Publications HAL de benjamin,viale de la collection AMPERE

Article dans une revue

2019

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Benjamin Viale, Bruno Allard. Scalable and Versatile Design Guidance Tool for the ESD Robustness of Integrated Circuits -Part II. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 2019, pp.1-1. ⟨10.1109/TCAD.2019.2962119⟩. ⟨hal-02424330⟩
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Benjamin Viale, Bruno Allard. Scalable and Versatile Design Guidance Tool for the ESD Robustness of Integrated Circuits -Part I. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 2019, pp.1-1. ⟨10.1109/TCAD.2019.2962120⟩. ⟨hal-02424335⟩
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Communication dans un congrès

2014

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Benjamin Viale, Bruno Allard, Philippe Galy, Mathieu Fer. Automatisation de la vérification du réseau ESD sur silicium : un enjeu majeur pour les circuits intégrés en technologies CMOS avancées. Symposium de Génie Electrique (SGE'14), Jul 2014, Cachan, France. ⟨hal-01065226⟩
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https://hal.science/hal-01065226/file/Symposium_SGE2014_MFER_BVIALE_ver2_0.pdf https://hal.science/hal-01065226/file/SGE_2014_Article_Final_Benjamin_Viale.pdf BibTex