Publications HAL de Fabrice CAIGNET du labo/EPI LAAS

2020

Journal articles

titre
Réalisation d'une alimentation DC 3,3V sans pile avec récupération d'énergie photovoltaïque et stockage sur supercapacités pour l'alimentation d'un capteur sans fil basse consommation
auteur
Lionel Séguier, Vincent Boitier, Florian Huet, Jean Dilhac, Fabrice Caignet
article
La Revue 3EI, Société des électriciens, 2020, pp.13-24
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https://hal.laas.fr/hal-02651454/file/article_Photovolta%C3%AFque.pdf BibTex

2019

Directions of work or proceedings

titre
Proceedings of the 30th European Symposium on the reliability of electron devices, failure physics and analysis
auteur
Nicolas Nolhier, Nathalie Labat, Hélène Frémont, François Marc, Fabrice Caignet, Guillaume Bascoul
article
ESREF 2019, Sep 2019, Microelectronics Reliability, 100-101, pp.113498, 2019, ⟨10.1016/j.microrel.2019.113498⟩
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2018

Book sections

titre
Voiture autonome : le défi du zéro défaut pour la fiabilité des systèmes électroniques embarqués
auteur
Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
article
Transports du futur: Regards croisés de chercheur.e.s, pp.20, 2018, Collection Petit illustré
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https://hal.laas.fr/hal-01980187/file/RobustesseSystemeBafleur_final.pdf BibTex

Books

titre
Méthodologies de protection ESD : du composant au système
auteur
Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
article
ISTE Editions. 280p., 2018, 9781784053260
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2017

Journal articles

titre
Prediction of LIN communication robustness against EFT events using dedicated failure models
auteur
Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2017, 76-77, pp.685 - 691. ⟨10.1016/j.microrel.2017.07.032⟩
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https://hal.laas.fr/hal-01698397/file/121.pdf BibTex

Conference papers

titre
LIN communication behaviours against ESD events
auteur
Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
article
2017 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC EUROPE), Sep 2017, Angers, France. ⟨10.1109/EMCEurope.2017.8094675⟩
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https://hal.laas.fr/hal-01698505/file/163_auteur.pdf BibTex

Books

titre
ESD Protection Methodologies: From Component to System
auteur
Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
article
Elsevier, 284p., 2017, 978-1-78548-122-2
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2016

Journal articles

titre
Impact of non-linear capacitances on transient waveforms during system level ESD stress
auteur
Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2016, Proceedings of the 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 64, pp.88 - 92. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.046⟩
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01497515/file/microelectronics-reliability_escudie_2016.pdf BibTex

Conference papers

titre
From quasi-static to transient system level ESD simulation: Extraction of turn-on elements
auteur
Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2016 38th, ESD Association, Sep 2016, Anaheim, United States. pp.1 - 10, ⟨10.1109/EOSESD.2016.7592563⟩
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01387072/file/EOS-ESD-2016.pdf BibTex
titre
Présentation d'un travail normatif de modélisation de système pour la prédiction de défaillance ESD
auteur
Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
18 ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2016) , Jul 2016, Rennes, France. 6p
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https://hal.laas.fr/hal-01698420/file/Escudie%CC%81_Fabien_article_CEM_Rennes.pdf BibTex
titre
Modélisation de système pour la prédiction de défaillances dues aux décharges électrostatiques
auteur
Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier
article
Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM 2016), May 2016, Toulouse, France. 5p
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https://hal.laas.fr/hal-01698411/file/Escudie%CC%81_fabien.pdf BibTex

2015

Journal articles

titre
Multisource and Battery-free Energy Harvesting Architecture for Aeronautics Applications
auteur
Claude Vanhecke, Laurent Assouère, Anqing Wang, Paul Durand-Estèbe, Fabrice Caignet, Jean-Marie Dilhac, Marise Bafleur
article
IEEE Transactions on Power Electronics, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2015, 30 (6), pp.3215-3227. ⟨10.1109/TPEL.2014.2331365⟩
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01020992/file/IEEE-2013-circuit-single%20column-revised-final.pdf BibTex

Conference papers

titre
TLP-based Human Metal Model stress generator and analysis method of ESD generators
auteur
Rémi Bèges, Fabrice Caignet, Patrice Besse, Jean-Philippe Laine, Alain Salles, Nicolas Mauran, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Electrical Overstress / Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD 2015), Sep 2015, Reno, United States. ⟨10.1109/EOSESD.2015.7314777⟩
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01239451/file/33-4B.1_BEGES_PID3769741.pdf BibTex
titre
Hierarchical Modeling Approach for System Level ESD Analysis: From Hard to Functional Failure
auteur
Fabrice Caignet, Rémi Bèges, Patrice Besse, Jean-Philippe Lainé, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC) , May 2015, TAIPEI, Taiwan. 4p., ⟨10.1109/APEMC.2015.7175399⟩
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01843414/file/APEMC_2015_modelingV3_final.pdf BibTex
titre
Dynamic system level ESD current measurement using magnetic field probe
auteur
Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility ( APEMC ), May 2015, Taipei, Taiwan. ⟨10.1109/APEMC.2015.7175400⟩
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01239444/file/1570063071.pdf BibTex

Book sections

titre
Protecting Mixed-­Signal Technologies Against Electrostatic Discharges: Challenges and Protection Strategies from Component to System
auteur
Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Patrice Besse, Jean-­‐philippe Lainé
article
Thomas NOULIS. Mixed-signal circuits, CRC PRESS, 40p. Chapter 3, 2015, Devices, Circuits, and Systems Series, 9781482260625
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01218627/file/Chapter3-Mixed-signal-circuits-CRC_Press-Nov15.pdf BibTex

Habilitation à diriger des recherches

titre
Approche systémique pour l’analyse de l’impact des décharges électrostatiques : du composant au système
auteur
Fabrice Caignet
article
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Universite Toulouse III Paul Sabatier, 2015
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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01292134/file/CAIGNET%2010ex.pdf BibTex

2014

Journal articles

titre
Reliability of ESD protection devices designed in a 3D technology
auteur
Bertrand Courivaud, Nicolas Nolhier, G Ferru, Marise Bafleur, Fabrice Caignet
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2014, Microelectronics Reliability, 54 (9), pp.2272-2277. ⟨10.1016/j.microrel.2014.07.136⟩
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01218702/file/ESREF2014%20final%20paper.pdf BibTex

Conference papers

titre
Practical Transient System-level ESD Modeling - Environment Contribution
auteur
Marise Bafleur, Rémi Bèges, Fabrice Caignet, André Durier, Christian Marot, Nicolas Nolhier
article
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), Sep 2014, Tucson, AZ, United States. 10p
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01843080/file/Submission_BEGES-final.pdf BibTex
titre
Novel 3D back-to-back diodes ESD protection
auteur
Bertrand Courivaud, Nicolas Nolhier, G. Ferru, Marise Bafleur, Fabrice Caignet
article
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge (EOS/ESD) Symposium , Sep 2014, Tucson, AZ, United States. 4p
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01843388/file/EOS-ESD-2014-COURIVAUD-last.pdf BibTex
titre
Novel 3D back-to-back diodes ESD protection
auteur
Bertrand Courivaud, Nicolas Nolhier, G. Ferru, Marise Bafleur, Fabrice Caignet
article
International ESD Workshop (IEW) , May 2014, Villard de Lans, France. 2p
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01843394/file/Microsoft%20Word%20-%20IEW2014_Courivaud_abstract_V1.pdf BibTex

2013

Journal articles

titre
On-chip measurement to analyze failure mechanisms of ICs under system level ESD stress
auteur
Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur, Anqing Wang, Nicolas Mauran
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2013, 53 (9-11), pp.1278-1283. ⟨10.1016/j.microrel.2013.07.056⟩
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00941840/file/ESREF2013_paper_171.pdf BibTex
titre
A System-Level Electrostatic-Discharge-Protection Modeling Methodology for Time-Domain Analysis
auteur
Nicolas Monnereau, Fabrice Caignet, David Trémouilles, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2013, 55 (1), pp.45-57. ⟨10.1109/TEMC.2012.2208973⟩
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00941876/file/IEEE_Trans_EMC-2013.pdf BibTex

Conference papers

titre
Tackling the challenges of System level ESD: from efficient ICs ESD protection to system level predictive modeling
auteur
Marise Bafleur, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, David Trémouilles
article
Taiwan ESD and Reliability Conference, Nov 2013, Hsinchu, Taiwan
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00957728/file/TESDC-2013_Keynote_M_BAFLEUR_final.pdf BibTex
titre
Oscilloscope intégré sur puce appliqué à la caractérisation d'un générateur d'impulsions à 20 GHz
auteur
Thomas Epert, Fabrice Caignet, Christophe Viallon, Anqing Wang, Nicolas Mauran, Thierry Parra
article
18èmes Journées Nationales Microondes, May 2013, Paris, France. pp.4
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00924176/file/J3-DA1-4.pdf BibTex

2012

Journal articles

titre
Investigation of Modeling System ESD Failure and Probability Using IBIS ESD Models
auteur
Nicolas Monnereau, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur, David Trémouilles
article
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2012, 12 (4), pp.599-606. ⟨10.1109/TDMR.2012.2218605⟩
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00941823/file/TMDR_Caignet_rev_june_2012_final.pdf BibTex

Conference papers

titre
Behavioral ESD Protection Modeling to perform System Level ESD Efficient Design
auteur
Fabrice Caignet, Nicolas Monnereau, Nicolas Nolhier, Marise Bafleur
article
Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC), May 2012, SINGAPORE, Singapore. pp.401-404
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00722644/file/Caignet-APEMC2012.pdf BibTex

2011

Conference papers

titre
Behavioral-Modeling Methodology to Predict Electrostatic-Discharge Susceptibility Failures at System Level : an IBIS Improvement
auteur
Nicolas Monnereau, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier, David Trémouilles, Marise Bafleur
article
Int. Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2011), Sep 2011, YORK, United Kingdom. pp.457-463
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00722643/file/EMC-Europe-final_MONNEREAU_Nicolas.pdf BibTex

2008

Journal articles

titre
Comparison among emission and susceptibility reduction techniques for electromagnetic interference in digital integrated circuits
auteur
Ali Alaeldine, Nicolas Lacrampe, Alexandre Boyer, Richard Perdriau, Fabrice Caignet, Mohamed Ramdani, Etienne Sicard, M'Hamed Drissi
article
Microelectronics Journal, Elsevier, 2008, 39 (12), pp.1728-1735. ⟨10.1016/j.mejo.2008.02.022⟩
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2001

Journal articles

titre
The challenge of signal integrity in deep-submicrometer CMOS technology
auteur
Fabrice Caignet, Sonia Ben Dhia, Etienne Sicard
article
Proceedings of the IEEE, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2001, 89 (4), pp.556-573. ⟨10.1109/5.920583⟩
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