Conference papers

titre

Novel approach for nano-patterning magnetic tunnel junctions stacks at narrow pitch: A route towards high density STT-MRAM applications

auteur

V. D. Nguyen, P. Sabon, J. Chatterjee, L. Tillie, P. Veloso Coelho, S. Auffret, R. Sousa, L. Prejbeanu, E. Gautier, L. Vila, B. Dieny

article

2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Dec 2017, San Francisco, CA, United States. ⟨10.1109/IEDM.2017.8268517⟩

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