2014
Article dans une revue
- titre
- 90 nm SRAM Static and Dynamic Mode Real-Time Testing at Concordia Station in Antarctica
- auteur
- Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Philippe Cocquerez, Jean-Luc Autran, Antonio Litterio, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
- article
- IEEE Transactions on Nuclear Science, 2014, 61 (6), pp.3389-3394. ⟨10.1109/TNS.2014.2363120⟩
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-
- titre
- Evaluating a Radiation Monitor for Mixed-Field Environments based on SRAM Technology
- auteur
- Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Julien Mekki, Markus Brugger, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
- article
- Journal of Instrumentation, 2014, 9 (5), pp.#C05052. ⟨10.1088/1748-0221/9/05/C05052⟩
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-
- titre
- Multiple Cell Upset Classification in Commercial SRAMs
- auteur
- Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Helmut Puchner, Christopher Frost, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
- article
- IEEE Transactions on Nuclear Science, 2014, 61 (4), pp.1747-1754. ⟨10.1109/TNS.2014.2313742⟩
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-
- titre
- An SRAM Based Monitor for Mixed-Field Radiation Environments
- auteur
- Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Julien Mekki, Markus Brugger, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
- article
- IEEE Transactions on Nuclear Science, 2014, 61 (4), pp.1663-1670. ⟨10.1109/TNS.2014.2299733⟩
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-
- titre
- A New Hybrid Fault-Tolerant Architecture for Digital CMOS Circuits and Systems
- auteur
- Ahn Duc Tran, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Arnaud Virazel, Serge Pravossoudovitch, Hans-Joachim Wunderlich
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2014, 30 (4), pp.401-413. ⟨10.1007/s10836-014-5459-3⟩
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-
- titre
- Intra-Cell Defects Diagnosis
- auteur
- Zhenzhou Sun, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Etienne Auvray
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2014, 30 (5), pp.541-555. ⟨10.1007/s10836-014-5481-5⟩
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-
Communication dans un congrès
- titre
- Real-Time Testing of 90nm COTS SRAMs at Concordia Station in Antarctica
- auteur
- Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Philippe Cocquerez, Jean-Luc Autran, Antonio Litterio, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
- article
- NSREC: Nuclear and Space Radiation Effects Conference, Jul 2014, Paris, France
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-
- titre
- A Delay Probability Metric for Input Pattern Ranking Under Process Variation and Supply Noise
- auteur
- Anu Asokan, Aida Todri-Sanial, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- ISVLSI: International Symposium on Very Large Scale Integration, Jul 2014, Tampa, FL, United States. pp.226-231, ⟨10.1109/ISVLSI.2014.42⟩
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-
- titre
- Path delay test in the presence of multi-aggressor crosstalk, power supply noise and ground bounce
- auteur
- Anu Asokan, Aida Todri-Sanial, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- DDECS: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2014, Warsaw, Poland. pp.207-212, ⟨10.1109/DDECS.2014.6868791⟩
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-
- titre
- Measuring the perception of men and women drivers among young adults
- auteur
- Karyn Pravossoudovitch, Béatrice Degraeve, François Cury, Marie-Axelle Granié, Cécile Martha
- article
- WIiT Paris 2014: Women's Issues in Transportation, 5th International Conference on Women's Issues in Transportation - Bridging the Gap, Apr 2014, Paris, France. 16p
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-
- titre
- Men and women drivers: a study of social representations through prototypical and correspondence analysis
- auteur
- Béatrice Degraeve, Marie-Axelle Granié, Karyn Pravossoudovitch
- article
- WIiT Paris 2014: Women's Issues in Transportation, 5th International Conference on Women's Issues in Transportation - Bridging the Gap, Apr 2014, Paris, France. 18p
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-
2013
Communication dans un congrès
- titre
- On the correlation between Static Noise Margin and Soft Error Rate evaluated for a 40nm SRAM cell
- auteur
- Elena Ioana Vatajelu, Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
- article
- DFT: Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, Oct 2013, New York, United States. pp.143-148, ⟨10.1109/DFT.2013.6653597⟩
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-
- titre
- SEU Monitoring in Mixed-Field Radiation Environments of Particle Accelerators
- auteur
- Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Julien Mekki, Markus Brugger, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
- article
- RADECS: Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2013, Oxford, United Kingdom. pp.1-4, ⟨10.1109/RADECS.2013.6937419⟩
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-
- titre
- Multiple-Cell-Upsets on a commercial 90nm SRAM in Dynamic Mode
- auteur
- Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Christopher Frost, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
- article
- RADECS: Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2013, Oxford, United Kingdom. pp.1-4, ⟨10.1109/RADECS.2013.6937429⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- SRAM Soft Error Rate Evaluation Under Atmospheric Neutron Radiation and PVT variations
- auteur
- Georgios Tsiligiannis, Elena Ioana Vatajelu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
- article
- IOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2013, Chania, Crete, Greece. pp.145-150, ⟨10.1109/IOLTS.2013.6604066⟩
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-
- titre
- Temperature Impact on the Neutron SER of a Commercial 90nm SRAM
- auteur
- Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Christopher Frost, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
- article
- NSREC: Nuclear and Space Radiation Effects Conference, Jul 2013, San Francisco, Ca, United States. pp.1-4
- Accès au bibtex
-
- titre
- Evaluating An SEU Monitor For Mixed-Field Radiation Environments
- auteur
- Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Julien Mekki, Markus Brugger, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
- article
- iWoRID: International Workshop on Radiation Imaging Detectors, SOLEIL Synchrotron, Jun 2013, Paris, France
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-
- titre
- Worst-Case Power Supply Noise and Temperature Distribution Analysis for 3D PDNs with Multiple Clock Domains
- auteur
- Aida Todri-Sanial, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- NEWCAS: New Circuits and Systems, Jun 2013, Paris, France. ⟨10.1109/NEWCAS.2013.6573628⟩
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-
- titre
- Characterization of an SRAM Based Particle Detector For Mixed-Field Radiation Environments
- auteur
- Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Julien Mekki, Markus Brugger, Jean-Roch Vaillé, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné
- article
- IWASI: International Workshop on Advances in Sensors and Interfaces, Jun 2013, Bari, Italy. pp.75-80, ⟨10.1109/IWASI.2013.6576070⟩
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-
Poster de conférence
- titre
- Investigating Multiple-Cell-Upsets on a 90mn SRAM
- auteur
- Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel
- article
- Colloque GDR SoC-SiP, 2013, Lyon, France. 2013
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-
2012
Article dans une revue
- titre
- Impact of Resistive-Bridging Defects in SRAM at Different Technology Nodes
- auteur
- Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2012, 28 (3), pp.317-329. ⟨10.1007/s10836-012-5291-6⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in ATMELtm eFlash Memories
- auteur
- Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Benoît Godard, Gilles Feste, Laurent Vachez
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2012, 28 (2), pp.215-228. ⟨10.1007/s10836-012-5277-4⟩
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-
Communication dans un congrès
- titre
- Advanced Test Methods for SRAMs
- auteur
- Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- VTS: VLSI Test Symposium, Apr 2012, Hyatt Maui, HI, United States. pp.300-301, ⟨10.1109/VTS.2012.6231070⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- Radiation Induced Effects on Electronic Systems and ICs
- auteur
- Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel
- article
- SETS: South European Test Seminar, Mar 2012, Sauze d'Oulx, Italy
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-
- titre
- Optimized March Test Flow for Detecting Memory Faults in SRAM Devices Under Bit Line Coupling
- auteur
- Leonardo B. Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- GDR SOC-SIP'11 : Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- A Hybrid Fault Tolerant Architecture for Robustness Improvement of Digital Circuits
- auteur
- Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Hans-Joachim Wunderlich
- article
- GDR SOC-SIP'11 : Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- Test and Reliability of Magnetic Random Access Memories
- auteur
- João Azevedo, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch
- article
- GDR SOC-SIP'11: Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- Robustness Improvement of Digital Circuits A New Hybrid Fault Tolerant Architecture
- auteur
- Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Hans-Joachim Wunderlich
- article
- JNRDM'11: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Paris, France
- Accès au bibtex
-
2011
Communication dans un congrès
- titre
- Mapping Test Power to Functional Power through Smart X-Filling for LOS Scheme
- auteur
- Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Mohammad Tehranipoor, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Nisar Ahmed
- article
- LPonTR'11: IEEE International Workshop on the Impact of Low Power on Test and Reliability, Trondheim, Norway
- Accès au bibtex
-
- titre
- A Hybrid Fault Tolerant Architecture for Robustness Improvement of Digital Circuits
- auteur
- Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Hans-Joachim Wunderlich
- article
- ATS 2011 - 20th IEEE Asian Test Symposium, Nov 2011, New Delhi, India. pp.136-141, ⟨10.1109/ATS.2011.89⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Failure Analysis and Test Solutions for Low-Power SRAMs
- auteur
- Leonardo B. Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Aida Todri-Sanial, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- ATS: Asian Test Symposium, Nov 2011, New Delhi, India. pp.459-460, ⟨10.1109/ATS.2011.97⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- Error Resilient Infrastructure for Data Transfer in a Distributed Neutron Detector
- auteur
- Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Miroslav Valka, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- DFT 2011 - International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, Oct 2011, Vancouver, Canada. pp.294-301, ⟨10.1109/DFT.2011.41⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- On Using Address Scrambling for Defect Tolerance in SRAMs
- auteur
- Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- International test Conference, Sep 2011, Anaheim, CA, United States. pp.1-8, ⟨10.1109/TEST.2011.6139149⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- On Using Address Scrambling to Implement Defect Tolerance in SRAMs
- auteur
- Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- ITC'2011: International Test Conference, Sep 2011, Anaheim, CA, United States. pp.N/A
- Accès au bibtex
-
- titre
- Power Supply Noise and Ground Bounce Aware Pattern Generation for Delay Testing
- auteur
- Aida Todri-Sanial, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- NEWCAS: International New Circuits and Systems Conference, Jun 2011, Bordeaux, France. pp.73-76, ⟨10.1109/NEWCAS.2011.5981222⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- Robust Structure for Data Collection and Transfer in a Distributed SRAM Based Neutron Test Bench
- auteur
- Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- Workshop on Dependability Issues in Deep-Submicron Technologies, Trondheim, Norway
- Accès au bibtex
-
- titre
- Simultaneous Power and Thermal Integrity Analysis for 3D Integrated Systems
- auteur
- Aida Todri-Sanial, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- LPonTR'11: IEEE International Workshop on the Impact of Low Power on Test and Reliability, Trondheim, Norway
- Accès au bibtex
-
- titre
- Variability Analysis of an SRAM Test Chip
- auteur
- Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- ETS: European Test Symposium, May 2011, Trondheim, Norway
- Accès au bibtex
-
- titre
- A Functional Power Evaluation Flow for Defining Test Power Limits during At-Speed Delay Testing
- auteur
- Miroslav Valka, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Eduardo Sanchez, Matteo Sonza Reorda
- article
- ETS 2011 - 16th IEEE European Test Symposium, May 2011, Trondheim, Norway. pp.153-158, ⟨10.1109/ETS.2011.21⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- On using a SPICE-like TSTAC™ eFlash model for design and test
- auteur
- Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Benoît Godard, Gilles Festes, Laurent Vachez
- article
- DDECS: Design and Diagnostics of Electronic Circuits ans Systems, Apr 2011, Cottbus, Germany. pp.359-370, ⟨10.1109/DDECS.2011.5783111⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- A Study of Path Delay Variations in the Presence of Uncorrelated Power and Ground Supply Noise
- auteur
- Aida Todri-Sanial, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- DDECS: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2011, Cottbus, Germany. pp.189-194, ⟨10.1109/DDECS.2011.5783078⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- Optimized March Test Flow for Detecting Memory Faults in SRAM Devices Under Bit Line Coupling
- auteur
- Leonardo B. Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- DDECS'11: 14th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits ans Systems, Netherlands. pp.353-358
- Accès au bibtex
-
- titre
- Test Relaxation and X-filling to Reduce Peak Power During At-Speed LOS Testing
- auteur
- Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Mohammad Tehranipoor, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Syed Zahid Ahmed
- article
- GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- Tolérance aux fautes et rendement de fabrication
- auteur
- Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Hans-Joachim Wunderlich
- article
- GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in Flash Memories
- auteur
- Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch
- article
- JNRDM'10 : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Montpellier, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash
- auteur
- Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Benoît Godard, Gilles Festes, Laurent Vachez
- article
- GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- Detecting NBTI Induced Failures in SRAM Core-Cells
- auteur
- Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- VTS'10: VLSI Test Symposium, Santa Cruz, CA, United States. pp.75-80
- Accès au bibtex
-
- titre
- Impact of Resistive-Bridging Defects in SRAM Core-Cell
- auteur
- Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- DELTA'10: International Symposium on Electronic Design, Test & Applications, Ho Chi Minh, Vietnam. pp.265-270
- Accès au bibtex
-
- titre
- A DfT Solution for Oxide Thickness Varitions in ATMEL eFlash Technology
- auteur
- Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Benoît Godard, Gilles Feste, Laurent Vachez
- article
- DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, 2011, Athènes, Greece
- Accès au bibtex
-
- titre
- Power Reduction Through X-filling of Transition Fault Test Vectors for LOS Testing
- auteur
- Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Mohammad Tehranipoor, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Nisar Ahmed
- article
- DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, 2011, Athènes, Greece. ⟨10.1109/DTIS.2011.5941434⟩
- Accès au bibtex
-
2010
Article dans une revue
- titre
- A Comprehensive Analysis of Transition Fault Coverage and Test Power Dissipation for LOS and LOC Schemes
- auteur
- Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Mohammad Tehranipoor, Xiaoqing Wen, Nisar Ahmed
- article
- Journal of Low Power Electronics, 2010, 6 (2), pp.359-374. ⟨10.1166/jolpe.2010.1086⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- A Comprehensive Framework for Logic Diagnosis of Arbitrary Defects
- auteur
- Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- IEEE Transactions on Computers, 2010, 59 (3), pp.289-300. ⟨10.1109/TC.2009.177⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- SoC Yield Improvement - Using TMR Architectures for Manufacturing Defect Tolerance in Logic Cores
- auteur
- Julien Vial, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch
- article
- International Journal On Advances in Systems and Measurements, 2010, 3 (1/2), pp.1-10
- Accès au bibtex
-
Communication dans un congrès
- titre
- An Exact and Efficient Critical Path Tracing Algorithm
- auteur
- Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Paolo Bernardi, Matteo Sonza Reorda
- article
- DELTA'10: Electronic Design, Test and Application, Vietnam. pp.164-169, ⟨10.1109/DELTA.2010.35⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- A Statistical Simulation Method for Reliability Analysis of SRAM Core-Cells
- auteur
- Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- DAC: Design Automation Conference, Jun 2010, Anaheim, United States. pp.853-856
- Accès au bibtex
-
- titre
- Power Reduction Through X-filling of Transition Fault Test Vectors for LOS Testing
- auteur
- Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Xiaoqing Wen
- article
- LPonTR:
Impact of Low-Power design on Test and Reliability, May 2010, Prague, Czech Republic
- Accès au bibtex
-
- titre
- Setting Test Conditions for Improving SRAM Reliability
- auteur
- Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- ETS: European Test Symposium, May 2010, Prague, Czech Republic. pp.257-262
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Analysis of Resistive-Bridging Defects in SRAM Core-Cells: a Comparative Study from 90nm down to 40nm Technology Nodes
- auteur
- Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- ETS: European Test Symposium, May 2010, Prague, Czech Republic. pp.132-137
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- A Two-Layer SPICE Model of the ATMEL TSTAC eFlash Memory Technology for Defect Injection and Faulty Behavior Prediction
- auteur
- Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Benoît Godard, Gilles Festes, Laurent Vachez
- article
- ETS: European Test Symposium, May 2010, Prague, Czech Republic. pp.81-86
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Analysis of Power Consumption and Transition Fault Coverage for LOS and LOC Testing Schemes
- auteur
- Wu Fangmei, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Junxia Ma, Wei Zhao, Mohammad Tehranipoor, Xiaoqing Wen
- article
- DDECS'10: 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2010, Vienna, Austria. pp.376-381
- Accès au bibtex
-
- titre
- A Memory Fault Simulator for Radiation-Induced Effects in SRAMs
- auteur
- Paolo Rech, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Luigi Dilillo
- article
- ATS: Asian Test Symposium, 2010, Shanghai, China. pp.100-105
- Accès au bibtex
-
- titre
- Setting Test Conditions for Detecting Faults Induced by Random Dopant Fluctuation in SRAM Core-Cells
- auteur
- Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- VARI: Workshop on CMOS Variability, 2010, Montpellier, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- A Comprehensive System-on-Chip Logic Diagnosis
- auteur
- Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Olivia Riewer
- article
- ATS: Asian Test Symposium, 2010, Shanghai, China. pp.237-242
- Accès au bibtex
-
Poster de conférence
- titre
- Parity Prediction Synthesis for Nano-Electronic Gate Designs
- auteur
- Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Hans-Joachim Wunderlich
- article
- ITC'2010: International Test Conference, Nov 2010, Austin, Texas, United States. pp.N/A, 2010
- Accès au bibtex
-
- titre
- Is Test Power Reduction Through X-Filling Good Enough?
- auteur
- Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Mohammad Tehranipoor, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Nisar Ahmed
- article
- ITC'2010: International Test Conference, Nov 2010, Austin, Texas, United States. 2010
- Accès au bibtex
-
Rapport
- titre
- TOETS CT302 - Programme CEE CATRENE - Summary Technical Report 2S-2009 - Rapport Technique de Fin d'année
- auteur
- Patrick Girard, Florence Azaïs, Serge Bernard, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Giorgio Di Natale, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
- article
- 2010
- Accès au bibtex
-
2009
Article dans une revue
- titre
- Is TMR Suitable for Yield Improvement ?
- auteur
- Julien Vial, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch
- article
- IET Computers & Digital Techniques, 2009, 3 (6), pp.581-592. ⟨10.1049/iet-cdt.2008.0127⟩
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-
- titre
- Analysis of Resistive-Open Defects in SRAM Sense Amplifiers
- auteur
- Alexandre Ney, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2009, 17 (10), pp.1556-1559. ⟨10.1109/TVLSI.2008.2005194⟩
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-
- titre
- A SPICE-Like 2T-FLOTOX Core-Cell Model for Defect Injection and Faulty Behavior Prediction in eFlash
- auteur
- Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2009, N/A, pp.127-144. ⟨10.1007/s10836-008-5096-9⟩
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-
Communication dans un congrès
- titre
- Delay Fault Diagnosis in Sequential Circuits
- auteur
- Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Olivia Riewer, Isabelle Izaute
- article
- ATS: Asian Test Symposium, Nov 2009, Taichung, Taiwan. pp.355-360
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-
- titre
- Trade-off Between Power Dissipation and Delay Fault Coverage For LOS and LOC Testing Schemes
- auteur
- Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Xiaoqing Wen
- article
- Impact of Low-Power Design on Test and Reliability, Spain
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-
- titre
- A New Design-for-Test Technique for SRAM Core-Cell Stability Faults
- auteur
- Alexandre Ney, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan, Vincent Gouin
- article
- DATE: Design, Automation and Test in Europe, Apr 2009, Nice, France. pp.1344-1348, ⟨10.1109/DATE.2009.5090873⟩
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-
- titre
- A Fault-Simulation-Based Approach for Logic Diagnosis
- auteur
- Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Luigi Dilillo
- article
- DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, Apr 2009, Cairo, Egypt. pp.216-221
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-
- titre
- An Efficient Fault Simulation Technique for Transition Faults in Non-Scan Sequential Circuits
- auteur
- Alberto Bosio, Paolo Bernardi, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Matteo Sonza Reorda
- article
- DDECS'09: 12th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Systems, pp.50-55
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-
- titre
- Comprehensive Bridging Fault Diagnosis based on the SLAT Paradigm
- auteur
- Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Arnaud Virazel, Serge Pravossoudovitch, Laroussi Bouzaida, Isabelle Izaute
- article
- DDECS'09: 12th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Systems, pp.264-269
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-
- titre
- A Case Study on Logic Diagnosis for System-on-Chip
- auteur
- Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Laroussi Bouzaida, Isabelle Izaute
- article
- ISQED 2009 - 10th International Symposium on Quality Electronic Design, Mar 2009, San Jose, CA, United States. pp.253-260, ⟨10.1109/ISQED.2009.4810303⟩
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-
- titre
- Using TMR Architectures for SoC Yield Improvement
- auteur
- Julien Vial, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch
- article
- VALID'09: The First International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle, 2009, Porto, Portugal. pp.155-160
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-
Ouvrages
- titre
- Advanced Test Methods for SRAMs - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
- auteur
- Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- Springer, 171 p., 2009, 978-1-4419-0937-4
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-
Poster de conférence
- titre
- Trade-off Between Power Dissipation and Delay Fault Coverage for LOS and LOC Testing Schemes
- auteur
- Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Xiaoqing Wen
- article
- GDR SOC SIP, France. 2009
- Accès au bibtex
-
- titre
- SRAM Core-cell Quality Metrics
- auteur
- Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- GDR SOC SIP, France. 2009
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-
- titre
- Test des Mémoires FLASH NAND
- auteur
- Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch
- article
- Colloque GDR SoC-SiP, France. 2009
- Accès au bibtex
-
- titre
- NAND Flash Testing: A Preliminary Study on Actual Defects
- auteur
- Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Benoît Godard
- article
- ITC: International Test Conference, Nov 2009, Austin, TX, United States. 2009, ⟨10.1109/TEST.2009.5355898⟩
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-
- titre
- A Logic Diagnosis Approach for Sequential Circuits
- auteur
- Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Laroussi Bouzaida, Isabelle Izaute
- article
- ETS 2009 - 14th IEEE European Test Symposium, May 2009, Sevilla, Spain. , 2009, Ph. D. Forum
- Accès au bibtex
-
- titre
- SoC Yield Improvement for Future Nanoscale Technologies
- auteur
- Julien Vial, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch
- article
- ETS 2009 - 14th IEEE European Test Symposium | PhD Forum, May 2009, Sevilla, Spain. 2009
- Accès au bibtex
-
- titre
- Analysis of Resistive-Bridging Defects in SRAM Core-Cell: Impact within the Core-Cell and in the Memory Array
- auteur
- Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine
- article
- ETS: European Test Symposium, May 2009, Sevilla, Spain. 14th IEEE European Test Symposium, 2009
- Accès au bibtex
-
Rapport
- titre
- Rapport Technique de fin de Contrat NanoTEST 2A702, Programme CEE MEDEA+
- auteur
- Patrick Girard, Serge Bernard, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
- article
- 2009
- Accès au bibtex
-
2008
Article dans une revue
- titre
- New March Elements for Address Decoder Open and Resistive Open Fault Detection in SRAM Memories
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- Journal of Integrated Circuits and Systems, 2008, 3 (1), pp.7-12. ⟨10.29292/jics.v3i1.276⟩
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-
- titre
- A Selective Scan Slice Encoding Technique for Test Data Volume and Test Power Reduction
- auteur
- Nabil Badereddine, Zhanglei Wang, Patrick Girard, Krishnendu Chakrabarty, Arnaud Virazel, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2008, 24 (4), pp.353-364. ⟨10.1007/s10836-007-5053-z⟩
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-
Communication dans un congrès
- titre
- Analyse des capacités de test de générateurs intégrés produisant des vecteurs adjacents
- auteur
- Arnaud Virazel, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch
- article
- Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, France. pp.88-91
- Accès au bibtex
-
- titre
- Case Study on Logic Diagnosis for Industrial Circuits
- auteur
- Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Laroussi Bouzaida, Isabelle Izaute
- article
- GDR SOC-SIP: System-On-Chip & System-In-Package, France
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-
- titre
- Améliorer le rendement grâce aux structures tolérantes aux fautes
- auteur
- Julien Vial, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- Journées des Doctorants de l'Ecole Doctorale I2S, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- A History-Based Technique for Faults Diagnosis in SRAMs
- auteur
- Alexandre Ney, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- Colloque GDR SoC-SiP, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- A History-Based Diagnosis Technique for Static and Dynamic Faults in SRAMs
- auteur
- Alexandre Ney, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- ITC'2008: International Test Conference, Oct 2008, Santa Clara, CA, United States. pp.1-10, ⟨10.1109/TEST.2008.4700555⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- Using TMR Architectures for Yield Improvement
- auteur
- Julien Vial, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- DFT'08: 23rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Oct 2008, pp.007-015
- Accès au bibtex
-
- titre
- Yield Improvement, Fault-Tolerance to the Rescue?
- auteur
- Julien Vial, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- IOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2008, Rhodes, Greece. pp.165-170, ⟨10.1109/IOLTS.2008.10⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Utilisation de structures tolérantes aux fautes pour augmenter le rendement
- auteur
- Julien Vial, Christian Landrault, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- JNRDM 2008 - 11e Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2008, Bordeaux, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- An SRAM Design-for-Diagnosis Solution Based on Write Driver Voltage Sensing
- auteur
- Alexandre Ney, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan, Vincent Gouin
- article
- VTS'08: VLSI Test Symposium, May 2008, San Diego, CA, USA, pp.89-94
- Accès au bibtex
-
- titre
- Impact of Technology Scaling on Defects and Parameter Deviations in Embedded SRAMs
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan, Vincent Gouin
- article
- VLSI Test Symposium, Apr 2008, San Diego, California, United States. pp.336
- Accès au bibtex
-
- titre
- SoC Symbolic Simulation: A Case Study on Delay Fault Testing
- auteur
- Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Paolo Bernardi
- article
- DDECS'08: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2008, Bratislava, Slovakia. pp.320-325
- Accès au bibtex
-
- titre
- Test Power: A Big Issue in Large SOC Design
- auteur
- Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch
- article
- IEEE International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, Christchurch, New Zeland, pp.447-449
- Accès au bibtex
-
- titre
- A Signature-based Approach for Diagnosis of Dynamic Faults in SRAMs
- auteur
- Alexandre Ney, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, Mar 2008, Tunis, Tunisia. pp.001-006, ⟨10.1109/DTIS.2008.4540243⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- A Design-for-Diagnosis Technique for SRAM Write Drivers
- auteur
- Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan, Vincent Gouin
- article
- DATE: Design, Automation and Test in Europe, Mar 2008, Munich, Germany. pp.1480-1485, ⟨10.1109/DATE.2008.4484883⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Improved Diagnosis Resolution without Physical Information
- auteur
- Alberto Bosio, Alexandre Rousset, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel
- article
- DELTA'08: International Symposium on Electronic Design, Test & Applications, Jan 2008, pp.210-215
- Accès au bibtex
-
- titre
- Tolérer Plus pour Fabriquer Plus
- auteur
- Julien Vial, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- Colloque GDR SoC-SiP, 2008, Paris, France
- Accès au bibtex
-
Poster de conférence
- titre
- SoC Yield Improvement: Redundant Architectures to the Rescue
- auteur
- Julien Vial, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- ITC'2008: International Test Conference, Oct 2008, Santa Clara, CA, United States. IEEE, pp.7, 2008
- Accès au bibtex
-
Rapport
- titre
- Contrat Nano TEST 2A702, Programme CEE MEDEA (Rapport Technique de fin d'année)
- auteur
- Patrick Girard, Serge Bernard, Alberto Bosio, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
- article
- 08026, 2008
- Accès au bibtex
-
- titre
- Contrat Nano TEST 2A702, Programme CEE MEDEA (Rapport Intermédiaire)
- auteur
- Patrick Girard, Serge Bernard, Alberto Bosio, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
- article
- 08027, 2008
- Accès au bibtex
-
2007
Article dans une revue
- titre
- Analysis and Test of Resistive-Open Defects in SRAM Pre-Charge Circuits
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2007, 23 (3), pp.435-444. ⟨10.1007/s10836-007-5003-9⟩
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-
Communication dans un congrès
- titre
- A Concurrent Approach for Testing Address Decoder Faults in eFlash Memories
- auteur
- Olivier Ginez, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Jean-Michel Daga
- article
- ITC'07: International Test Conference, paper 3.2
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Test des Mémoires Flash Embarquées : Analyse de la perturbation entre cellules FloTOx voisines durant une phase de programmation
- auteur
- Olivier Ginez, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Jean-Michel Daga
- article
- Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- Fast Bridging Fault Diagnosis using Logic Information
- auteur
- Alexandre Rousset, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- ATS: Asian Test Symposium, Oct 2007, Beijing, China. pp.33-38
- Accès au bibtex
-
- titre
- Influence of Threshold Voltage Deviations on 90nm SRAM Core-Cell Behavior
- auteur
- Magali Bastian Hage-Hassan, Vincent Gouin, Patrick Girard, Christian Landrault, Alexandre Ney, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- ATS 2007 - 16th IEEE Asian Test Symposium, Oct 2007, Beijing, China. pp.501-504, ⟨10.1109/ATS.2007.121⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- Méthode de diagnostic unifiée pour circuits intégrés numériques
- auteur
- Alexandre Rousset, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- Colloque du GDR SoC-SiP, Jun 2007, Paris, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- Resistive-Open Defect Influences in SRAM I/O Circuitry
- auteur
- Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- Colloque du GDR SoC-SiP, Jun 2007, Paris, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- Embedded Flash Testing
- auteur
- Olivier Ginez, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Jean-Michel Daga
- article
- Colloque du GDR SoC-SiP, Jun 2007, Paris, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- Test et testabilité de structures numériques tolérantes aux fautes
- auteur
- Julien Vial, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- Colloque du GDR SoC-SiP, Jun 2007, Paris, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- Electrical Simulation Model of the 2T-FLOTOX Core-Cell for Defect Injection and Faulty Behavior Prediction in eFlash Memories
- auteur
- Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. pp.77-82, ⟨10.1109/ETS.2007.20⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- Dynamic Two-Cell Incorrect Read Fault due to Resistive-Open Defects in the Sense Amplifiers of SRAMs
- auteur
- Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. pp.97-104, ⟨10.1109/ETS.2007.19⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- DERRIC: A Tool for Unified Logic Diagnosis
- auteur
- Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Alexandre Rousset, Arnaud Virazel
- article
- ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. pp.13-18, ⟨10.1109/ETS.2007.16⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- Un-Restored Destructive Write Faults due to Resistive-Open Defects in the Write Driver of SRAMs
- auteur
- Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- VTS 2007 - 25th IEEE VLSI Test Symposium, May 2007, Berkeley, CA, United States. pp.361-366, ⟨10.1109/VTS.2007.84⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- Retention and Reliability Problems in Embedded Flash Memories: Analysis and Test of Defective 2T-FLOTOX Tunnel Window
- auteur
- Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- VTS'07: 25th IEEE VLSI Test Symposium, May 2007, Berkeley, CA (USA), pp.47-52
- Accès au bibtex
-
- titre
- Slow Write Driver Faults in 65nm SRAM Technology: Analysis and March Test Solution
- auteur
- Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- DATE: Design, Automation and Test in Europe, Apr 2007, Nice, France. pp.528-533, ⟨10.1109/DATE.2007.364647⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- A Mixed Approach for Unified Logic Diagnosis
- auteur
- Alexandre Rousset, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- DDECS'07: IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2007, Krakow, Poland, pp.239-242
- Accès au bibtex
-
Chapitre d'ouvrage
- titre
- Scan Cell Reordering for Peak Power Reduction during Scan Test Cycles
- auteur
- Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault
- article
- VLSI-Soc: From Systems to Silicon, pp.267-281, 2007, 978-0-387-73661-7
- Accès au texte intégral et bibtex
-
Rapport
- titre
- Contrat NanoTEST 2A702 - Programme CEE MEDEA - Rapport Technique intermédiaire
- auteur
- Patrick Girard, Serge Bernard, Alberto Bosio, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
- article
- 2007
- Accès au bibtex
-
- titre
- Contrat NanoTEST 2A702 - Programme CEE MEDEA - Rapport Technique de fin d'année
- auteur
- Patrick Girard, Serge Bernard, Alberto Bosio, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
- article
- 2007
- Accès au bibtex
-
2006
Article dans une revue
- titre
- ADOFs and Resistive-ADOFs in SRAM Address Decoders: Test Conditions and March Solutions
- auteur
- Patrick Girard, Luigi Dilillo, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan, Simone Borri
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2006, 22 (3), pp.287-296. ⟨10.1007/s10836-006-7761-1⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- An Efficient BIST Architecture for Delay Faults in the Logic Cells of Symmetrical SRAM-Based FPGAs
- auteur
- Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Olivier Héron, Michel Renovell
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2006, 22 (2), pp.161-172. ⟨10.1007/s10836-005-4631-1⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- A Gated Clock Scheme for Low Power Testing of Logic Cores
- auteur
- Christian Landrault, Yannick Bonhomme, Arnaud Virazel, Patrick Girard, Loïs Guiller, Serge Pravossoudovitch
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2006, 22 (1), pp.89-99. ⟨10.1007/s10836-006-6259-1⟩
- Accès au bibtex
-
Communication dans un congrès
- titre
- Low Power Testing
- auteur
- Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- WRTLT'06: 7th Workshop on RTL and High Level Testing, Nov 2006, Fukuoka, pp.4
- Accès au bibtex
-
- titre
- Diagnostic Multi-Modèles des Circuits Logiques
- auteur
- Alexandre Rousset, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- MAJECSTIC'06: Manifestation des Jeunes Chercheurs STIC, Nov 2006, Lorient, France
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Power-Aware Test Data Compression for Embedded IP Core
- auteur
- Nabil Badereddine, Zhanglei Wang, Patrick Girard, Krishnendu Chakrabarty, Arnaud Virazel, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault
- article
- ATS 2006 - 15th IEEE Asian Test Symposium, Nov 2006, Fukuoka, Japan. pp.5-10, ⟨10.1109/ATS.2006.66⟩
- Accès au bibtex
-
- titre
- Structural-Based Power-Aware Assignment of Don't Cares for Peak Power Reduction during Scan Testing
- auteur
- Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel, Hans-Joachim Wunderlich
- article
- VLSI-SOC'06: 14th IFIP WG 10.5 International Conference on Very Large Scale Integration and System-on-Chip, Oct 2006, Nice (France), pp.403-408
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Unified Diagnostic Method Targeting Several Fault Models
- auteur
- Alexandre Rousset, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel
- article
- VLSI-SOC'06: 14th IFIP WG 10.5 International Conference on Very Large Scale Integration and System-on-Chip, Oct 2006, Nice, pp.53-55
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Unified Framework for Logic Diagnosis
- auteur
- Alexandre Rousset, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- EWDTW: East-West Design & Test Workshop, Sep 2006, Sochi, Russia. pp.47-52
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Embedded Flash Testing: Overview and Perspectives
- auteur
- Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, Sep 2006, Tunis, Tunisia. pp.210-215
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Minimizing Peak Power Consumption during Scan Testing: Test Pattern Modification with X Filling Heuristics
- auteur
- Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel, Hans-Joachim Wunderlich
- article
- DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, Sep 2006, Tunis, Tunisia. pp.359-364
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Minimizing Peak Power Consumption during Scan Testing: Structural Technique for Don't Care Bits Assignment
- auteur
- Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel, Hans-Joachim Wunderlich
- article
- PRIME'06: Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics, Jun 2006, Otranto, Italy, pp.65-68
- Accès au bibtex
-
- titre
- Technique Structurelle d'Affectation des Bits Non Spécifiés en Vue d'une Réduction de la Puissance de Pic Pendant le Test Série
- auteur
- Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel, Hans-Joachim Wunderlich
- article
- JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2006, Rennes, France
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Méthode unifiée de diagnostic ciblant l'ensemble des modèles de fautes
- auteur
- Alexandre Rousset, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2006, Rennes, France
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-
- titre
- An Overview of Failure Mechanisms in Embedded Flash Memories
- auteur
- Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Marylène Combe, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- VTS'06: VLSI Test Symposium, Apr 2006, Berkeley, CA, United States. pp.108-113
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-
- titre
- March Pre: an Efficient Test for Resistive-Open Defects in the SRAM Pre-charge Circuit
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Magali Bastian Hage-Hassan, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- DDECS'06: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2006, Prague, République Tchèque, pp.256-261
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-
Poster de conférence
- titre
- Failure Mechanisms due to Process Variations in Nanoscale SRAM Core-Cells
- auteur
- Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- ETS: European Test Symposium, May 2006, Southampton, United Kingdom. 11th IEEE European Test Symposium, 2006
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-
- titre
- Structural Power-Aware Assignment of Xs for Peak Power Reduction during Scan Testing
- auteur
- Christian Landrault, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine, Hans-Joachim Wunderlich
- article
- ETS: European Test Symposium, May 2006, Southampton, United Kingdom. 11th IEEE European Test Symposium, 2006
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-
Rapport
- titre
- Contrat NanoTEST 2A702, Programme CEE MEDEA+
- auteur
- Patrick Girard, Serge Bernard, Marie-Lise Flottes, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
- article
- 2006
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-
- titre
- Contrat NanoTEST 2A702 - Programme CEE MEDEA+
- auteur
- Patrick Girard, Serge Bernard, Marie-Lise Flottes, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
- article
- 2006
- Accès au bibtex
-
- titre
- Contrat NanoTEST 2A702, Programme CEE MEDEA +
- auteur
- Patrick Girard, Serge Bernard, Marie-Lise Flottes, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre, Arnaud Virazel
- article
- 2006
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-
2005
Article dans une revue
- titre
- Delay Fault Testing of Look-Up Tables in SRAM-Based FPGAs
- auteur
- Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2005, 21 (1), pp.43-55. ⟨10.1007/s10836-005-5286-7⟩
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-
- titre
- Efficient March Test Procedure for Dynamic Read Destructive Fault Detection in SRAM Memories
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2005, 21 (5), pp.551-561. ⟨10.1007/s10836-005-1169-1⟩
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-
- titre
- Analysis of Dynamic Faults in Embedded-SRAMs: Implications for Memory Test
- auteur
- Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2005, 21 (2), pp.169-179. ⟨10.1007/s10836-005-6146-1⟩
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-
Communication dans un congrès
- titre
- Power-Aware Scan Testing for Peak Power Reduction
- auteur
- Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault
- article
- VLSI-SOC'05: IFIP International Conference on Very Large Scale Integration, Oct 2005, Perth, Australia. pp.441-446
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-
- titre
- Controlling Peak Power Consumption During Scan Testing: Power-Aware DfT and Test Set Perspectives
- auteur
- Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault
- article
- PATMOS: Power And Timing Modeling, Optimization and Simulation, Sep 2005, Leuven, Belgium. pp.540-549, ⟨10.1007/11556930_55⟩
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-
- titre
- Resistive-Open Defect Injection in SRAM Core-Cell: Analysis and Comparison Between 0.13 um and 90 nm Technologies
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- DAC: Design Automation Conference, Jun 2005, Anaheim, CA, United States. pp.857-862
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-
- titre
- Resistive-Open Defect Influence in SRAM Pre-Charge Circuits: Analysis and Characterization
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- ETS: European Test Symposium, May 2005, Tallinn, Estonia. pp.116-121, ⟨10.1109/ETS.2005.33⟩
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-
- titre
- Resistive-Open Defect Injection in SRAM Core-Cell: Analysis and Comparison between 0.13μm and 90nm Technologies
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- DAC: Design Automation Conference, May 2005, Anaheim, CA, United States. pp.857-862, ⟨10.1145/1065579.1065804⟩
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-
- titre
- Analyse et Réduction de la Puissance de Pic durant le Test Série
- auteur
- Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault
- article
- JNRDM 2005 - 8e Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, Paris, France
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-
- titre
- Incidence des Défauts Résistifs dans les Circuits de Précharge des Mémoires SRAM
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- JNRDM 2005 - 8e Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, Paris, France
- Accès au bibtex
-
- titre
- Data Retention Fault in SRAM Memories: Analysis and Detection Procedures
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- VTS 2005 - 23rd IEEE VLSI Test Symposium, May 2005, Palm Springs, CA, United States. pp.183-188, ⟨10.1109/VTS.2005.37⟩
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-
- titre
- Peak Power Consumption During Scan Testing: Issue, Analysis and Heuristic Solution
- auteur
- Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel
- article
- DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2005, Sopron, Hungary. pp.151-159
- Accès au bibtex
-
- titre
- Efficient Test of Dynamic Read Destructive Faults in SRAM Memories
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- LATW: Latin American Test Workshop, Mar 2005, Salvador, Bahia, Brazil. pp.40-45
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-
2004
Article dans une revue
- titre
- Power-Driven Routing-Constrained Scan Chain Design
- auteur
- Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Loïs Guiller, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch
- article
- Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2004, 20 (6), pp.647-660. ⟨10.1007/s10677-004-4252-2⟩
- Accès au bibtex
-
Communication dans un congrès
- titre
- Resistive-Open Defects in Embedded-SRAM Core Cells: Analysis and March Test Solution
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- ATS: Asian Test Symposium, Nov 2004, Kenting, Taiwan. pp.266-271
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-
- titre
- BIST of Delay Faults in the Logic Architecture of Symmetrical FPGAs
- auteur
- Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell
- article
- IOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2004, Madeira Island, Portugal. pp.187-192, ⟨10.1109/OLT.2004.1319686⟩
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-
- titre
- Dynamic Read Destructive Faults in Embedded-SRAMs: Analysis and March Test Solution
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. pp.140-145
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Manufacturing-Oriented Testing of Delay Faults in the Logic Architecture of Symmetrical FPGAs
- auteur
- Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell
- article
- ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. pp.117-122
- Accès au bibtex
-
- titre
- Test March pour la Détection des Fautes Dynamiques dans les Décodeurs de Mémoires SRAM
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- JNRDM'04 : 7ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2004, Marseille, France. pp.495-497
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- March iC-: An Improved Version of March C- for ADOFs Detection
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri
- article
- VTS: VLSI Test Symposium, Apr 2004, Napa Valley, CA, United States. pp.129-134, ⟨10.1109/VTEST.2004.1299236⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- March Tests Improvements for Address Decoder Open and Resistive Open Fault Detection
- auteur
- Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, Magali Bastian Hage-Hassan
- article
- LATW: Latin American Test Workshop, Mar 2004, Cartagena, Colombia. pp.31-36
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- Design of Routing-Constrained Low Power Scan Chains
- auteur
- Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Loïs Guiller, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- DATE: Design, Automation and Test in Europe, Feb 2004, Paris, France. pp.62-67, ⟨10.1109/DATE.2004.1268828⟩
- Accès au texte intégral et bibtex
-
- titre
- High Quality TPG for Delay Faults in Look-Up Tables of FPGAs
- auteur
- Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell
- article
- DELTA'04: 2nd International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, Jan 2004, Perth (Australia), pp.83-88
- Accès au bibtex
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- titre
- Design of Routing-Constrained Low Power Scan Chains
- auteur
- Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Loïs Guiller, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
- article
- DELTA: Electronic Design, Test and Applications, Jan 2004, Perth, Australia. pp.287-292, ⟨10.1109/DELTA.2004.10009⟩
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Ouvrages
- titre
- Test de Circuits et de Systèmes Intégrés
- auteur
- Florence Azaïs, Serge Bernard, Yves Bertrand, Marie-Lise Flottes, Patrick Girard, Christian Landrault, Laurent Latorre, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell, Bruno Rouzeyre
- article
- Collection EGEM, Ed.Hermès, 2004, 2-7462-0864-4
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Rapport
- titre
- Advanced Solutions for Innovative SOC Testing in Europe
- auteur
- Patrick Girard, Michel Renovell, Serge Bernard, Marie-Lise Flottes, Serge Pravossoudovitch, Bruno Rouzeyre
- article
- 2004
- Accès au bibtex
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