angers, France
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https://hal.science/hal-04831591/file/Abstract%20pour%20soumission%20%C3%A0%20l%27EMC.pdf BibTex
titre
Analysis of Operational Amplifier Susceptibility to Multifrequency Disturbance
auteur
Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
article
1'th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Oct 2024, Turin (IT), Italy
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https://laas.hal.science/hal-04734444/file/Boyer_2024_Analysis_OpAmp_Susceptibility%20-%20Final.pdf BibTex
titre
Study of the Multifrequency Susceptibility of Operational Amplifiers
auteur
Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
article
EMC Europe 2024 Symposium, Sep 2024, Brugges, Belgium
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https://laas.hal.science/hal-04689775/file/Boyer_2024_opamp_multfreq_susc_study_final.pdf BibTex

2023

Conference papers

titre
MÉTHODE D'EXTRACTION RAPIDE ET EFFICACE D'UN MODÈLE DE PROTECTION ESD FACE À DES PHÉNOMÈNES TRANSITOIRES RAPIDES
auteur
François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Guillaume Mejecaze, Fabien Escudie, Frédéric Puybaret
article
21ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2023), Jun 2023, Toulouse, France
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https://laas.hal.science/hal-04203263/file/Francois_Ruffat_CEM2023_VF.pdf BibTex
titre
METHODE DE PRE-SCAN POUR ACCELERER LES TEMPS DE MESURE DU SCAN CHAMP PROCHE EN IMMUNITE
auteur
Alexandre Boyer, Fabrice Caignet
article
21ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2023), Jun 2023, Toulouse, France
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https://laas.hal.science/hal-04203229/file/Boyer_CEM2023_prescan_generateur_peigne_final.pdf BibTex

2022

Journal articles

titre
Investigation of Frequency Models to predict Dynamic Behavior of ESD Protection Networks
auteur
Fabrice Caignet, François Ruffat, Alexandre Boyer, Guillaume Mejecaze, Fabien Escudié, Frédéric Puybaret
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (6), pp.1890-1898. ⟨10.1109/TEMC.2022.3221312⟩
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https://laas.hal.science/hal-04870383/file/FINAL%20VERSION.pdf BibTex
titre
Investigation of Frequency Models to Predict Dynamic Behavior of ESD Protection Networks
auteur
Fabrice Caignet, François Ruffat, Alexandre Boyer, Guillaume Mejecaze, Fabien Escudie, Frederic Puybaret
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64, pp.1890 - 1898. ⟨10.1109/temc.2022.3221312⟩
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https://laas.hal.science/hal-04863950/file/Investigation_of_Frequency_Models_to_Predict_Dynamic_Behavior_of_ESD_Protection_Networks.pdf BibTex
titre
On the Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Immunity at Printed Circuit Board Level – Part II
auteur
Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (5), pp.1493 - 1505. ⟨10.1109/TEMC.2022.3172601⟩
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https://laas.hal.science/hal-03681022/file/FINAL%20VERSION.pdf BibTex
titre
New Measurement Method to Investigated Service Life of Protection Networks exposed to ESD
auteur
François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
article
Microelectronics Reliability, 2022, 33rd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ⟨10.1016/j.microrel.2022.114661⟩
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https://laas.hal.science/hal-03788175/file/MeJo_2022_Francois_Ruffat.pdf BibTex
titre
On the Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Immunity at Printed Circuit Board Level - Part I
auteur
Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (4), pp.1230 - 1242. ⟨10.1109/TEMC.2022.3169183⟩
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https://laas.hal.science/hal-03664433/file/Boyer%202021%20-%20Correlation%20RI%20NFSI_PartI%20_%20final.pdf BibTex
titre
Frequency Based Method Investigation to Extract an ESD Protection Dynamic SPICE Model from TLP Measurements
auteur
Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Alexandre Boyer
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (1), pp.47 - 57. ⟨10.1109/TEMC.2021.3106770⟩
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https://laas.hal.science/hal-03408285/file/S_param_IEEE_r3_07_2021_final.pdf BibTex

Conference papers

titre
New Measurement Method to Investigated Service Life of Protection Networks exposed to ESD
auteur
François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
article
33rd European Symposium on Reliability of Electron Devices Failure Physics and Analysis (ESREF2022), Sep 2022, Berlin, Germany. ⟨10.1016/j.microrel.2022.114661⟩
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https://laas.hal.science/hal-03788168/file/ESREF_2022_Francois_Ruffat_V13.pdf BibTex
titre
Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Susceptibility at Integrated Circuit Level
auteur
Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
article
International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2022), Sep 2022, Goteborg, Sweden. ⟨10.1109/EMCEurope51680.2022.9900970⟩
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https://laas.hal.science/hal-03773209/file/Boyer_EMCEurope22_NFSI_RI_Extrapolation_final.pdf BibTex
titre
A fast and efficient Model Extraction Method to predict the transient Response of ESD Protection Devices
auteur
François Ruffat, Fabrice Caignet, Alexandre Boyer, Fabien Escudié, Guillaume Mejecaze, Frédéric Puybaret
article
International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility EMC Europe 2022, Sep 2022, Goteborg, Sweden. ⟨10.1109/EMCEurope51680.2022.9901148⟩
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https://laas.hal.science/hal-03773211/file/paper%20EMC%20Europ%2022%20FRUFFAT.pdf BibTex

2021

Journal articles

titre
Closed-Form Expressions of Electric and Magnetic Near-Fields for the Calibration of Near-Field Probes
auteur
Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
article
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 70, ⟨10.1109/TIM.2021.3126376⟩
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https://hal.science/hal-03423272/file/Boyer%202021%20-%20NFSE%20Probe%20Calibration_final.pdf BibTex

Conference papers

titre
Anticipating Common-Mode Conducted Emission of DC-DC Converter from Electric Near-Field Scan
auteur
Alexandre Boyer, Nicolas Nolhier, Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia
article
2021 JOINT IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY, SIGNAL & POWER INTEGRITY, AND EMC EUROPE, Jul 2021, Glasgow (virtuel), United Kingdom. ⟨10.1109/EMC/SI/PI/EMCEurope52599.2021.9559364⟩
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https://laas.hal.science/hal-03321009/file/Boyer_EMCSiPi2021_Anticipating_CE_NFSE_Final_HAL.pdf BibTex

2020

Journal articles

titre
Realization of a 3.3V battery-free DC power supply with photovoltaic energy harvester and supercapacitor storage for the supply of a low consumption wireless sensor
auteur
Lionel Séguier, Vincent Boitier, Florian Huet, Jean-Marie Dilhac, Fabrice Caignet
article
La Revue 3E.I, 2020, 101, pp.13-24
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https://laas.hal.science/hal-02651454/file/article_Photovolta%C3%AFque.pdf BibTex

2019

Special issue

titre
Proceedings of the 30th European Symposium on the reliability of electron devices, failure physics and analysis
auteur
Nicolas Nolhier, Nathalie Labat, Hélène Frémont, François Marc, Fabrice Caignet, Guillaume Bascoul
article
ESREF 2019, Sep 2019, Microelectronics Reliability, 100-101, pp.113498, 2019, ⟨10.1016/j.microrel.2019.113498⟩
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BibTex

2018

Book sections

titre
Voiture autonome : le défi du zéro défaut pour la fiabilité des systèmes électroniques embarqués
auteur
Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
article
Transports du futur: Regards croisés de chercheur.e.s, 37, pp.20, 2018, Collection Petit illustré
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https://laas.hal.science/hal-01980187/file/RobustesseSystemeBafleur_final.pdf BibTex

Books

titre
Méthodologies de protection ESD : du composant au système
auteur
Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
article
ISTE Editions. 280p., 2018, 9781784053260
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BibTex

2017

Journal articles

titre
Prediction of LIN communication robustness against EFT events using dedicated failure models
auteur
Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Microelectronics Reliability, 2017, 76-77, pp.685 - 691. ⟨10.1016/j.microrel.2017.07.032⟩
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https://laas.hal.science/hal-01698397/file/121.pdf BibTex

Conference papers

titre
LIN communication behaviours against ESD events
auteur
Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
article
2017 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC EUROPE), Sep 2017, Angers, France. ⟨10.1109/EMCEurope.2017.8094675⟩
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https://laas.hal.science/hal-01698505/file/163_auteur.pdf BibTex

Books

titre
ESD Protection Methodologies: From Component to System
auteur
Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
article
Elsevier, 284p., 2017, 978-1-78548-122-2
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BibTex

2016

Journal articles

titre
Impact of non-linear capacitances on transient waveforms during system level ESD stress
auteur
Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Microelectronics Reliability, 2016, Proceedings of the 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 64, pp.88 - 92. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.046⟩
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https://hal.science/hal-01497515/file/microelectronics-reliability_escudie_2016.pdf BibTex

Conference papers

titre
From quasi-static to transient system level ESD simulation: Extraction of turn-on elements
auteur
Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2016 38th, ESD Association, Sep 2016, Anaheim, United States. pp.1 - 10, ⟨10.1109/EOSESD.2016.7592563⟩
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https://hal.science/hal-01387072/file/EOS-ESD-2016.pdf BibTex
titre
Présentation d'un travail normatif de modélisation de système pour la prédiction de défaillance ESD
auteur
Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
18 ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2016) , Jul 2016, Rennes, France. 6p
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https://laas.hal.science/hal-01698420/file/Escudie%CC%81_Fabien_article_CEM_Rennes.pdf BibTex
titre
Modélisation de système pour la prédiction de défaillances dues aux décharges électrostatiques
auteur
Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
article
Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM 2016), May 2016, Toulouse, France. 5p
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https://laas.hal.science/hal-01698411/file/Escudie%CC%81_fabien.pdf BibTex

2015

Journal articles

titre
Multisource and Battery-free Energy Harvesting Architecture for Aeronautics Applications
auteur
Claude Vanhecke, Laurent Assouère, Anqing Wang, Paul Durand-Estèbe, Fabrice Caignet, Jean-Marie Dilhac, Marise Bafleur
article
IEEE Transactions on Power Electronics, 2015, 30 (6), pp.3215-3227. ⟨10.1109/TPEL.2014.2331365⟩
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https://hal.science/hal-01020992/file/IEEE-2013-circuit-single%20column-revised-final.pdf BibTex

Conference papers

titre
TLP-based Human Metal Model stress generator and analysis method of ESD generators
auteur
Rémi Bèges, Fabrice Caignet, Patrice Besse, Jean-Philippe Laine, Alain Salles, Nicolas Mauran, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Electrical Overstress / Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD 2015), Sep 2015, Reno, United States. ⟨10.1109/EOSESD.2015.7314777⟩
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https://hal.science/hal-01239451/file/33-4B.1_BEGES_PID3769741.pdf BibTex
titre
Hierarchical Modeling Approach for System Level ESD Analysis: From Hard to Functional Failure
auteur
Fabrice Caignet, Rémi Bèges, Patrice Besse, Jean-Philippe Lainé, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC) , May 2015, TAIPEI, Taiwan. 4p., ⟨10.1109/APEMC.2015.7175399⟩
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https://hal.science/hal-01843414/file/APEMC_2015_modelingV3_final.pdf BibTex
titre
Dynamic system level ESD current measurement using magnetic field probe
auteur
Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility ( APEMC ), May 2015, Taipei, Taiwan. ⟨10.1109/APEMC.2015.7175400⟩
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https://hal.science/hal-01239444/file/1570063071.pdf BibTex

Book sections

titre
Protecting Mixed-­Signal Technologies Against Electrostatic Discharges: Challenges and Protection Strategies from Component to System
auteur
Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Patrice Besse, Jean-­‐philippe Lainé
article
Thomas NOULIS. Mixed-signal circuits, CRC PRESS, 40p. Chapter 3, 2015, Devices, Circuits, and Systems Series, 9781482260625
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https://hal.science/hal-01218627/file/Chapter3-Mixed-signal-circuits-CRC_Press-Nov15.pdf BibTex

Habilitation à diriger des recherches

titre
systems approach to the analysis of the impact of electrostatic discharge: the component system
auteur
Fabrice Caignet
article
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Universite Toulouse III Paul Sabatier, 2015
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https://theses.hal.science/tel-01292134/file/CAIGNET%2010ex.pdf BibTex

2014

Journal articles

titre
Reliability of ESD protection devices designed in a 3D technology
auteur
Bertrand Courivaud, Nicolas Nolhier, G Ferru, Marise Bafleur, Fabrice Caignet
article
Microelectronics Reliability, 2014, Microelectronics Reliability, 54 (9), pp.2272-2277. ⟨10.1016/j.microrel.2014.07.136⟩
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https://hal.science/hal-01218702/file/ESREF2014%20final%20paper.pdf BibTex

Conference papers

titre
Novel 3D back-to-back diodes ESD protection
auteur
Bertrand Courivaud, Nicolas Nolhier, G. Ferru, Marise Bafleur, Fabrice Caignet
article
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge (EOS/ESD) Symposium , Sep 2014, Tucson, AZ, United States. 4p
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https://hal.science/hal-01843388/file/EOS-ESD-2014-COURIVAUD-last.pdf BibTex
titre
Practical Transient System-level ESD Modeling - Environment Contribution
auteur
Marise Bafleur, Rémi Bèges, Fabrice Caignet, André Durier, Christian Marot, Nicolas Nolhier
article
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), Sep 2014, Tucson, AZ, United States. 10p
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https://hal.science/hal-01843080/file/Submission_BEGES-final.pdf BibTex
titre
Novel 3D back-to-back diodes ESD protection
auteur
Bertrand Courivaud, Nicolas Nolhier, G. Ferru, Marise Bafleur, Fabrice Caignet
article
International ESD Workshop (IEW) , May 2014, Villard de Lans, France. 2p
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https://hal.science/hal-01843394/file/Microsoft%20Word%20-%20IEW2014_Courivaud_abstract_V1.pdf BibTex

2013

Journal articles

titre
On-chip measurement to analyze failure mechanisms of ICs under system level ESD stress
auteur
Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur, Anqing Wang, Nicolas Mauran
article
Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9-11), pp.1278-1283. ⟨10.1016/j.microrel.2013.07.056⟩
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https://hal.science/hal-00941840/file/ESREF2013_paper_171.pdf BibTex
titre
A System-Level Electrostatic-Discharge-Protection Modeling Methodology for Time-Domain Analysis
auteur
Nicolas Monnereau, Fabrice Caignet, David Trémouilles, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2013, 55 (1), pp.45-57. ⟨10.1109/TEMC.2012.2208973⟩
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https://hal.science/hal-00941876/file/IEEE_Trans_EMC-2013.pdf BibTex

Conference papers

titre
Tackling the challenges of System level ESD: from efficient ICs ESD protection to system level predictive modeling
auteur
Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, David Trémouilles
article
Taiwan ESD and Reliability Conference, Nov 2013, Hsinchu, Taiwan
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https://hal.science/hal-00957728/file/TESDC-2013_Keynote_M_BAFLEUR_final.pdf BibTex
titre
Oscilloscope intégré sur puce appliqué à la caractérisation d'un générateur d'impulsions à 20 GHz
auteur
Thomas Epert, Fabrice Caignet, Christophe Viallon, Anqing Wang, Nicolas Mauran, Thierry Parra
article
18èmes Journées Nationales Microondes, May 2013, Paris, France. pp.4
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https://hal.science/hal-00924176/file/J3-DA1-4.pdf BibTex

2012

Journal articles

titre
Investigation of Modeling System ESD Failure and Probability Using IBIS ESD Models
auteur
Nicolas Monnereau, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur, David Trémouilles
article
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2012, 12 (4), pp.599-606. ⟨10.1109/TDMR.2012.2218605⟩
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https://hal.science/hal-00941823/file/TMDR_Caignet_rev_june_2012_final.pdf BibTex

Conference papers

titre
Behavioral ESD Protection Modeling to perform System Level ESD Efficient Design
auteur
Fabrice Caignet, Nicolas Monnereau, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC), May 2012, SINGAPORE, Singapore. pp.401-404
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.science/hal-00722644/file/Caignet-APEMC2012.pdf BibTex

2011

Conference papers

titre
Behavioral-Modeling Methodology to Predict Electrostatic-Discharge Susceptibility Failures at System Level : an IBIS Improvement
auteur
Nicolas Monnereau, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, David Trémouilles, Marise Bafleur
article
Int. Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2011), Sep 2011, YORK, United Kingdom. pp.457-463
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.science/hal-00722643/file/EMC-Europe-final_MONNEREAU_Nicolas.pdf BibTex

2008

Journal articles

titre
Comparison among emission and susceptibility reduction techniques for electromagnetic interference in digital integrated circuits
auteur
Ali Alaeldine, Nicolas Lacrampe, Alexandre Boyer, Richard Perdriau, Fabrice Caignet, Mohamed Ramdani, Etienne Sicard, M'Hamed Drissi
article
Microelectronics Journal, 2008, 39 (12), pp.1728-1735. ⟨10.1016/j.mejo.2008.02.022⟩
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BibTex

2001

Journal articles

titre
The challenge of signal integrity in deep-submicrometer CMOS technology
auteur
Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia, Etienne Sicard
article
Proceedings of the IEEE, 2001, 89 (4), pp.556-573. ⟨10.1109/5.920583⟩
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BibTex

2000

Journal articles

titre
On the measurement of crosstalk in integrated circuits
auteur
Sonia Ben Dhia, Fabrice Caignet, E. Sicard
article
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2000, 8 (5), pp.606-609. ⟨10.1109/92.894165⟩
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BibTex

1999

Journal articles

titre
On-chip sampling in CMOS integrated circuits
auteur
Sonia Ben Dhia, S. Delmas-Bendhia, Fabrice Caignet, E. Sicard, M. Roca
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 1999, 41 (4), pp.403-406. ⟨10.1109/15.809837⟩
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BibTex