Publications HAL de Hasna BARKIA de la collection FAYOL-ENSMSE

2013

Conference papers

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Hasna Barkia, Xavier Boucher, Rodolphe Le Riche, Marie-Agnès Girard, Philippe Beaune. Semiconductor Yield Loss' Causes Identification : A Data Mining Approach. 2013 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM2013), Dec 2013, Bangkok, Thailand. pp.article no. IEEM13-P-0503. ⟨emse-00856619⟩
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Hasna Barkia, Xavier Boucher. A Data Mining Approach for Yield Loss' causes Identification in Semi-conductor Industry. 13th Annual Conference of ENBIS, Sep 2013, Londres, United Kingdom. ⟨emse-00847375⟩
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Hasna Barkia, Xavier Boucher, Rodolphe Le Riche, Marie-Agnès Girard, Philippe Beaune, et al.. Extraction de connaissances pour une maîtrise du rendement en industrie du semi-conducteur. 10ième Congrès International en Génie Industriel (CIGI 2013), Jun 2013, La Rochelle, France. ⟨emse-00805167⟩
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