Publications HAL de Michel, TOLLENAERE du labo/EPI G-SCOP

2018

Conference papers

titre
Les facteurs clés du TQM impactant la performance de la SC
auteur
Lehyani Fatma, Alaeddine Zouari, Ahmed Ghorbel, Michel Tollenaere
article
Le 1er Colloque international sur l’e-Supply Chain, Apr 2018, Agadir, Maroc
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01893119/file/cesca%202018.pdf BibTex

2016

Conference papers

titre
Towards proactive maintenance actions scheduling in the Semiconductor Industry (SI) using Bayesian approach
auteur
Anis Ben Said, Muhammad Kashif Shahzad, Éric Zamaï, Stephane Hubac, Michel Tollenaere
article
8th IFAC Conférence on Manufacturing Modeling Management & Control, IFAC, Jun 2016, Troyes France
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titre
Towards quantified Measures of Agility for agile Information System for Production Lines
auteur
Muhammad Kashif Shahzad, Camilo Cruz Jimenez, Anis Ben Said, Michel Tollenaere
article
8th IFAC Conference on Manufacturing Modeling, Management & Control, Jun 2016, Troyes, France
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titre
Towards quantified measures of Agility for Production Line Information Systems (PLIS)
auteur
Muhammad-Kashif Shahzad, Camilo Cruz Jimenez, Anis Ben Said, Michel Tollenaere
article
8th IFAC Conference on Manufacturing Modelling, Management and Control (MIM 2016), Jun 2016, Troyes, France. pp.562--567, ⟨10.1016/j.ifacol.2016.07.695⟩
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2015

Journal articles

titre
Experts' Knowledge Renewal and Maintenance Actions Effectiveness in High-Mix Low-Volume Industries, Using Bayesian Approach
auteur
Anis Ben Said, Muhammad Kashif Shahzad, Éric Zamaï, S. Hubac, Michel Tollenaere
article
Cognition, Technology and Work, Springer Verlag, 2015, 18 (1), pp.193-213
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titre
Domain knowlege versioning and aggregation mechanisms in product design processes
auteur
Zouari Aleddine, Michel Tollenaere, Ben Habib, Y Aref
article
Concurrent Engineering: Research and Applications, SAGE Publications, 2015, 23 (4), pp.296-307
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2014

Journal articles

titre
Simulation-based optimization of sampling plans to reduce inspections while mastering the risk exposure in semiconductor manufacturing
auteur
M'Hammed Sahnoun, Belgacem Bettayeb, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere
article
Journal of Intelligent Manufacturing, Springer Verlag (Germany), 2014
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Conference papers

titre
MDA Based Tool for PLM’ Models Building and Evolving
auteur
Onur Yildiz, Nada Aouadi, Aimad Karkouch, Philippe Pernelle, Lilia Gzara, Michel Tollenaere
article
IFIP International Conference on Advances in Production Management Systems (APMS), Sep 2014, Ajaccio, France. pp.315-322, ⟨10.1007/978-3-662-44739-0_39⟩
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https://hal.inria.fr/hal-01388267/file/978-3-662-44739-0_39_Chapter.pdf BibTex
titre
A Bayesian Network based approach to improve the effectiveness of maintenance actions in Semiconductor industry
auteur
Anis Ben Said, Muhammad Kashif Shahzad, Éric Zamaï, Stephane Hubac, Michel Tollenaere
article
Second European Conference of the Prognostics and Health Management Society 2014, Jul 2014, Nantes, France
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titre
Disassembly sequencing for end-of-life products
auteur
Hibo Said Chekh Wais, Peter Mitrouchev, Michel Tollenaere
article
Conference on Mechanical, Design Engineering & Advanced Manufacturing,, Jun 2014, Toulouse, France
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2013

Journal articles

titre
Controlling non-conformities propagation in manufacturing.
auteur
Valérie Fiegenwald, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere
article
International Journal of Production Research, Taylor & Francis, 2013
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Conference papers

titre
Indicateurs d'évaluation de la désassemblabilité des produits
auteur
Hibo Said Chekh Wais, Peter Mitrouchev, Michel Tollenaere
article
21ème Congrès Français de Mécanique, Aug 2013, Bordeaux, France. pp.Réf. S7B144EU
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titre
Indicateurs d'évaluation de la dés-assembabilité des produits
auteur
Hibo Said Chekh Wais, Peter Mitrouchev, Michel Tollenaere
article
Congrès Français de mécanique, Aug 2013, Bordeaux, France
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titre
New key success factors for engineering technology transfer between research and development: technology maturity and proof of usage
auteur
Iris de Fontaines, Guy Prudhomme, Michel Tollenaere, Lefeuve Didier
article
19th International Conference on Engineering Design (ICED13), Aug 2013, Seoul, South Korea. pp.NC
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titre
Improving digital engineering tools in complex product development by means of an adequate monintoring of research projects
auteur
Iris de Fontaines, Didier Lefeuve, Guy Prudhomme, Michel Tollenaere
article
PLM 2013, Jul 2013, Nantes, France
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titre
A Framework for PLM Model Design
auteur
Onur Yildiz, Philippe Pernelle, Lilia Gzara, Michel Tollenaere
article
10th Product Lifecycle Management for Society (PLM), Jul 2013, Nantes, France. pp.159-169, ⟨10.1007/978-3-642-41501-2_17⟩
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https://hal.inria.fr/hal-01461839/file/978-3-642-41501-2_17_Chapter.pdf BibTex
titre
A Framework for PLM Model Design
auteur
Onur Yildiz, Philippe Pernelle, Lilia Gzara, Michel Tollenaere
article
10th IFIP WG5.1 international conference, PLM 2013, Jul 2013, Paris, France. pp.159 - 169
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titre
Usage scenario: key tool for the introduction of engineering technologies in industrial context
auteur
Iris de Fontaines, Michel Tollenaere, Guy Prudhomme, Lefeuve Didier
article
6th SIG Design Theory Workshop, Feb 2013, Paris, France. pp.NC
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2012

Journal articles

titre
Quality and exposure control in semiconductor manufacturing. Part II:Evaluation
auteur
Belgacem Bettayeb, Samuel Bassetto, Philippe Vialletelle, Michel Tollenaere
article
International Journal of Production Research, Taylor & Francis, 2012, 50 (23), pp.6852 - 6869. ⟨10.1080/00207543.2011.630043⟩
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titre
Quality and exposure control in semiconductor manufacturing. Part I: Modelling
auteur
Belgacem Bettayeb, Samuel Bassetto, Philippe Vialletelle, Michel Tollenaere
article
International Journal of Production Research, Taylor & Francis, 2012, 50 (23), pp.6835-6851. ⟨10.1080/00207543.2011.630042⟩
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Conference papers

titre
An MDA Approach for PLM System Design
auteur
Onur Yildiz, Lilia Gzara, Philippe Pernelle, Michel Tollenaere
article
19th Advances in Production Management Systems (APMS), Sep 2012, Rhodes, Greece. pp.216-223, ⟨10.1007/978-3-642-40361-3_28⟩
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https://hal.inria.fr/hal-01470623/file/978-3-642-40361-3_28_Chapter.pdf BibTex
titre
MDA approach for PLM system design
auteur
Onur Yildiz, Lilia Gzara, Philippe Pernelle, Michel Tollenaere
article
APMS 2012 International conference - Advances in production Management Systems, Sep 2012, Rhodes, Greece. pp.1319
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titre
A yield aware sampling strategy for inspection tools capacity optimization
auteur
Muhammad Kashif Shahzad, Thomas Chaillou, Stephane Hubac, Ali Siadat, Michel Tollenaere
article
International Conference on Artificial Intelligence (ICAI), 2012, Jul 2012, Las Vegas, United States
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titre
SPM (spatial positioning model) to improve DFM methods effectiveness
auteur
Muhammad Kashif Shahzad, Stephane Hubac, Ali Siadat, Michel Tollenaere
article
12th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference, Apr 2012, Grenoble, France
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BibTex
titre
An Interdisciplinary FMEA methodology to find true DFM challenges
auteur
Muhammad Kashif Shahzad, Stephane Hubac, Ali Siadat, Michel Tollenaere
article
12th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference, Apr 2012, Grenoble, France
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titre
MAM (mapping and alignment model) for inspection data in semiconductor industry
auteur
Muhammad Kashif Shahzad, Stephane Hubac, Ali Siadat, Michel Tollenaere
article
12th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference, Apr 2012, Grenoble, France
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BibTex
titre
ROMMII (referential ontology Meta model for information integration) architecture for dynamic restructuring of the DWH data models
auteur
Muhammad Kashif Shahzad, Stephane Hubac, Ali Siadat, Michel Tollenaere
article
12th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference, Apr 2012, Grenoble, France
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BibTex
titre
Les exigences fonctionnelles comme pilotes de la conception pour satisfaire des exigences stratégiques
auteur
Iris de Fontaines, Michel Tollenaere, Guy Prudhomme, Didier Lefeuve, Truffart Bertrand
article
13e Colloque National AIP PRIMECA, Mar 2012, Paris, France. pp.NC
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titre
Smart sampling for risk reduction and delay optimisation
auteur
M'Hammed Sahnoun, Belgacem Bettayeb, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere
article
2012 IEEE International Systems Conference, Mar 2012, vancouver, Canada. pp.1-6
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2011

Journal articles

titre
Optimisation of the process control in a semiconductor company: model and case study of defectivity sampling
auteur
M'Hammed Sahnoun, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere, Philippe Vialletelle, Soidri Bastoini
article
International Journal of Production Research, Taylor & Francis, 2011, Vol. 49 (No. 13), pp.3873-3890. ⟨10.1080/00207543.2010.484429⟩
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00676970/file/W_R-MS-10SB.pdf BibTex
titre
The management of process control deployment using interactions in risks analyses
auteur
Samuel Bassetto, Ali Siadat, Michel Tollenaere
article
Journal of Loss Prevention in the Process Industries, Elsevier, 2011, 24 (4), pp.458 - 465
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Conference papers

titre
Controlling non-conformities propagation in manufacturing. Case study in an electromechanical assembly plant.
auteur
Valérie Fiegenwald, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere
article
Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM), 2011 IEEE International Conference on, Dec 2011, Singapour, Singapore. pp.1476 - 1480
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00710601/file/IEEM11_Fiegenwald_Bassetto_Tollenaere_final_paper.pdf BibTex
titre
Optimizing Return On Inspection Trough Defectivity Smart Sampling
auteur
M'Hammed Sahnoun, Philippe Vialletelle, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere, Soidri Bastoini
article
International Symposium on Semiconductor Manufacturing, Oct 2011, Tokyo, Japan. pp.978-4-9904138-3-5
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titre
Plan de surveillance basé sur l'exposition aux risques et les capabilités des ressources
auteur
Belgacem Bettayeb, Michel Tollenaere, Samuel Bassetto
article
Congrès International de Génie Industriel, Oct 2011, Saint-Sauveur, Canada
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00677060/file/CIGI2011_Bettayeb.pdf BibTex
titre
Vers la maitrise de la propagation des non-conformités en fabrication. Cas d'étude dans une usine d'assemblage électromécanique.
auteur
Valérie Fiegenwald, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere
article
11eme Conférence Internationale de Génie Industriel, Oct 2011, Saint-Sauveur, Canada
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00710036/file/CIGI_Fiegenwald_Bassetto_Tollenaere_final.pdf BibTex
titre
Impact of Sampling on W@R and Metrology Time delay
auteur
M'Hammed Sahnoun, Belgacem Bettayeb, Michel Tollenaere, Philippe Vialletelle, Aymen Mili
article
Intel European Research & Innovation Conference, Oct 2011, dublin, Ireland. pp.273-275
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BibTex
titre
Extension des méthodes DFM pour l'industrialisation de produits microélectroniques
auteur
Muhammad Kashif Shahzad, Michel Tollenaere, Stéphane Hubac, Ali Siadat
article
9e Congrès International de Génie Industriel, Oct 2011, Saint-Sauveur, Montréal, Canada
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00782413/file/SAM_LCFC_102011_SIADAT.pdf BibTex
titre
An Extended IDM Business Model to Ensure Time-to-Quality in Semiconductor Manufacturing Industry
auteur
Muhammad Kashif Shahzad, Stephane Hubac, Ali Siadat, Michel Tollenaere
article
International Conference, CENTERIS 2011, Oct 2011, Vilamoura, Algarve, Portugal, Portugal. pp.118-128, ⟨10.1007/978-3-642-24358-5_12⟩
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titre
Plan de surveillance basé sur l'exposition aux risques et les aptitudes des ressources
auteur
Belgacem Bettayeb, Michel Tollenaere, Samuel Bassetto
article
4èmes Journées Doctorales / Journées Nationales MACS (JD-JN-MACS'11), Jun 2011, Marseille, France. 6 p
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00677080/file/JDMACS2011_Bettayeb_final.pdf BibTex

2010

Journal articles

titre
Unified process for astion plan management : Case study in a research and production semiconductor factory
auteur
Aymen Mili, Ali Siadat, Samuel Bassetto, Stéphane Hubac, Michel Tollenaere
article
IEEE Aerospace and Electronic Systems Magazine, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, 25 (6), pp.4 - 8
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BibTex

Conference papers

titre
Computation of Wafer-At-Risk from Theory to Real Life Demonstration
auteur
M'Hammed Sahnoun, Philippe Vialletelle, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere, Soidri Bastoini
article
Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs, Nov 2010, Rousset, France
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BibTex
titre
Optimized design of control plans based on risk exposure and resources capabilities
auteur
Belgacem Bettayeb, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere
article
International Symposium on Semiconductor Manufacturing, Oct 2010, Tokyo, Japan. pp.267-270
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00579882/file/ISSM2010_FinalPaper_Bettayeb.pdf BibTex

2009

Journal articles

titre
Risks > management unveil productivity improvements
auteur
Aymen Mili, Samuel Bassetto, Ali Siadat, Michel Tollenaere
article
Journal of Loss Prevention in the Process Industries, Elsevier, 2009, 22 (1), pp.25-34
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BibTex

Conference papers

titre
The mechanisms of construction of generic product configuration with the help of business object and delay differentiation
auteur
Seyed-Hamedreza Izadpanah, Lilia Gzara, Michel Tollenaere
article
CIRP-Design, Mar 2009, Cranfield, United Kingdom
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00369203/file/IZADPANAH.pdf BibTex
titre
Unified process for action plan management Case study in a research and production semiconductor factory
auteur
Aymen Mili, S. Hubac, Samuel Bassetto, Ali Siadat, Michel Tollenaere
article
3rd Annual IEEE International Systems Conference, Mar 2009, Vancouver, Canada. pp.4-8
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2008

Conference papers

titre
Managing the evolution of product configuration within PLM systems
auteur
Seyed-Hamedreza Izadpanah, Lilia Gzara, Michel Tollenaere
article
Int Conference on Product Life Cycle Management, Jul 2008, Seoul, South Korea
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00369209/file/PLM08_Final_Version.pdf BibTex

2007

Journal articles

titre
Can C-K theory apply to KBE (knowledge based engineering) Systems ?
auteur
A. Zouari, Michel Tollenaere, H. Ben Bacha, A. Maalej
article
International Journal of Product Lifecycle Management, Inderscience, 2007, 2 (3), pp.228-252
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Conference papers

titre
Proposition d'organisation du retour d'expériences par la gestion des risques pour faciliter l'industrialisation
auteur
Samuel Bassetto, Aymen Mili, Ali Siadat, Michel Tollenaere
article
7eme Congrès de Génie Industriel, Jun 2007, Trois Rivières, Canada
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BibTex
titre
Vers la réutilisation des connaissances dans les processus d'industrialisation : le cas de la microélectronique
auteur
H. Bush, Mickaël Gardoni, Michel Tollenaere
article
-, Apr 2007, La Plagne, France
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Book sections

titre
Knowledge Management Aspects for Business Process Management: An approach through the information management within and between processes - case study at STMicroelectronics
auteur
H. Bush, Mickaël Gardoni, Michel Tollenaere
article
Advances in Integrated Design and Manufacturing in Mechanical Engineering II - 2007, S. Tichkiewitch, M. Tollenaere, P. Ray (eds), Springer Verlag, 2007, ISBN : 978-1-4020-6760-0
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Books

titre
Advances in Integrated Design and Manufacturing in Mechanical Engineering II
auteur
Serge Tichkiewitch, Michel Tollenaere, Pascal Ray
article
S. TICHKIEWITCH, M. TOLLENAERE, P. RAY. Springer, pp.546, 2007, ⟨10.0006/IDMME2006⟩
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2006

Conference papers

titre
The conception of a human-machine interface for a Manufacturing Knowledge Retrieval System: case study at STMicroelectronics
auteur
H. Bush, Mickael Gardoni, Michel Tollenaere
article
15th International Conference on Management of Technology in China, IAMOT06, 2006, Pekin, China
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BibTex
titre
Appying PIFA: process Information and Functionality Analysis supporting the conception of a Knowledge Management System: case study STMicroelectronics
auteur
H. Bush, Mickael Gardoni, Michel Tollenaere
article
The International Multi-Conference of Engineers and Computer Scientists IMECS06, 2006, Hong Kong, China
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BibTex

2005

Journal articles

titre
La gestion coopérative des exigences du cycle de vie produit par la simulation numérique en conception
auteur
M. Aidi, Michel Tollenaere, H. Ben Bacha, Franck Pourroy, A. Maalej
article
Revue Internationale de CFAO et d'informatique graphique et d'informatique graphique, Hermès, 2005, 18 (4), pp.505-520
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BibTex
titre
Modular and Platform methods for product family design: Literature review
auteur
J.-A. Flores, Michel Tollenaere
article
Journal of Intelligent Manufacturing, Springer Verlag (Germany), 2005, 16 (3)
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Conference papers

titre
Platform design for product family development
auteur
A. Jose Flores, Michel Tollenaere
article
6ème Congrès International de Génie Industriel, 2005, Besançon, France
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BibTex
titre
Optimisation du processus de gestion des modifications de produits
auteur
H. Omri, Michel Tollenaere
article
9ème Colloque national sur la conception mécanique intégrée - PRIMECA, 2005, La Plagne, France
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BibTex
titre
Improving collaborative design tools in automotive industry: a case study
auteur
S. Mathelin, Jean-François Boujut, Michel Tollenaere
article
15th International Conference on Engineering Design - ICED, 2005, Melbourne, Australia
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BibTex
titre
Optimisation of platforms for product family development
auteur
A. Jose Flores, Michel Tollenaere
article
17 International Association for Mathematics and Computers in Simulation - IMACS, 2005, Paris, France
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BibTex
titre
Difficultés et proposistions pour la capitalisation des connaissances dans l'objectif d'une réutilisation pour la gestion des expériences
auteur
H. Bush, Mickael Gardoni, Michel Tollenaere
article
9ème Colloque national sur la conception mécanique intégrée - PRIMECA, 2005, La Plagne, France
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BibTex
titre
Product Change Process Management within industrial companies by value management approach
auteur
H. Omri, Michel Tollenaere
article
2nd International Conference on Product Lifecycle Management - PLM, 2005, Lyon, France
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2003

Book sections

titre
Performances in Engineering Change Management
auteur
Arnaud Rivière, Catherine da Cunha, Michel Tollenaere
article
Gogu, G. and Coutellier, D. and Chedmail, P. and Ray P. Recent Advances in Integrated Design and Manufacturing in Mechanical Engineering, Kluwer Academic Publishers, pp.369-378, 2003
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