Communication dans un congrès
2018
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- Quentin Molin, Mehdi Kanoun, Christophe Raynaud, Hervé Morel. Robustness study of 1700 V 45 mΩ SiC MOSFETs. 2018 IEEE ICIT, Feb 2018, Lyon, France. ⟨10.1109/ICIT.2018.8352285⟩. ⟨hal-01942728⟩
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- Quentin Molin, Christophe Raynaud, Mehdi Kanoun, Hervé Morel. Repetitive short-circuit measurement on SiC MOSFET. ECSCRM'18, Sep 2018, Birmingham, United Kingdom. ⟨hal-01980834⟩
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